接管与筒体或封头角接接头超声检测方法（完整版）

1、接管与筒体或圭寸头角接接头超声检测方法L.1范围L.1.1本附录规定了接管与筒体（封头）角接接头的超声检 测检测方法。L.1.2使用本附录应满足以下条件：a）对于插入式接管与筒体（或圭寸头）角接接头：1） 筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于250mm 且内外径比大于等于70%;2）接管公称直径大于等于 80mm。b）对于安放式接管与筒体（或圭寸头）角接接头：1） 筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于150mm ;2）接管公称直径大于等于 100mm。L.2接管与筒体（或封头）角接接头型式接管与筒体（或封头）角接接头型式有插入式、安放式等，见图L.1 oa）捶人式b）安放我图L.1接管与筒体（

2、或封头）角接接头型式L.3探头L.3.1检测时应确保探头与工件的稳定接触。L.3.2探头的选择探头的选择按636的规定执行。L.4仪器调节L.4.1斜探头入射点、折射角（K值）斜探头入射点、折射角（K值）的测量应选择在CSK-IA、CSK-IIA试块上进行，也可在 RB-L或RB-C试块上进行。L.4.2仪器时基线仪器时基线的调整应选择在 CSK-IA、CSK-IIA试块上进 行，也可在RB-L或RB-C试块上进行。L.4.3距离-波幅曲线L.4.3.1距离-波幅曲线的制作应在 CSK- n A试块上进行，距离-波幅曲线灵敏度按表27的规定执行。L.4.3.2 检测面曲率半径大于等于 50mm

3、250mm时，距离- 波幅曲线的灵敏度修正应在 RB-L或RB-C试块上进行。此时 应考虑不同检测位置，检测面曲率的变化导致声程等变化的 修正，包括：a）封头上锅筒体上的不同焊接接头；b）同一焊接接头的不同检测位置（相对于筒体轴线 偏转角的变化，接管在封头上不同位置引起的检测面曲率的 变化）。L.5检测L.5.1插入式接管与筒体（或封头）角接接头检测L.5.1.1当接管公称直径大于等于 250mm且接管内径大于等 于200mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头 移动区宽度按图N.3和表N.3进行。L. 5.1.2 当接管公称直径大于等于 80mm250mm时，角接 接头检测方法、探头

4、数量、检测面及探头移动区宽度按图N.3和表L.1进行，一般按技术等级 B级进行检测。表L.1插入式接管与筒体（或封头）角接接头超声检测的具体要求检 测 技 术 等 级工件厚度 t/mm纵向缺陷检测横向缺陷检测斜探头检测直探头检测斜探头横向扫查不同折射 角（K 值）探头数量检测 面（侧）探头 移动 区宽 度探头 位 置探头 移动 区宽 度不同折射角（K值）探 头数量检测面A6 t 151A1.25P15v t 401（A或B）和F1.25PdB6 t 1（A或1.251（X 和 丫）15B）或FP d或（W和Z）15v t 401（A或B）和F1.25Pd1（X 和 Y）或（W和Z）40 v t

5、2（A或B）和1.25Pab2（X 和 Y）或 1001Fd（W和Z）100 v t2（A或B）和0.75Pab2（X 和 Y）和 2001Fd（W和Z）C6 t 1（A或1.25ab1（X 和 Y）15B）和FP和（W和Z）15v t 402（A或B）和F1.25Pdab2（X 和 Y）和（W和Z）40 v t 1002（A或B）和F0.75Pdab2（X 和 Y）和（W和Z）a尽可能使用直探头在位置 C检测。当能使用直探头进行检测时，探头移动宽度为C。L.5.2安放式接管与筒体（或圭寸头）角接接头检测L.5.2.1当接管公称直径大于等于 250mm且筒体（或封头） 检测面曲率半径大于等于 250mm时，角接接头检测方法、探 头数量、检测面及探头移动区宽度按图 N.5和表N.5进行。L.5.2.2 当接管公称直径大于等于 100mm250mm且筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于 150mm时，角接接头检 测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图L.2和表L.2进行，一般按技术等级 B级进行检测。L.5.3扫查方法尽可能按639的规定执行。L.6缺陷定量缺陷定量按6.3.13的规定执行L.7缺陷评定缺陷评定按6.3.14的规定执行L.8质量分级接管与筒体（或封头）角焊接接头超声检测质量分级按6.5.1的规定执行说明：A、B、C、D、X、丫表