手机可靠性测试标准

1、可靠性测试标准1 、 目的此可靠性测试标准的目的是尽可能的挖掘设计、制造过程中潜 在的问题，在正式投产之前找到改善的方法并解决上述问题点， 为 正式生产在产品质量上作必要的保证； 并检测产品是否具备设计上 的成熟性， 使用上的可靠性。 具体包括新产品的实验， 物料的实验 以及例行抽检实验等。2、 适用范围 此标准只适合辉烨通讯技术有限公司生产的移动通讯产品。3、 可靠性测试项目及方法3.1 高温储存试验试验目的：检验产品在高温环境条件下存储的适应性。 试验设备：恒温恒湿试验箱试验样机： 24PCS试验内容：试验样机带电池及电池后盖，不插 SIM 卡关机状态 以正常位置放进试验箱内。 使试验箱在

2、 30 分钟内温 度达到70士 2 C,温度稳定后持续48小时。持续期 满后将试验样机在正常大气条件下放置 2 小时，之 后对试验样机进行试验后检查。判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。3.2 低温储存试验试验目的：检验产品在低温环境条件下存储的适应性。试验设备：恒温恒湿试验箱试验样机：24PCS试验内容：试验样机（需包装）带电池及电池后盖，不插 SIM卡关机状态以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到-20 士 3 C,温度稳定后持续 48小时。持续期满后将试验样机在正常大气条件下放置 2 小时，之后对试验样机进行试验后检查。判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。3

3、.3 高温工作试验试验目的：检验产品在高温环境条件下使用的适应性试验设备：恒温恒湿试验箱试验样机：24PCS试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上 SIM 卡及 T 卡， 处于待机状态（滑 /翻盖处于打开状态） ，以正常位 置放进试验箱内。使试验箱在 30 分钟内温度达到 55士 2C,温度稳定后持续8小时。持续期满后立即 对测试样机进行试验后检查。判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。3.4 低温工作试验试验目的：检验产品在低温环境条件下使用的适应性试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机： 24PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上 SIM 卡及 T 卡， 处于待机状态（滑 /

4、翻盖处于打开状态） ，以正常位 置放进试验箱内。使试验箱在 30 分钟内温度达到 -20 士 3 C,温度稳定后持续8小时。持续期满后立 即对测试样机进行试验后检查。判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。3.5 滑盖寿命试验试验目的：验证机壳材料、FPG滑轨的寿命以及滑盖组件结构 的配合寿命。试验设备：滑盖寿命测试机试验样机： 24PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上 SIM 卡，处于待 机状态；以 2535次/ 分的速度滑动滑盖， 来回为一 次；要求滑盖须达到最大活动位置及最小活动位置； 每 2万次进行外观功能全检。 试验总数为 10万次（出 货为 6 万次）。判定标准：滑

5、盖寿命至少 10 万次；外观和结构正常，未有明显 的裂纹/破损；无明显异常响声； 允许打开时有阻滞 感，打开滑盖后整个滑盖组件可前后左右轻微晃动； 必须通过基本功能测试。3.6 翻盖寿命试验试验目的：验证机壳材料、FPC转轴的寿命以及翻盖组件结构的配合寿命。试验设备：翻盖寿命测试机试验样机： 24PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM 卡，处于待机状态；以 2535次/ 分的速度翻动翻盖， 来回为一 次；要求翻盖须达到最大活动位置；每 2 万次进行 外观功能全检。试验总数为 10万次（出货为 6 万次）。判定标准： 翻盖寿命至少 10 万次；外观和结构正常， 未有明显 的裂纹/

6、 破损；无明显异常响声； 允许打开时有阻滞 感，打开翻盖后整个翻盖组件可前后左右轻微晃动； 必须通过基本功能测试。3.7 静电放电抗扰度试验试验目的：检验产品的抗静电性能试验设备：静电仪、综测仪试验样机： 24PCS试验内容：1）试验环境为温度15 35oC;湿度3060%RH2 ）试验时要求手机处于开机充电通话状态， 在正负 电压、带与不带充电器、 翻 / 滑盖闭合与滑开几种状 态下试验。3 ）对于裸露在机身表面的金属部分使用接触放电， 其他区域则使用空气放电; 每个测试点放电 10 次为 一组，共进行两组。4 ）空气放电标准为士 8KV接触放电标准为士 4KV。5 ）试验完毕检查手机的各项

7、基本功能， 并进行电性 能检查。判定标准：样机出现功能暂时性（失效时间大于 3 秒）或永久 性失效（故障不恢复）判为不合格。样机出现闪屏 或 3 秒内可自行恢复之故障判为合格。 样机出现射频对比测试数据异常（接收报告电平与 功率相差大于 3）判为不合格。样机出现严重外观 不良（ 如镜片及装饰牌等严重掉漆 ） ，应判定为不合 格。3.8 10 cm裸机微跌试验试验目的：检验产品在使用中产生轻微撞击的适应性。 试验设备：手机跌落测试机 试验样机： 24PCS试验内容：试验样机插SIM卡开机，翻/滑盖机闭合状态；跌落 面为铝板；跌落高度为10 cm；跌落方式：样机 6 个面每面跌落 500 次为一循

8、环，共 4 个循环；每完 成一个循环检查一次试验样机的外观及基本功能； 测试速度为 15 次/分；判定标准： 通过基本功能测试， 未有明显的裂纹 / 破损，内部无 零件松动或异常。3.9 1m 裸机跌落试验 试验目的：检验产品多次跌落的适应性 试验设备：手机跌落测试机 试验样机： 24PCS试验内容：试验样机插SIM卡处于通电待机状态，从1m高度（如果 LCM 面积超过手机表面积 60%，跌落高度为 50cm）,初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6个面，每个面跌落 2次，共 12 次（翻盖机型增加 跌翻盖打开 2 面， 8 个面共 16 次）；试验结束对试 验样机进行全面检测。判定标准： 通过基本功能测试， 未有明显的裂纹 / 破损，内部无 零件松动或异常。3.10 1.5m 裸机跌落试验试验目的：检验产品多次跌落的适应性 试验设备：手机跌落测试机试验样机： 24PCS试验内容：试验样机插SIM卡处于通电待机状态，从1.5m高度（如果 LCM 面积超过手机表面积 60%，跌落高度 为75