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文档简介
1、氟硅酸钾沉淀 -酸碱滴定法测定硅质耐火材料中二氧化硅冶金分析 ,2011,31(2):67 70 MetallurgicalAnalysis,2011,31(2):677O 文章编号 :10007571(2011)02 006704 氟硅酸钾沉淀一酸碱滴定法测定硅质耐火材料中二氧化硅李环亭 ,董艳艳,刘晓毅 ,孙晓红 ,赵维平 (国家陶瓷与耐火材料产品质量监督检验中心,山东淄博 255063)摘要:提出一种不用铂金坩埚和不需要用氢氟酸挥硅的氟硅酸钾沉淀一酸碱滴定 法测定硅质耐火材料中 Sio 含量方法 ,考察了检测的准确度和精确度 ,探讨了影响检测的干扰 因素和可能的干扰机理 .试样在银或者镍
2、坩埚中 ,用氢氧化钠熔融 ,二氧化硅转化为硅酸钠 在有过量氯化钾存在的强酸性溶液中加入氟化钾溶液,生成氟硅酸钾沉淀 ,经过滤 ,洗涤后溶于沸水中 ,以酚酞为指示剂,NaOH标准溶液滴定水解后生成的氢氟酸.试样中SiO.的质量分 数与Al.o.的质量分数比值大于或等于 3.5时A1o.对测定没有影响.应用本法检测硅质 砂岩,硅砖等硅质耐火材料样品中的 SiO含量,测定值与认定值相符,且重复性较好. 关键词:氟硅酸钾;滴定法;硅质耐火材料 ;二氧化硅中图分类号 :0655.22文献标识码 :A 硅质耐火材料同铝制耐火材料一样是耐火行 业最常见的材质 ,对于硅质耐火材料中含量较高(叫(SiO.) 9
3、5)SiO.的测定,多采用氢氟酸重 量法1_】;对于该材料中常量(5<叫(SiO)<95)SiO.的测定,国内外标准均采用重量一钼 蓝光度法测定 2q. 两者都用到氢氟酸挥散差减 法,即在强酸加热条件下,SiO.与氢氟酸反应生 成 SiF 气体,通过计算反应前后的质量损失得到 Sio的含量.两种方法虽然理论上的准确度都 较高,但整个操作流程相对比较复杂 ,测定周期 长,且挥发出的酸 (尤其是氢氟酸 )或者酸性氧化 物会对人体造成伤害 ,对环境造成污染 .方法对 试样的粒度要求也较高 ,试样颗粒较大或者不均 匀会导致试样与氢氟酸接触不良 ,造成试样与氢 氟酸反应不完全 ,另外在加热赶
4、酸过程中试样很 容易因为受热不均而溅出 ,影响测定结果 .氟硅 酸钾滴定法可有效克服以上缺点 ,大大缩短检测 时间 ,简化检测步骤 ,已用于冶金物料中 SiO 测 定 4, 但国内未见有直接用于硅质耐火材料中 SiO.的测定.本文采用氟硅酸钾滴定法测定硅 质耐火材料中SiO,只需银坩埚或者镍坩埚作为 溶样器皿 ,不需要用价格昂贵的铂金坩埚 ,有效降 低了检测成本 ,便于工厂推广使用 .1 实验部分1.1主要仪器 ,材料和试剂 银坩埚:3OmL;马弗炉;玻璃烧杯:400mL; 塑料烧杯 :300mL.中速定量滤纸 .NaoH(分析纯);KCl(分析纯):颗粒较大时, 研细使用;HC1(p 约 1
5、.19g/mL);HNO.(p 约 1.42g/mL);乙醇:95;KF 溶液:150g/L;KC1溶液 :50g/L;KC1 乙醇一水溶液 :50g/L,5.0gKCI溶于1oomL乙醇(1+1)中:酚酞指示剂:10g/L,溶剂为95乙醇;自制标样:将 0.8500g硅质砂岩标准物质(GBW03I13)和0.1500g基准 AI0.,0.8000g 硅质砂岩标准物质(GBWO3113)和 0.2000g 基准 AI20,0.7000g硅质砂岩标准物质(GBW03ll3)和0.3000g基准 AI()3 分别放于研钵中研磨半小时左右制得收稿日期 :20100315作者简介:李环亭(1966 一
6、) ,男,博士,高级工程师 ,主要从事陶瓷与耐火材料产品的 开发和检验工作通讯联系人:董艳艳,女,硕士 ;E-mail:dongyanyanl11】 I1163.eom 67LIHuanting.D0NGYanyan,LIUXiaoyi,eta1.Determinationofsilicondioxideinsiliceousrefractorymaterials bypotassiumfluosilicateprecipitation-aci&basetitrationmethod.MetallurgicalAna lysis,2011,31(2):67701,2,3自制标样;NaO
7、H标准滴定溶液:0.15mol/L左右,将12gNaOH溶于水后,加水稀释到2.0L,充分摇匀,储存于塑料瓶或者带胶塞(装有钠石灰的干燥管 )的硬质玻璃瓶内 .称取0.8g苯二甲酸氢钾(基准试剂),精确到0.0001g置于300mL烧杯中,加入约200mL预 先新煮沸并用氢氧化钠溶液中和至酚酞呈微红色 的冷水,搅拌使苯二甲酸氢钾溶解,加入67滴酚 酞指示剂 ,用氢氧化钠标准滴定溶液滴定至微红 色.按下式计算氢氧化钠标准滴定溶液浓度 : aOH)-式中:c(NaOH)氢氧化钠标准滴定溶液的浓度,mol/L;m.苯二甲酸氢钾的质量,g;滴定时消耗氢氧化钠标准滴定溶液的体积 ,mL;204.2苯二甲
8、酸氢钾的摩尔质量 ,g/tool.1.2 实验方法称取0.25g试样(精确至O.lmg)置于银坩埚中加入67g氢氧化钠,盖上坩埚盖 冲间留 缝,在700E马弗炉中熔融30min,取出,冷却. 将坩埚放入已装 1.OOmL 左右沸水的 400mL 烧 杯中 ,盖上表面皿 ,待熔块完全浸出后 ,在搅拌条 件下 加人3OmL盐酸(p约1.19g/mL),取出坩 埚和盖,用蒸馏水清洗干净,继续加入1.0mL 硝 酸(p约1.42g/mL),冷却后倒入250mL容量瓶 中 ,定容待用 .吸取 50mL 试液于 300mL 塑料烧杯中 ,然 后加入1015mL硝酸(p约1.42g/mL),放入 水浴中冷却
9、至3OC以下,加入KC1固体,用塑料 棒仔细搅拌并压碎大颗粒 ,使溶液完全饱和后再 过量2g左右.加入KF溶液(150g/L),用塑料 棒仔细搅拌12min,使溶液饱和并有少量KC1 析出.如果KC1不足,可补加(KC1的量不可过 量过多,否则会影响下面的过滤速度).在30E 以下(在室温较高的情况下 生成的K.SiF提前 水解,从而影响测定结果 )放置 2O30min 左右. 用中速滤纸过滤 ,用 5Og/LKC1 溶液清洗烧杯及 滤渣 3 次,将滤纸连同沉淀放人原烧杯中 .沿杯壁加入10mL30C以下KC1乙醇一水溶液及1mL 酚酞指示剂 ,先用 NaOH 标准溶液中和未洗68一尽的酸 ,
10、滴定过程中注意仔细搅动并擦洗杯壁 (中 和滴定操作要迅速 ,以防 KSiF 提前水解,造成 中和过度 ).向烧杯中加人 200mL 煮沸的蒸馏 水(煮沸后用 NaOH 中和至微红色 ),立刻用 NaOH 标准溶液滴定至微红色 ,并记下消耗的体 积.1.3 计算试样中 SiO 的质量分数按下式计算 :w(SiO 一 X100式中:T单位体积NaOH标准溶液相当于Si02 的质量,T15.02 X C(NaOH),g/L;滴定时消耗的NaOH的体积,mL;A分取体积倍数;m称取样品质量,g;15.021/4SiO2 的摩尔质量,g/mol.2 结果讨论2.1 方法的正确度选取 8 种 Si02 含
11、量不同的硅质材料进行分 析,考察检测的正确度 ,结果见表1.由表1可以看 出,采用氟硅酸钾滴定法检测硅质耐火材中Si02的含量 , 其检测误差均在国家标准 (GB/T6901- 2008)规定的公差之内 ,证实了氟硅酸钾滴定法应 用于硅质耐火材料中 Si02 的测定是可行的 .2.2 方法的精确度按照实验方法对 GBW03112和GBW03113 硅质砂岩标准物质进行了 10 次测量 ,对轻质硅砖和自制标样 (1#)进行了 4次测量.结果表明,测 量结果的相对标准偏差小于 0.5,检测的极差 小于 1.0(质量分数 ).2.3 共存物质的影响试样熔融后 ,TiO 和 Al.O. 在溶液中都能与
12、F 一络合分别形成 K.A1F 和 KTiF6. 但由于TiO: 在耐火材料中含量极低 ,它的影响基本上可以不用考虑 .试样中 Al.o. 的含量高时对测定 有影响 ,而且这种影响不但与试样中 AlO. 本身 含量有关,还与与被测的SiOz含量有关.当被测 的 SiO 含量高时 Al0. 的允许存在量也增加 .从表3可以看出,SiO:含量高于80时,检测误差较小,说明此方法是可行的;而当SiO含量较低时 ,检测的误差超过了国家标准中规定的公差 李环亭,董艳艳,刘晓毅,等.氟硅酸钾沉淀一酸碱滴定法测定硅质 耐火材料中二氧化硅 .冶金分析 ,2011,31(2):6770范围,说明此方法是不行的一
13、般认为w(SiO:)/响.w(A/20.) 3.5时AI2o.对SiO2的测定没有影表 1SiO 检测值与认定值的对比TabIeIComparisonofdeterminationvaIueandcertifiedvaIueofSiO2硅质砂岩 (GBW03113)BerthoIite轻质硅砖 (1#)IightweightsiIicabrick轻质硅砖 (2#)LightweightsiIicabrick轻质硅砖 (3#)Light weightsilicabrick 自制标样 (1#) Self-madestandardsample 自制标样 (2#)Self madestandardsa
14、mple 自制标样 (3#)Self-madestandardsample粘土 (GBWO3103)Clay粘土 (GBW03102a)Clay粘土(413)Clay2.362.913.OO3.4017.O121.883l_65 13.283l_32 37.12 95.7491.439O.6l 89.6381.38 76.5967.O266.6453.6744.O24O.5731.4230.2O26.364.783.5O2.125.O21.711.1995.8291.749O.3489.668O.9l77.1762.7766.3347.9842.84O.O80.31O.270.030.470.
15、584.25 0.315.69 1.182.4AI:O 对检测产生影响的原因探讨Alzo.在氢氧化钠及熔融条件下发生反应生成偏铝酸钠 ,偏铝酸钠经浸取后形成铝的水溶液 ,它经过 KC1 饱和后在酸性条件下与 KF 反应生成K.A1F.沉淀.反应过程如下:2oH+Al203 2Al02+H2o69LIHuan-ting,DONGYan-yan,LIUXiaoyi,eta1.Determinationofsilicondioxideinsiliceousrefractorymaterialsbypotassiumfluosilicateprecipitation-acid basetitratio
16、nmethod.MetallurgicalAnalysis,2011,31(2):677OAlo2 一 +4H+6F 一十 3K.一 K.A1F6+2H2OK3AlF6+3H2OA1(OH)3+3HF+3K+3FK.AlF 微溶于水 ,且溶解后的水溶液呈酸性,使检测结果偏高 .实际上 ,在铝含量达到一定程度后 ,出现滴定终点提前 ,滴定结果偏低 ,酚酞出现变红 ,褪色等现象 ,证明 K.A1Fs 的水解并未 发生,可能是由于K.SiF.水解放出的HF和K 抑制了 K.AIF.的水解(水解平衡原理)根据实 验现象推测K.A1F.干扰测定的可能机理是:在 热水中 K.AIF 容易形成胶状物 ,它具
17、有较强的 吸附作用 ,有一部分 H 吸附于胶体表面 ,造成溶 液中的 H 比理论值要低 ,在滴定时出现终点过 早的情况 ,即未达终点指示剂就提前变色 .同时 因为存在离子的扩散平衡 ,即随着溶液中的 H 不断被 0H 一消耗,溶液中的 H.的浓度逐渐降 低,吸附层中的 H 渐渐扩散到溶液中 ,使溶液又 出现褪色现象 .吸附机理见图 1. 由吸附层扩散到溶液 (HdiffusesfromadsorptionIayerintosoIution)?-?- ?o-吸附层扩散层 (AdsorptionIayer)(DiffusionIayer) 图 1 可能的吸附机理示意图 Fig.1Schematic
18、diagramofthepossibIe adsorptionmechanism 参考文献1 GB/T6901 2008 硅质耐火材料化学分析方法 Is.2 GB/T6900 2006铝硅系耐火材料化学分析方法 Is.3 GB/T5069 2007镁铝系耐火材料化学分析方法 S. 43 陈桂英.氟硅酸钾容量法测定二氧化硅含量在冶金 分析中的应用 J. 四川冶金 (SichuanMetaIIurgy), 2007,29(6):2729.53林炳喜.氟硅酸钡容量法测定二氧化硅J.分析化学(Chi neseJournalofA nalyticalChemistry),1984, 12(8):794.
19、Determinationofsilicondioxideinsiliceousrefractory materialsbypotassiumfluosilicateprecipitation-acid- basetitrationmethodLIHuan-ting,DONGYan yan,LIUXiao yi,SUNXiao hong,ZHAOWei ping (NationalCeramicsandRefractoriesProductQualitySupervision&InspectionCenter. Zibo255063,China) Abstract:Adetermina
20、tionmethodofsilicondioxideinsiliceousrefractorymaterialsbypotas siumflu osilicateprecipitation-acidbasetitrationmethodwasestablished.Neitheraplatinumcruciblenorthe volatilizationofsiliconbyhydrofluoricacidwasneeded.Thedeterminationaccuracyandpre cision wereinvestigated.Theinterferencefactorsandpossi
21、bleinterferencemechanismwerediscus sed.The samplesweremeltedinasilverornickelcruciblewithsodiumhydroxide,duringwhichthesili condi oxideinsamplewasconvertedintosodiumsilicate.Then,potassiumfluoridesolutionwasad dedinto strongacidsolutioncontainingexcessivepotassiumchloridetoformpotassiumfluosilicatep
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