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文档简介
1、2021年2月23日星期二10时25分7秒,2009年04月21日,TFT-LCD 工艺制程简介,周刚,周刚09-4-19编写,Contents,2,1,3,Array process,Module Process,Cell Process,TFT LCD,客户导向,团结协作,Dept,Every Process is important,天马显示屏无处不在,精益生产,精益管理,Team work,TFT-LCD,COG,Recipe,OIC,STK,ODF,ADI,TFT-LCD ENGLISH,一:Array Process,ARRAY,生产计划,PHOTO,WET,CVD,PVD,DRY
2、,Organization,Array Layout,TFT ARRAY PROCESS,TFT Structure,Deposit and pattern gate metal Functions: Gate of TFT Select lines Bottom electrode of storage capacitor Metal options: Ti/Al/Ti Al/Mo Cr Mo,a-Si TFT array process step 1,a-Si TFT array process step 2,Deposition of SiN/a-Si/n+ by PECVD, patt
3、erning of a-Si SiN is gate dielectric and storage capacitor dielectric Selective etch of a-Si SiN is not etched,SiN,a-Si/n,a-Si TFT array process step 3,Deposition and patterning of source/drain metal Functions: Source and drain metal Data line metal Metal options Ti/Al/Ti or Ti/Al Cr Mo or Mo/Al Ba
4、ck etch of n+ a-Si from channel area,a-Si TFT array process step 4,Deposition and patterning of passivation SiN by PECVD Function: Passivate TFT,a-Si TFT array process step 5,Deposition and patterning of ITO Function: Pixel electrode Top electrode of storage capacitor,TFT ARRAY PROCESS_PVD/CVD,Used
5、for ITO (Indium Tin Oxide transparent conductor) and for metals (Al, Mo, Cr, etc.,DC Sputter deposition,100-1000V,PVD原理,AKT-5500,PECVD (即等离子体增强化学气相沉积) 工作原理:采用等离子辅助对化合物进行催化分解 目的: 利用等离子体辅助活化反应气体,降低反应温度,改善薄膜质量,PECVD原理,温度 气体流量比 (Si:H,N:H,Si:N) RF Pressure Spacing (上下电极间距,影响成膜工艺的主要参数,周刚09-4-19编写,TFT ARRA
6、Y PROCESS_PHOTO,SLIT COATER,EXPOSURE CANON MPA6000,stage,Nozzle,Slit Coater & DP,DP,MPA6000 Exposure unit,TP & OL Mark,OL,TP,TFT ARRAY PROCESS_WET,Stripper,Wet etcher,TFT ARRAY PROCESS_DRY,DET原理,利用Plasma将反应气体解离,ion轰击与radicals反应将Film移除,真空下进行,RIE:指的是Reactive ion etching,即反应离子刻蚀,目的 蚀刻终点检测。,原理 利用从蚀刻中开始到
7、结束为止特定的波长的光强度的变化,检测出蚀刻的最合适的终点,Array Tester,将TFT Array Panel进行测试,如果有短路(SHORT),或是短路(OPEN),就将坐标点记录下来,传给Laser Repair(激光修复机)修复之,1.测量元件导通电流,ION 2.测量元件截止电流,IOFF 3.测量切入(CUT IN)电压VT 4.测量电压电流曲线TV CURVE,TEG,TAKE A BREAK,QUESTION AND ANSWER,CF/Color Filter,LC,Sealant,Spacer in Seal,Seal whit AU Ball,Spacer,PI,T
8、FT Glass,Polarizer,Panel 制 做 完 成,周刚09-4-19编写,二:Cell Process,PI前清洗,CF,TFT,PI涂布,预烤,固烤,配向,PI Line,Rubbing Line,Rubbing后清洗,UV照射,框胶,点胶,Seal Oven,液晶滴下,CF,TFT,ODF Line,衬垫料,贴合,一次切割(自动,二次切割(手动,Cleaner,POL Attach,CELL,CF,TFT,Trimmer,CELL工艺流程,Scraper Type,Doctor Roll,Dispenser,APR 版,APR: Asahi Photosensitive R
9、esin,PI Coater,Process,PI Coater要求特性,Rubbing,Rubbing 动作,摩擦轮,平台,玻璃,Process,Spacer Spray,Short Dispenser,Seal Dispenser,LC Dispenser,UV CURE,C F 上基板,TFT 下基板,Assembly,Process,ODF制成,1,2,Process,Scriber,Zero level detect,工作台运动方向及速度,切割过程,Process,Process,E-C-P,Length Grinding,Width Grinding,In,Out,Edge Grind (Skip,Process,Cleaner,Process,POL Attach,侧面动作示意,正面动作示意,POL Attach,Process,周刚09-
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