京东方CellTest流程介绍

1、 cell test cell test 工艺介绍工艺介绍 制造制造testtest 何宝何宝 2007.92007.9月月 1.cell test入门 2.cell test不良分析 3.visual inspection spec. 1.1.制定良否的标准制定良否的标准 由工程师来制定良品还是不良品之间的标准，这一标准一丁 点的偏差都可能造成对众多panel定级上的错误，这是test工 作最重要的地方。 2.2.提高成品率：修理任务提高成品率：修理任务 量产过程中，成品率中有大约10的比例通过repair工序， 可见repair工作的重要性 3.及时反馈不良信息及时反馈不良信息 test在

2、制定了优劣的标准后重要的是及时将不良发生情况向 制造技术以及研发等相关部门沟通 1.cell test入门 cell testcell test任务任务 cell test 任务流程 cell test cell repair cell sorter cell testcutting module cell test 1st ct1st ct test 设备点灯 test 时所有不良检出： 电器性，目视性不良；确定 l/r address 并传 送panel grade 区分: p,s,t, q, repair, ng sortersorter 根据目的对混合的panel进行分类： l/r,

3、q级, e-ng, v-ng etc. laser repairlaser repair 在 laser 设备实施 repair，输入不良类型 data 2nd ct2nd ct判定l/r或rework 成功与否，区分可再次 repair 的panel，同时检出新不良 bubble reworkbubble reworkv-ngv-ng e-nge-ng 对小型bubble进行 加热以消除之 ct in shipping cutting scrap cell test flow:cell test flow: cell shipping 15100 cell test a p/s/t grad

4、e 1510415102 cell repair1 ng scrap 15105 cell rework pixel repair (p) no repair (h) y-rework p/s/t/q grade 15109 x-rework reliability 14110 visual inspection manual sampling (?) laser repair () 15106 other repair ( p) cell repair2 15103 ng bank r,s q/n grade pnl sorter 电算系统流程图 cell test设备 中所示，中所示，”c

5、ontact” button 控制设备控制设备 contact/align position; “align” realign 设备设备 重新重新contact 中所示，中所示，” button shift move ap 的的w/t,使使contact 状态达到最好状态达到最好,shift 单位分别单位分别 为为5m,10m；”start” 控制设备控制设备 running/pause 中所示，中所示，”uncontact” button 控制设备控制设备 contact/align position; “realign” 设备重新设备重新 contact 中所示，中所示，” button

6、shift move ap 的的w/t,使使contact 状态达到最好状态达到最好,shift 单位分别单位分别 为为5m,10m；”start” 控制设备控制设备 online/offline 中中”reset”为设备发生为设备发生error时，处理之后，时，处理之后， 点击使设备恢复到正常量产状态；进入其他点击使设备恢复到正常量产状态；进入其他 mode时，点击时，点击”pause” button 设备操作软件 align error时，进入时，进入unit mode，adjust 中的中的” 根据中间的数值，进行调整；根据中间的数值，进行调整； 左右旋转按钮即按照中间数值移动左右旋转按

7、钮即按照中间数值移动w/t v/w两两 个轴，旋转个轴，旋转w/t进行调整。进行调整。 *点击点击”contact”时，一定先点时，一定先点”realign” *注意使注意使w/t旋转时单位不要设的太大旋转时单位不要设的太大 *od value值不能太大值不能太大70um align error时，进入时，进入unit mode，adjust 中的中的” 根据中间的数值，进行调整；根据中间的数值，进行调整； 左右旋转按钮即按照中间数值移动左右旋转按钮即按照中间数值移动w/t v/w两两 个轴，旋转个轴，旋转w/t进行调整。进行调整。 *点击点击”contact”时，一定先点时，一定先点”ali

8、gnment” “emo” 作用：设备发生异常时，应及时按下作用：设备发生异常时，应及时按下 emo，按下后可使设备断电，停止所有马达的，按下后可使设备断电，停止所有马达的 运转，起到保护设备和操作人员免受伤害的作运转，起到保护设备和操作人员免受伤害的作 用。用。 注意：注意： 由于由于s/t tilting up/down 由气缸驱动，如该配由气缸驱动，如该配 件发生件发生error，“emo”不起作用，请一定注意！不起作用，请一定注意！ emo switch emo位置位置 safety sensor sub table侧侧 2ea work table侧侧 2ea 为了保证设备运行状态下

9、操作人员的安全，为了保证设备运行状态下操作人员的安全，c/t设备上都设置了设备上都设置了safety sensor。 当设备运行状态下，操作人员的任何部位或是任何物品进入感知区域就会触发报警，设当设备运行状态下，操作人员的任何部位或是任何物品进入感知区域就会触发报警，设 备停止运行，起到保证安全的作用。由于设备的突然停止会对硬件部件造成损伤，所以备停止运行，起到保证安全的作用。由于设备的突然停止会对硬件部件造成损伤，所以 应避免频繁触发应避免频繁触发safety sensor。 winforsys ui主界面 1 2 3 4 5 6 7 panel judge界面 注意注意:不要点不要点 错错

10、grade，以，以 及漏点、误点及漏点、误点 defect code cell test所有的不良判定都是在这个画面下进行的所有的不良判定都是在这个画面下进行的. 判级顺序为：判断判级顺序为：判断panel级别级别点击对应的点击对应的 reasoncode， mura level，如许，如许repair的上传地的上传地 址，址，把把code点在触摸屏点在触摸屏panel模拟区的相应位置上模拟区的相应位置上 最后点击最后点击result测试测试next panel。 back light pattern generator data sourcing gate scanning appearan

11、ce inspectionlighting inspection environment -. ambient temperature : 25 3 , -. humidity : 65 20% rh -. viewing distance : 30cm from the surface of the module -. viewing angle : 40 in horizontal direction, 25 in vertical direction -. ambient illumination : 1,000 200 lux (appearance), 200 50 lux (lig

12、hting)，300 50 lux (gray) method defectpolarize, broken, burr etc.pixel, line, mura, pol etc. 1000 200 lux visual insp. visual insp. inspector inspector cell test检查环境 30cm cell test测试范围: 检查用pattern no.patterndescription 1 1 checker sub2： pattern flicker检查 2 2 raster l0 : 电学性不良:亮点,do,go,dds,dgs,ggs,es

13、d line defect,slight line 异物性不良 zaratsuki类不良：align, p/t, domain l0 mura c/f类不良：pxl盲失，bm盲失，c/f p/t no.patterndescription 3 3 raster l60 : 电学性不良 mura类不良检查 异物性不良，黑白点，黑白gap 4 4 raster l125 : mura类不良检查 异物性不良，黑白点，黑白gap no.patterndescription 5 5 raster l188 : mura类不良检查 异物性不良，黑白点，黑白gap 6 6 raster l255 : red

14、, green, blue 灭点 mura类不良检查 no.patterndescription 7 7 red l127 : red 灭点，连续 red 色mura c/f类不良 8 8 red l255 : red 灭点，连续，red像素盲失 red 色mura c/f类不良 no.patterndescription 9 9 green l127 : green 灭点，连续 green 色mura c/f类不良 1010 green l255 : green 灭点，连续,green像素盲失 green 色mura c/f类不良 no.patterndescription 1111 blu

15、e l127 : blue 灭点，连续 blue 色mura c/f类不良 1212 blue l255 : blue 灭点，连续，blue像素盲失 blue 色mura c/f类不良 no.patterndescription 1313 address: 定位不良位置 panel需要repair时，传输坐标 1414 area : 不良map点击时，确定不良发生区域 根据不同尺寸panel会有区别 no.patterndescription 1515 windows: cross talk检查 zaratsuki align确认 remark.remark.根据根据testtest要求要求p

16、atternpattern会有变化会有变化 2.cell test点灯不良 不良的种类不良的种类 目视性不良目视性不良(visual defect)(visual defect) 电学性不良电学性不良(electrical defect)(electrical defect) 外观性不良外观性不良(appearance defect)(appearance defect) 2.1 目视性不良 u各种各种mura(mura(周边，垂直周边，垂直/ /水平线，水平线，rubbingrubbing，blockblock，obliqueoblique，未确认，未确认) ) u黑黑/ /白白gapgap

17、 u黑黑/ /白点白点 uparticle(particle(线性线性, , 圆形圆形, , 其他）其他） uscratch (tft, cf, cellscratch (tft, cf, cell内，内，touch)touch) uc/fc/f不良不良(bm(bm盲失，盲失，pixelpixel盲失，色盲失，色muramura，c/f p/t)c/f p/t) uzaratsuki (align, p/t, domainzaratsuki (align, p/t, domain，etc)etc) ububble (large, small, bubble (large, small, 不定形

18、不定形) ) useal leakseal leak uetc (bnu, contact miss, cell bent,etc (bnu, contact miss, cell bent,过充进，未充进过充进，未充进) ) mura mura 类不良类不良_gap_gap性性 现象：现象：panel panel 边缘泛白，边缘泛白，l60 l60 下视认性强下视认性强. . patternpattern：l60l60，l125l125 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：周边部产生原因：周边部gapgap异

19、常异常. . 周边周边muramura mura mura 类不良类不良_ _gapgap性性 现象现象:panel :panel 边缘泛白，边缘泛白，l0l0下视下视 认性强；指压后产生水波纹现象认性强；指压后产生水波纹现象. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：上视角：上视角 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因产生原因:seal:seal内或周边异物造内或周边异物造 成成gapgap异常异常. . 周边白周边白gapgap mura mura 类不良类不良_ _非非gapgap性性 现象：现象：d

20、ata3data3和和4 4、data6data6和和7 7之间白之间白 色带状色带状. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：属于产生原因：属于array muraarray mura，array array pattern non-uniformitypattern non-uniformity造成造成. . v-block murav-block mura mura mura 类不良类不良_ _非非gapgap性性 现象：短的平行斜线组现象：短的平行斜线组 p

21、atternpattern：l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：产生原因：rubbing rubbing 工程参数确认工程参数确认. . obliqueoblique mura mura 类不良类不良_ _非非gapgap性性 现象：现象：rubbingrubbing角方向的短线组，角方向的短线组， 以一定间隔发生以一定间隔发生. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：

22、产生原因：rubbing clothrubbing cloth上有上有 p/t.p/t. rubbing mura (a mode)rubbing mura (a mode) mura mura 类不良类不良_ _非非gapgap性性 现象：以一定间隔排列的长斜线现象：以一定间隔排列的长斜线 组组. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：产生原因：rubbing clothrubbing cloth接合接合 处的处的gapgap或设备震动等原因造成或设备震动等原因造

23、成. . rubbing mura (b mode)rubbing mura (b mode) mura mura 类不良类不良_ _非非gapgap性性 现象：现象：gategate侧的横向弱线组侧的横向弱线组. . patternpattern：l60l60，l125l125 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：解决中产生原因：解决中. 水平线水平线 mura (type 1)mura (type 1) mura mura 类不良类不良_ _非非gapgap性性 现象现象: gate : gate 侧的弱线

24、构成三角侧的弱线构成三角 形形. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：解决中产生原因：解决中. 水平线水平线 mura (type 2)mura (type 2) mura mura 类不良类不良_ _非非gapgap性性 现象：现象：panelpanel右侧黑色的条状不右侧黑色的条状不 良，通常伴有白条状的周边良，通常伴有白条状的周边muramura 发生发生. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正视：正视

25、 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：产生原因：rubbingrubbing工程时，工程时，tbatba （预倾角（预倾角) )在在glassglass的边缘比内部的边缘比内部 低，所以造成低，所以造成l/cl/c分子旋转不完分子旋转不完 全全. . 垂直黑线垂直黑线 muramura 现象：在中间灰度现象：在中间灰度l60l60下，下，gapgap部部 分的颜色与其他位置处相比较黑分的颜色与其他位置处相比较黑 或较白；指压后产生水波纹现象或较白；指压后产生水波纹现象. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正视

26、：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：产生原因：panelpanel受到挤压后受到挤压后 cell gapcell gap异常异常(eg. ps crack).(eg. ps crack). gap gap变厚产生白变厚产生白gapgap，变窄产生黑，变窄产生黑 gapgap；也有部分；也有部分gapgap由异物引起，由异物引起， gapgap中心可见异物性亮点中心可见异物性亮点. . 黑黑/ /白白gapgap 黑黑/ /白白gapgap 黑黑gapgap 白白gapgap 黑黑/ /白点白点 现象：黑色或白色的小斑点，多现象：黑色或白色的小斑点，多 为圆

27、形；形似为圆形；形似gapgap但是指压后没但是指压后没 有水波纹出现有水波纹出现. . patternpattern：l60l60，l125l125，l188l188 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：黑点产生原因：黑点主要为主要为pipi膜膜 dimpledimple性性pinholepinhole或或pipi膜划伤膜划伤引引 起；白点主要为起；白点主要为cellcell内异物、内异物、 spacer clusterspacer cluster、pipi损害和污染、损害和污染、 pi coatingpi

28、coating的不完全等因素导致的不完全等因素导致. . 黑黑/ /白点白点 现象：一般情况下造成亮点或连现象：一般情况下造成亮点或连 续，并且不良部分明显可见异物续，并且不良部分明显可见异物. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：产生原因：cellcell工程中的工程中的hard hard p/tp/t、lintlint和和organicorganic造成造成. . cellcell异物异物 cell cell 异物异物 现象：分为现象：分为tfttf

29、t表面表面scratch scratch 、cfcf 表面表面scratchscratch和和cellcell内内scratchscratch三三 种类型种类型. .三者均具有明显的方向性，三者均具有明显的方向性， 两端呈尖状两端呈尖状. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：可以通过观察产生原因：可以通过观察scratchscratch 处的处的bmbm是否完好来判断是否完好来判断scratchscratch是是 发生在发生在tfttft还是还是cf.c

30、f.工艺中工艺中tfttft基板基板 或或cfcf基板受到划伤基板受到划伤.assy.assy工程前工程前 多为多为pipi膜膜scratchscratch；成盒后多为；成盒后多为 cuttingcutting工程造成的表面工程造成的表面scratch.scratch. scratchscratch scratchscratch类类 cellcell内内 表面表面 现象：类似被手抹过的痕迹，甚现象：类似被手抹过的痕迹，甚 至是手印或指印至是手印或指印. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or

31、ngor ng 产生原因：产生原因：pi coatingpi coating后被手或后被手或 其他物品接触过其他物品接触过. . scratchscratch类类 touchtouch 现象：现象：bmbm盲失在黑色画面下显示盲失在黑色画面下显示 为白色的小亮点；为白色的小亮点；pixelpixel盲失部盲失部 分在相应的色分在相应的色patternpattern下也显示下也显示 为白色为白色. . patternpattern：lolo，r r，g g，b b view angleview angle：正视：正视 gradegrade：一般情况下可根据异物：一般情况下可根据异物 标准进行判断

32、，标准进行判断，goodgood、q q级级 or or ng.ng. 产生原因：大部分为产生原因：大部分为c/fc/f原材料原材料 不良不良. .但但bmbm和和pixelpixel盲失同时出现盲失同时出现 时，时，cfcf被被scratchscratch的可能性很大的可能性很大. . c/fc/f类类 bm bm 盲失盲失pixel pixel 盲失盲失 现象：色现象：色patternpattern下，不良区域下，不良区域 的颜色明显与其它区域不同的颜色明显与其它区域不同. . patternpattern：r r，g g，b b view angleview angle：正视：正视 gr

33、adegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：产生原因：c/fc/f原材料不良原材料不良. . 色色mura (red)mura (red) c/fc/f类类 现象：现象：r r，g g，b b的小亮点，多发生的小亮点，多发生 于于panelpanel的边角和中心位置的边角和中心位置. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 发生原因：在发生原因：在rubbing rubbing 工艺进行工艺进行 时由于时由于 rubbing clothrubbing cloth的摩擦产的摩擦产 生

34、的较小的生的较小的pipi膜碎屑导致膜碎屑导致. . zaratsukizaratsuki类类 zaratsuki p/tzaratsuki p/t 现象：满屏绿色毛绒状，正视几乎现象：满屏绿色毛绒状，正视几乎 不可见不可见. . patternpattern：l60l60 view angleview angle：侧视角可视性强：侧视角可视性强 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因产生原因:rubbing:rubbing深度过浅致使此深度过浅致使此 处处pipi层的取向力减弱导致不良发生层的取向力减弱导致不良发生. . 由于由于c/fc/f上绿色的亚像素高度最高，

35、上绿色的亚像素高度最高， 且多发生于且多发生于green pxlgreen pxl的边角处的边角处. . zaratsukizaratsuki类类 zaratsuki domainzaratsuki domain 现象：现象：l0l0处漏光现象，处漏光现象，部分位置发部分位置发 白白pixelpixel周边部存在漏光现象，有周边部存在漏光现象，有 视角依赖性视角依赖性. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：q q级级 or ngor ng 产生原因：产生原因：tfttft和和cfcf在在assy assy al

36、ignalign时发生时发生missmiss；array ito cdarray ito cd 大或大或cf bmcf bm过窄过窄. . zaratsukizaratsuki类类 zaratsuki alignzaratsuki align 现象：不点灯即可见，变换画面现象：不点灯即可见，变换画面 始终为黑色始终为黑色. . patternpattern：全部：全部 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：ngng 产生原因：产生原因：assy alignassy align工程中工程中 基板间存在基板间存在airair或或n n2 2气泡气泡. . bu

37、bblebubble类类 lc bubblelc bubble（l l） 现象：不点灯即可见，变换画面始现象：不点灯即可见，变换画面始 终为黑色终为黑色. . patternpattern：全部：全部 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：ng (8mmng (8mm可进行可进行reworkrework） 产生原因：产生原因：assy alignassy align工程中基工程中基 板间存在板间存在vac.vac. bubblebubble类类 lc bubblelc bubble（s s） 现象：不点灯即可见，变换画面现象：不点灯即可见，变换画面 始终为

38、黑色始终为黑色. . patternpattern：全部：全部 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：ng(8mmng(8mm可进行可进行reworkrework） 产生原因：产生原因：assy alignassy align工程中工程中 基板间存在基板间存在vac.vac. bubblebubble类类 lc bubblelc bubble（不定型）（不定型） 现象：现象：panelpanel四周不规则树支状，四周不规则树支状， 多呈深绿色或黑色；不点灯也可见多呈深绿色或黑色；不点灯也可见. . patternpattern：全部：全部 view ang

39、leview angle：正视：正视 gradegrade：ngng 产生原因：由于产生原因：由于sealant sealant dispensedispense后到后到uv cureuv cure间隔过长造间隔过长造 成成l/cl/c与与sealantsealant接触或是接触或是sealantsealant 的宽窄不均导致部分断开，空气冲的宽窄不均导致部分断开，空气冲 入也会造成入也会造成seal leak.seal leak. seal leakseal leak upixel(pixel(亮点、灭点、连续亮点、灭点、连续) ) uline defect (y-line defect (

40、y-向，向，x-x-向向) ) udodo ugogo uddsdds uggsggs udgsdgs uslight line (y-slight line (y-向，向，x-x-向向) ) uesdesd uarray array 其他其他 2.22.2电学性不良电学性不良 现象：现象：l0l0，6060下以像素为单位的下以像素为单位的 亮点；亮点；l255l255下下r r，g g，b b下对应的下对应的 像素暗点像素暗点. .分为个数、连续和间分为个数、连续和间 距三种类型距三种类型. . patternpattern：l0l0，l60l60；r r，g g，b b view angl

41、eview angle：正视：正视 gradegrade：s s，t t，q q级级 or ngor ng 产生原因：产生原因：arrayarray不良（不良（gategate、 s/ds/d、activeactive、itoito等）和等）和cellcell内内 异物、异物、scratchscratch等造成等造成. . pixelpixel类类 暗点暗点 暗点暗点3 3连续连续 亮点亮点 亮点亮点4 4连续连续 现象：现象：x x向或向或y y向亮线向亮线. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：ngng 产

42、生原因：产生原因：padpad部部lineline间间openopen或或 shortshort；array metal remainarray metal remain， cellcell内金属异物、内金属异物、c/fc/f突起引起突起引起 上下间上下间shortshort、common short.common short. line defectline defect y y向向l/dl/d x x向向l/dl/d 现象：现象：datadata线从中间断开线从中间断开. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正视：正视 gradegrade

43、：ngng 产生原因：产生原因：chemical attackchemical attack、 array photoarray photo工程的工程的prpr原形原形openopen， 其他其他p/tp/t及及scratchscratch等造成；在等造成；在 array cvd repairarray cvd repair如果如果dgsdgs没有维没有维 修成功也可能会造成修成功也可能会造成do.do. dodo 现象：现象：gategate线从中间断开线从中间断开. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：ng

44、ng 产生原因：产生原因：chemical attackchemical attack、 array photoarray photo工程的工程的prpr原形原形openopen， 其他其他p/tp/t及及scratchscratch等造成等造成. . gogo 现象：现象：datadata和和gate crossgate cross状亮状亮. . 线，交叉部分可见异物线，交叉部分可见异物 patternpattern：l0l0 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：ngng 产生原因：产生原因：shortshort处的金属处的金属 remainremai

45、n或导电或导电p/tp/t造成造成. . dgsdgs 现象：一般为现象：一般为gategate向相邻的一条向相邻的一条 亮线和一条暗线亮线和一条暗线. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：ngng 产生原因：产生原因：padpad部或部或fan-outfan-out部部 scratchscratch、p/tp/t及及array remainarray remain引引 起起padpad间间short.short. ggsggs 现象：一般为现象：一般为datadata向相邻的一条向相邻的一条 亮线和一条暗线亮

46、线和一条暗线. . patternpattern：l0l0 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：ngng 产生原因：产生原因：padpad部或部或fan-outfan-out部部 scratchscratch、p/tp/t及及array remainarray remain引引 起起padpad间间short.short. ddsdds 现象：浅灰色亮或暗线，灰度不现象：浅灰色亮或暗线，灰度不 均，有的部分很不明显均，有的部分很不明显. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：正视：正视 gra

47、degrade：ngng 产生原因：产生原因：esdesd造成造成datadata和和repair repair lineline短接或者在短接或者在repairrepair工序对工序对dodo 没有维修成功也可能造成弱线没有维修成功也可能造成弱线. . slight lineslight line y y向向 x x向向 现象：主要为现象：主要为gategate或或data paddata pad处发处发 生白色或黑色楔形连续亮点，部分生白色或黑色楔形连续亮点，部分 esdesd也可能会造成也可能会造成line defectline defect；对；对 vghvgh和和vglvgl调定敏感

48、调定敏感. . patternpattern：l0l0，l60l60 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：发生即：发生即ngng 产生原因：工程中的产生原因：工程中的tfttft器件发生器件发生 静电击穿，多发于静电击穿，多发于padpad部部. .合理设置合理设置 ionizerionizer及设备接地，减少人手触及设备接地，减少人手触 摸摸padpad部可减小部可减小esdesd的发生机率的发生机率. . esdesd esdesd upad pad 部破损部破损(gate pad & data pad)(gate pad & data pad) u

49、align mark align mark 破损破损(#1,#2,#3)(#1,#2,#3) uolb olb 破损破损 ucf cf 破损破损 uburrburr ucrack(tft & cf)crack(tft & cf) u外观其他外观其他(pad(pad变色、变色、id id 破损、破损、over grinding,e/g missover grinding,e/g miss等等) ) 2.32.3目视性不良目视性不良 现象：现象：pad pad 部发生破损部发生破损 patternpattern：无：无 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：g

50、oodgood or ngor ng 产生原因：在产生原因：在cuttingcutting或是或是cell cell testtest工程中被磕碰；人为因素也工程中被磕碰；人为因素也 可能造成可能造成broken.broken. pad pad 部破损部破损 gategate部部 datadata部部 破损1/2ng 现象：现象：align align 十字十字markmark破损，破损， cell testcell test设备无法设备无法contactcontact点灯点灯. . patternpattern：无：无 view angleview angle：正视：正视 gradegrad

51、e：goodgood or ngor ng 产生原因：一般为人为因素造成产生原因：一般为人为因素造成. . align#1align#1 align#2align#2align#3align#3 align mark align mark 破损破损 破损破损 1/2 - ng 1/2 - ng 现象：现象：olbolb部分破损，超过部分破损，超过1/21/2即即 ngng，无法完成，无法完成bonding.bonding. patternpattern：无：无 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：goodgood or ngor ng 产生原因：在产生原

52、因：在cuttingcutting或是或是cell cell testtest工程中被磕碰；人为因素也工程中被磕碰；人为因素也 可能造成可能造成broken.broken. olb olb 破损破损 破损破损 1/2 - ng 1/2 - ng 现象：现象：c/fc/f部分部分brokenbroken patternpattern：无：无 view angleview angle：正视：正视 gradegrade：goodgood or ngor ng 产生原因：在产生原因：在cuttingcutting或是或是cell cell testtest工程中被磕碰；人为因素也工程中被磕碰；人为因素也 可能造成可能造成broken.broken. cf cf 破损破损 tfttft侧破损侧破损 1aac570236 ch1aac570236 ch 现象：现象：padp