卡尺内校说明_第1页
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文档简介

1、TRonixin生效日期2012.04.15二阶文件编 号SOP-QR-122版本/次A/0卡尺内校作业指导书编制人黄民国审核人/批准人日期2012.04.15日期日期文件修改记录文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期SOP-QR-122A0/首次发行/TRonixin编 号SOP-QR-121页次1/2XRF佥测样品拆分原则版本/次A01.0目的:保证计量仪器的有效使用，确保产品实现过程的质量。2.0适用范围；本公司所有卡尺。3.0职责：品管部计量管理人员负责计量仪器的校准工作。相关使用部门配合计量管理人员进行校准工作。4.0校准方法：4.1校准项目及要求：量块（外校有效期

2、内）被检卡尺4.2校准条件与设备4 .2.1校准条件环境温度：1525C范围内，温度波动不超过土 3C/6h ；湿度：不大于75%RH .4.3校准过程外观：采用目视观测。目测外部是否有弯曲变形。检验卡尺游尺与本尺之间是否畅顺归零后检查卡尺内外量量爪测量面是否完全密合检查带表卡尺表针运行是否平稳、顺畅检查数显卡尺显示是否清晰4.4基本误差校准选取合适的标准量块分用被检卡尺测试量，记录测量结果。选取10mm量块用深度尺测量并记录测量结果4.5.测量结果判定依下表判断测量结果.卡尺内型允许误差游标卡尺 0.06深度土 0.02带表卡尺 0.04数显卡尺 0.04TRonixin编 号SOP-QR-121页次2/2XRF佥测样品拆分原则版本/次A04.5.2判断合格则贴合格标签，

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