TP触摸屏可靠性测试标准

1、文件名称TP可靠性试验通用标准探探目录Index探探序号Item内容 Contents页 Page1目的22适用范围23参考文件24测试设备25部门职责26抽检方法及计划2-37测试要求3-5探探修改记录REVISION RECORD 探探版次/修改号Rev.修改内容 REVISION CONTENTS修改人 INITIATED日期 DateBYDATEA/0A/1拟定 INITIATED审核 CHECKED批准 APPROVED文件生效日期Inure Date文件名称TP可靠性试验通用标准1目的规范对TP厂生产的TP产品，执行必要的可靠性试验，监控工艺和品质的稳定性，及时发现品质缺陷重点改善

2、，以满足客户和设计对产品品质的要求。2适用范围3参考文件3.1国际电工委员会IEC60068-2环境试验及中华人民共和国国家标准GB/T2423电工电子产品环境试验系列标准；3.2本公司产品设计规范及客户对产品的规格要求等相关文件；3.3客户有特殊试验或测试要求时，先选用客户测试标准，但如客户标准严酷等级低于此标准，则依此标准执行。4测试设备试验设备：高温试验箱、低温试验箱、冷热冲击箱、恒温恒湿箱、跌落试验机、振动试验机、表面静压试验机、打点机、划线机、铅笔硬度计等。6抽检方法及计划6.1抽检对象:TP生产车间生产计划内，以工艺生产或岀货的TP产品。6.2抽检计划：6.1.1样品阶段：6.1.

3、1.1每款型号必须进行 7.1必行试验项目的测试（不包括包装震动试验项目）以及7.2选行项目中的高温保存（240H）、低温保存（240H）、高温高湿保存（240H）试验；6.1.1.2每款每次抽样数量：44PCS （不包括相关工程师特殊要求的测试项目数量）；6.1.2试产阶段：6.1.2.1每款型号必须进行 7.1必行试验项目的测试（不包括包装震动试验项目）以及7.2选行项目中的高温保存（240H）、低温保存（240H）、高温高湿保存（240H）试验；6.1.2.2每款抽样数量：44PCS （不包括相关工程师特殊要求的测试项目数量）；6.1.3量产阶段：6.1.3.1每款型号首次量产批次的产品

4、必须进行7.1必行试验项目的测试。测试后，高温保存（120H ）、低温保存（120H ）、高温高湿保存（120H ）的产品若为良品，可继续7.2选行项目中的高温保存（240H）、低温保存（240H）、高温高湿保存（240H）试验；若产品所用材料与其它已测试过的产品相同（不论型号），就 不必安排每个产品型号都做7.1必行试验项目中的打点试验、表面硬度试验，只需要每周安排一次即可（需要岀货的产品必须进行7.1必行试验项目中的包装震动试验）；6.1.3.2持续例行抽检本型号的其它批次的产品只需进行7.1必行试验项目中的高温保存（120H）、低温保存（120H）、高温高湿保存（120H）、冷热冲击试验

5、。6.1.3.3每款型号首次量产批号的抽检数量：29PCS （包括相同材料的产品每周必须抽检的数量）；6.1.3.4持续例行抽检本型号的其它批次的数量：20PCS ；文件名称TP可靠性试验通用标准6.1.4重要客尸型号的产品：6.141重要客户的型号产品必须进行7.1必行试验项目以及7.2选行试验项目;6.1.4.2每款抽样数量：根据打样情况抽取。7测试要求7.1必行试验项目若客户无特殊制定的测试要求，TP厂生产的产品（包括新样品，试产品和量产品 ）都必须要进行并且全部通过以下试验项目，以下试验项目是 TP厂生产产品的可靠性最终评价标准。序号测试项目测试条件抽样数量判定标准备注A-1高温保存8

6、0+/- 3C 120H5pcs试验后样品在周围环 境放置24H,测试线性 值W 1.5%,绝缘阻抗 20MQ，回路电阻在工 艺要求范围内为OK, 若超出工艺范围且电 阻变化率20%为NG外观不良线性良品A-2低温保存-40+/- 3C120H5pcs试验后样品在周围环 境放置24H,测试线性 值W 1.5%,绝缘阻抗 20MQ，回路电阻在工 艺要求范围内为OK, 若超出工艺范围且电 阻变化率20%为NG外观不良线性良品A-3咼温咼湿保存60+/- 3C 90+/ -3%RH 120H5pcs试验后样品在周围环 境放置24H,测试线性 值W 1.5%,绝缘阻抗 20MQ，回路电阻在工 艺要求范

7、围内为OK, 若超出工艺范围且电 阻变化率20%为NG外观不良线性良品A-4冷热冲击保存-40C 30min f 80C 30min 10cycle5pcs试验后样品在周围环 境放置24H,测试线性 值W 1.5%,绝缘阻抗 20MQ，回路电阻在工 艺要求范围内为OK, 若超出工艺范围且电 阻变化率20%为NG外观不良线性良品（可 与反应时间共用）A-5打点试验R0.8mm 60 的橡皮头；荷重：150g频率：3次/1秒 打点次数：100万次 打点区域：TP中心2pcs测试线性值W 1.5%,绝 缘阻抗20MQ，回路 电阻在工艺要求范围 内为OK,若超岀工艺 范围且电阻变化率20%为 NG外观

8、不良线性良品（但 外观不可有裂纹等）A-6划线试验R0.8mm的POM材质笔头；荷重： 150g 速度：60mm秒划线次数：10万次划线区域：AA区以内，距离 AA区边缘3mm2pcs测试线性值W 1.5%,绝 缘阻抗20MQ，回路 电阻在工艺要求范围 内为OK,若超岀工艺 范围且电阻变化率20%为 NG外观不良线性良品（但 外观不可有裂纹等）每2万次换一次笔头文件名称TP可靠性试验通用标准A-7表面硬度铅笔法荷重500g5pcs 3H外观、线性不良品A-8反应时间DC 5V5pcs 10ms外观不良线性良品（可 与冷热冲击保存共用）A-9包装震动10-55HZ 0.75mm 1H1箱测试线性

9、值W 1.5%,绝 缘阻抗20MQ，回路 电阻在工艺要求范围 内为OK若超岀工艺 范围且电阻变化率20%为 NG本试验项目只针对量产 品7.2选行试验项目对于TP厂生产的产品，可选择进行以下试验项目；除个别客户特殊要求以外，以下试验项目不作为对TP厂生产的TP成品可靠性的最终评价，仅作为TP厂内部试验对产品的评估参考。序号测试项目测试条件抽样数量判定标准备注B-1高温保存80+/- 3C 240H5pcs试验后样品在周围环 境放置24H,测试线性 值W 1.5%,绝缘阻抗 20MQ，回路电阻在工 艺要求范围内为 OK 若超出工艺范围且电 阻变化率20%为NG外观不良线性良品B-2低温保存-40

10、+/- 3C240H5pcs试验后样品在周围环 境放置24H,测试线性 值W 1.5%,绝缘阻抗 20MQ，回路电阻在工 艺要求范围内为 OK 若超出工艺范围且电 阻变化率20%为NG外观不良线性良品B-3咼温咼湿保存60+/- 3C 90+/ -3%RH 240H5pcs试验后样品在周围环 境放置24H,测试线性 值W 1.5%,绝缘阻抗 20MQ，回路电阻在工 艺要求范围内为 OK 若超出工艺范围且电 阻变化率20%为NG外观不良线性良品B-4钢球冲击试验dia 13mm钢球 从50cm处冲击膜面 2次5pcs试验后产品无破损， 变形及开裂等外观不良现象外观、线性不良品B-5表面静压测试下

11、压速度：10mm/min ； 4边缘支撑 16mm直径圆压头（r=20mm） ； 50N压力 1min在TP中心5pcs试验后产品无破损， 变形及开裂等外观不良现象外观、线性不良品B-6包装跌落76cm 4角,3边,6面各一次 坠落地面：大理石1箱测试线性值W 1.5%,绝 缘阻抗20MQ，回路 电阻在工艺要求范围 内为OK若超岀工艺 范围且电阻变化率20%为 NG本试验项目只针对量产 品文件名称TP可靠性试验通用标准B-7ESD表面士 15KV C:150pF R:150ohms5点，每点10次5pcs测试线性值W 1.5%,绝 缘阻抗20MQ，回路 电阻在工艺要求范围 内为OK若超岀工艺 范围且电阻变化率20%为 NG外观不良线性良品端子士 1KV C:100pF R:1500ohms4端每个端子3次5pcs测试线性值W 1.5%,绝 缘阻抗20MQ，回路电阻在工艺要求范围 内为OK若超岀工艺 范围且电阻变化率20%为 NG外观不良线性良品士 300V C:200pF R:0ohms4端每个端子5次5pcs测试线性值W 1.5%,绝 缘阻抗20MQ，回路电阻在工艺要求范围 内为OK若超岀工艺 范围且电阻变化率20%为 NG