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文档简介
1、掌握熟悉了解第一章 半导体物理基础一、能带理论1、能带的形成、结构:导带、价带、禁带 当原子结合成晶体时,原子最外层的价电子实际上是被晶体中所有原子所共有,称为共有化。 共有化导致电子的能量状态发生变化,产生了密集能级组成的准连续能带-能级分裂 价带:绝对0度条件下被电子填充的能量最高的能带;结合成共价键的电子填充的能带。 导带:绝对0度条件下未被电子填充的能量最低的能带2、导体、半导体、绝缘体的能带结构特点 禁带的宽度区别了绝缘体和半导体;而禁带的有无是导体和半导体、绝缘体之间的区别;绝缘体是相对的,不存在绝对的绝缘体。3、导电的前提:不满带的存在二、掺杂半导体1、两种掺杂半导体的能级结构。
2、2、杂质补偿的概念三、载流子统计分布1、费米函数、费米能级:公式1-7-9和1-7-10,及其简化公式1-7-11和1-7-122、质量作用定律,只用于本征半导体:公式1-7-273、用费米能级表示的载流子浓度:公式1-7-28和1-7-294、杂质饱和电离的概念(本征激发)5、杂质半导体费米能级的位置:公式1-7-33和1-7-37。意义(图1-13,费米能级随着掺杂浓度和温度的变化)。6、杂质补充半导体的费米能级四、载流子的运输1、(1.8节)载流子的运动模式:散射漂移散射。平均弛豫时间的概念2、迁移率,物理意义:公式1-9-4和1-9-5(迁移率与电子自由运动时间和有效质量有关),迁移率
3、与温度和杂质浓度的关系3、电导率,是迁移率的函数:公式1-9-10和1-9-114、在外电场和载流子浓度梯度同时存在的条件下,载流子运输公式:1-9-241-9-275、费米势:公式1-10-5:电势与费米能级的转换6、以静电势表示的载流子浓度1-10-6和1-10-7或1-10-9和1-10-107、爱因斯坦关系:反映了扩散系数和迁移率的关系。在非热平衡状态下也成立。公式1-10-11和1-10-12五、非平衡载流子1、概念:平衡与非平衡(能带间的载流子跃迁);过剩载流子2、大注入和小注入3、产生率、复合率、净复合率4、非平衡载流子的寿命:从撤销外力,到非平衡载流子消失。单位时间内每个非平衡
4、载流子被复合掉的概率 ,净负荷率5、载流子的寿命 :反映衰减快慢的时间常数,标志着非平衡载流子在复合前平均存在的时间6、准费米能级1-12-1、1-12-27、直接复合、间接复合8、非平衡少子寿命与本征半导体的关系:在掺杂半导体中,非平衡少子的寿命比在本征半导体中的短, 和多子浓度成反比,即与杂质浓度成反比。9、基本控制方程:1-15-3、1-15-4、1-15-2参考题l 请画出导体、半导体、绝缘体的能带结构示意图,并解释它们之间的区别。l 请画出N型半导体和P型半导体的能带结构,指出施主杂质和受主杂质的位置,并解释原因。l 请写出费米函数,并解释费米函数的意义。什么是费米能级?l 什么是质
5、量作用定律?它的适用范围?l 请写出N型和P型半导体的费米能级公式,并解释其费米能级与掺杂浓度和温度之间的关系。l 填空:能带理论提出:一个晶体是否具有导电性,关键在于它是否有不满的能带存在。l 填空:杂质以替位的方式掺入硅晶体中。l 请写出电子和空穴迁移率和电导率的公式,并解释迁移率的物理意义。l 什么是爱因斯坦关系式?在非热平衡状态下也成立。ll 名词解释:有效质量,杂质补偿,本征半导体,本征激发,杂质饱和电离,平均自由时间,费米势,过剩载流子,大注入,小注入,产生率,复合率,净复合率,非平衡载流子的寿命,第二章 PN结一、热平衡PN结1、PN结的形成,能带图形成原理以及结构(会画)2、突
6、变和缓变PN结3、PN结的内建电势2-1-7和2-1-194、电势和电场的面积关系:5、泊松方程:电荷密度、电场、电势的关系二、加偏压的PN结1、能带的变化特点:偏离平衡态,出现准费米能级(图2-5);2、扩散近似;正向注入和反向抽取:边界处少子浓度与外加偏压的关系3、边界条件2-2-1和2-2-12三、理想PN结的直流电流电压特性1、理想情况的几个假设:(1)(4)2、能够画出正、反偏压下PN结少子分布、电流分布和总电流示意图。(图2-7、28)3、公式2-3-16及其近似2-3-224、空穴和电子的扩散长度表达式及意义。空穴和电子的扩散长度表达式及意义(两个意义:扩散区域;少子扩散电流衰减
7、为1/e)。空穴扩散区、电子扩散区四、空间电荷区的复合电流和产生电流1、图211,分三个阶段低偏压:空间电荷区的复合电流占优势偏压升高: 扩散电流占优势更高偏压: 串联电阻的影响出现了五、隧道电流1、了解隧道电流的概念及产生条件。2、江崎二极管的电流-电压特性(图2-13)六、I-V特性的温度依赖关系1、图214和215:在相同电压下,电流随温度升高。七、耗尽层电容(势垒电容、结电容)和扩散电容1、概念、形成原因2、扩散电容在低频正向偏压下特别重要。八、PN结二极管的频率特性1、二极管等效电路图2-192、二极管直流电导或扩散电导扩散电容九、电荷存储和反向瞬变1、PN结的开关作用。2、反向瞬变
8、和电荷存储的概念3、根据221的载流子分布,解释220所示的电流、电压特性(分三个阶段)。十、PN结击穿1、雪崩击穿的产生原理:碰撞电离、倍增效应。2、齐纳击穿:由隧道效应产生参考题l 请画出PN结形成前后的能带图,并用能带理论解释PN结形成过程。l 画出正向偏压和反向偏压的PN结能带图,并解释不同之处。l 写出PN结边界条件公式,并解释什么是正向注入和反向抽取?l 画出正向偏置和反向偏置下的PN结两边少数载流子分布。l 图2-10,考虑空间电荷区正偏复合电流和串联电阻的影响的实际IV曲线l 耗尽层电容和扩散电容是如何形成的?l 分三个阶段解释反向瞬变。l 名词解释:势垒区,扩散近似,耗尽近似
9、,扩散长度,反向瞬变,雪崩击穿(碰撞电离,倍增效应)第三章 双极结型晶体管一、双极结型晶体管的结构1、NPN和PNP型晶体管的结构及电路符号。“双极型”的解释。2、图32:硅平面外延NPN晶体管的版图和截面图。3、图3-3:硅平面外延NPN晶体管的净掺杂浓度分布二、基本工作原理1、四种工作模式对应的偏压情况2、图3-5 NPN晶体管共基极放大电路图及对应能带图3、图3-6:放大工作条件下的工作电流分量:会画,解释各个电流的形成原理。4、几个电流增益概念:发射极注射效率、基区运输因子、共基极电流增益、共发射极电流增益。三、正向有源工作模式下的电流传输1、放大条件下,基极电流和集电极电流的表示方法
10、。(计算题)图3-11四、埃伯斯莫尔方程1、图3-15:四种工作模式下的少数载流子分布,会画。2、图3-14:E-M等效电路五、缓变基区晶体管1、基区杂质分布不均;产生内建电场;加强电子漂移。Webster效应:相当于扩散系数增加一倍。六、基区扩展电阻和电流聚集1、发射极电流集聚效应:基区扩展电阻的存在,使发射结电压降低,发射极电流集中在发射结边缘附近解决方法:采用周长/面积比很高的梳状结构。七、基区宽度调变效应1、基区宽度调变效应:基区宽度与VCE的关系2、Early效应:IC与VCE的关系八、晶体管的频率响应1、截至频率的概念2、各种频率的定义:共基极截至频率、共发射极截至频率、增益带宽乘
11、积3、影响载流子运输的4个延迟:基区渡越时间(公式3-8-12)、发射结过渡电容充电时间、集电结耗尽层渡越时间、集电结电容充电时间。公式3-8-15、3-8-164、Kirk效应:也称为基区展宽效应十、晶体管的开关特性1、开:饱和状态关:截至状态2、理解:开关过程与载流子的存储和运输有关,需要有一个过程3、各开关时间的定义:导通时间、上升和下降时间、贮存时间4、最重要的贮存时间:定义,与该时间相对应的载流子的存储和运输过程。十一、击穿电压1、根据击穿条件,分析“共发射极击穿电压 比共基极击穿电压 低很多”。参考题l 三极管有哪几种工作模式?以及各种工作模式的偏置特点。l 填空:晶体管实现放大的
12、必要条件之一:基区宽度很窄。l 当BJT工作在放大条件下时,画出工作电流分量示意图,并解释各个电流的形成。l 请画出正向有源模式下各个区的少数载流子分布,并解释原因。l 推导正向有源模式下,集电极电流和基极电流公式。l 请画出艾伯斯莫尔电路模型,并解释各个电路元素。l 请画出三极管在四种工作模式下的少子分布。l 什么是缓变基区晶体管?基区的掺杂有什么特点?并分析这种特点对基区载流子运输的影响。l 请根据基区载流子的变化过程,解释晶体管的开关特性。l 影响晶体管开关过程的时间是哪一个?为什么?l 名词解释:双极型器件和单极型器件,基区输运因子,共基极直流电流增益,发射极注射效率,Webster效
13、应,发射极电流拥挤, Early效应,截止频率,特征频率,l 什么是基区渡越时间,并写出其表达式。l 什么是Kirk效应?该效应是如何引起的?l 三极管跨导的定义。l 三极管作为开关时分别工作在哪个状态下?为什么会有开关时间?l 请根据图示,分析三极管的打开和关闭过程所对应的基区载流子变化,并指出影响开关时间的最重要时间。第六章金属氧化物半导体场效应管一、理想MOS结构的表面空间电荷区1、理想MOS结构的假设2、MOS电容器的结构:半导体表面电荷层具有一定的厚度3、表面势:空间电荷区中电场的出现使半导体表面与体之间产生一个电位差4、载流子的积累、耗尽和反型:栅极电压、半导体表面载流子特点、能带
14、图(图6-4)5、反型和强反型条件:6-1-19和6-1-20MOSFET工作在强反型条件下。6、导电沟道的概念二、理想MOS电容器1、分四种情况讨论MOS电容器的电容电压特性:积累区、平带情况、耗尽区、反型区(高频和低频),会画图6-7和图6-9。三、沟道电导和阈值电压1、什么是阈值电压。公式6-3-72、沟道电导公式6-3-4四、实际MOS的电容电压特性1、功函数的影响、截面陷阱和氧化物电荷的影响,使平带电压VFB02、实际的阈值电压公式6-4-12,能够解释其中4项的来源。五、MOS场效应晶体管1、三种工作状态:线性、开始饱和、饱和,对应的沟道变化情况2、沟道夹断的原理六、等效电路和频率响应1、截至频率的概念,公式6-6-9,截至频率与那些因素有关参考题l 在理想条件下,请分析积累、耗尽、反型、强反型时,栅电压和半导体表面的
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