管制坉使用作榠规范.doc

Micro-Star International Co.,Ltd.微星科技股份有限公司文件申请单(T-0-6-0-QP0501-01)区别： 新建 , V变更 , 作废 申请日期： 90 年 9 月 25 日文件名称：管制图使用作业规范 版本：2.0 内容： 增加新表格部门主管：陈立伟申请单位：PCBA品质工程课文件编号：T-0-6-3-QW2002生效日期： 90 年 9 月 28 日 申请人:蔡胜武文管确认部门总经理管理代表安卫室工务课总务课人事课研发本部业务本部船务课采购部零仓课包装课生管部维修课成仓课组装课内部稽核审核分发数量签收缴回文管确认部门SMT1SMT2DIP1DIP2系保中心供应品保制造品保品质工程制造工程产品工程审核分发数量签收缴回90.03.15 Ver:1.0Micro - Star International Co., Lt d微 星 科 技 股 份 有 限 公 司 文件履历表 (T-0-6-0-QP0501-01) 文件名称 : 管制图使用作业规范 文件编号 :T-0-6-3-QW2002 版 次 变 更 理 由 变 更 内 容 生 效 日 期 1.0 2.0新发行增加新表格增加单位缺点数管制图90/9/1090/9/28 页 数 12345678910111213141516 版 序2112211111 单位主管: 陈立伟 承办人：蔡胜武 品 质 程 序 书 微星科技 主 题管制图使用作业规范 生 效 日 期90 年 9 月 28 日 分 类 编 号T-0-6-3-QW2002 修 订 版 序2.0 页 次 11.目的：使全厂使用统一之方法来使用管制图，以达到管制图之标准化，进而建立制程管制。2.范围：凡厂内生产单位中规定之主要制程及生产品质须监控时皆适用。3.组织与权责：3-1 PCBA品质工程课：制定管制图使用作业规范。3-2 厂务本部及相关单位：依管制图使用作业规范执行。 4.规范内容：4-1 管制图种类4-1-1 计量值：4-1-1-1 Xbar-R管制图 4-1-1-2 X-Rm 管制图 4-1-2 计数值： 4-1-2-1 不良率管制图（P Chart）4-1-2-2 缺点数管制图 (C Chart)4-1-2-3 单位缺点数管制图 (U Chart )4-2 计量值管制图填写及制作说明4-2-1 字段填写说明：4-2-1-1 品质特性：填写管制项目。4-2-1-2 测量单位(Unit)：填写品质特性之单位。4-2-1-3 管制图的管制上/下限、中心线：依公式计算后填写。4-2-1-4 月Cpk：填入上个月份所统计分析出来的Cpk值。4-2-1-5 抽样方法：抽样频率及数量。4-2-1-6 日期、时间：记录取样的日期、测量时间。4-2-1-7 平均值：（X1X2Xn）/n4-2-1-8 全距值：RMax(X1,X2,Xn)Min(X1,X2,Xn) （抽样之最大值最小值）4-2-1-9 个别值：X单一样本量测值。4-2-1-10 移动全距：Rm，亦即以相邻之2数据计算全距。4-2-1-11 测定员：画该项管制图者。4-2-1-12 当异常发生时，必须做原因说明及对策。 品 质 程 序 书 微星科技 主 题管制图使用作业规范 生 效 日 期90 年 9 月 10 日 分 类 编 号T-0-6-3-QW2002 修 订 版 序1.0 页 次 24-3 管制图之画法4-3-1 管制图的管制上/下限、中心线计算公式类 别-RX-Rm平均值（个别值）管制图【（X）管制图】管制上限管制中心线管制下限全距（移动全距）管制图【R（Rm）管制图】管制上限D4*管制中心线管制下限D3*4-3-2 计量值管制图之常数对照表样本数值（n）A2D3D4E221.88003.2671.1282.66031.02302.5741.6931.77240.72902.2822.0591.45750.57702.1142.3261.29060.48302.0042.5341.18470.4190.0761.9242.7041.10980.3730.1361.8642.8471.05490.3370.1841.8162.9701.010100.3080.2231.7773.0780.975160.2120.3631.6373.5320.8494-3-3 管制图的管制上/下限用红色虚线表示，管制中心线用蓝色实线表示。 4-3-4 依各组样本量测值之统计量（平均值、全距值、个别值、移动全距）大小，描点于管制图上。4-3-5 将各点以实线连接。4-3-6 有点超出管制上/下限时需加以圈注。 品 质 程 序 书 微星科技 主 题管制图使用作业规范 生 效 日 期90 年 9 月 10 日 分 类 编 号T-0-6-3-QW2002 修 订 版 序1.0 页 次 34-4 管制界限之延用4-4-1管制界限每月根据制程状况做调整；一旦制程到达稳定状态时，就不允许放 宽管制界限，以达到持续改善品质之目的。4-4-2 若当月之制程呈管制状态（无异常发生）时，则可延用至下个月；若当月制 程有异常发生时，则需重新计算管制界限。4-4-3当制程改变（参数、原物料或操作方法有变更）、样本的抽取方法改变或条件与原来不一样时，其管制界限需重新计算。4-4-4制程虽未改变，但管制界限若继续使用到一个时期后，制程状态可能改变，过去所使用的管制界限为基准的管制图就不适合了。这样的话，就需要重新搜集最近的数据，重新计算管制界限；或者另一种情况，当Cpk值到达1.33 以上时，则以Cpk值等于1.33之管制界限为其管制底限。4-5制程能力分析制程能力指数是依品质特性值的规格及制程特性的中心位置及一致程度，来表示制程中心的偏移及制程均匀度。首先假设制程是在管制状态下；也就是说制程很稳定，以下的数据分析才会有合理的依据。或USL是品质特性值之规格上限；即产品品质特性大于USL在工程上将造成不合格。LSL是品质特性值之规格下限；即产品品质特性小于LSL在工程上将造成不合格。（ 值查表5-2-2-1-1 计量值管制图之常数对照表）品 质 程 序 书 微星科技主 题管制图使用作业规范 生 效 日 期90 年 9 月 28 日 分 类 编 号T-0-6-3-QW2002 修 订 版 序2.0 页 次 44-6 计数值管制图填写及制作说明4-6-1 字段填写说明：4-6-1-1 品质特性：填写管制项目。4-6-1-2 测量单位(Unit)：填写品质特性之单位。4-6-1-3 管制图的管制上/下限、中心线：依公式计算后填写。4-6-1-4 抽样方法：抽样频率及数量。4-6-1-5 日期、时间：记录取样的日期、测量时间。4-6-1-6 检验数：每次抽取样本数。4-6-1-7 不良数(nP)每次检验中之不良个数。4-6-1-8 不良率(P)不良数 / 检验数。4-6-1-9 缺点数(C)每次抽取样本数中之缺点数。4-6-1-10单位缺点数(u)=缺点数 / 检验数 。4-6-1-11 测定员：画该项管制图者。4-6-1-12 当异常发生时，必须做原因说明。4-7 管制图之画法4-7-1 管制图的管制上/下限、中心线计算公式类 别P管制上限管制中心线 管制下限类 别C管制上限管制中心线管制下限类 别U管制上限管制中心线管制下限4-7-2 管制图的管制上/下限用红色虚线表示，管制中心线用蓝色实线表示。4-7-3 依各组样本量测值之统计量（不良数、不良率、缺点数、单位缺点数）大小，描点于管制图上。4-7-4 将各点以实线连接。4-7-5 有点超出管制上/下限时需加以圈注。品 质 程 序 书 微星科技主 题管制图使用作业规范 生 效 日 期90 年 9 月 28 日 分 类 编 号T-0-6-3-QW2002 修 订 版 序2.0 页 次 54-7-6 管制界限之延用4-7-6-1 管制界限每月根据制程状况做调整；一旦制程到达稳定状态时，就不允许放宽管制界限，以达到持续改善品质之目的。4-7-6-2 若当月之制程呈管制状态（无异常发生）时，则可延用至下个月；若当月制程有异常发生时，则需重新计算管制界限。4-7-6-3 当制程改变（参数、原物料或操作方法有变更）、样本的抽取方法改变或条件与原来不一样时，其管制界限需重新计算。4-7-6-4 制程虽未改变，但管制界限若继续使用到一个时期后，制程状态可能改变，过去所使用的管制界限为基准的管制图就不适合了。这样的话，就需要重新搜集最近的数据，重新计算管制界限；或者另一种情况，当管制上限低于当年度OQC KPI指数之不良率时，则可停止管制上限的内缩。 4-7-6-5 调整后之各管制上下限将以 SPC参数发行表公告。 4-8 管制图之判图有下列任一状况发生时，则表示制程有异常发生。4-8-1 有点超出管制上/下限。4-8-2 连续7点出现在管制中心线的一侧。4-8-3 连续7点出现持续上升或下降。4-8-4 连续3点中有2点靠近管制上/下限。 4-9 参考文件及附件：6-1 Xbar-R管制图 6-2 X-Rm管制图 6-3 缺点数管制图 6-4 不良率管制图6-5 不良统计记录表 6-6 Cpk 管制图6-7 SPC 参数发行表6-8 单位缺点数管制图品 质 程 序 书 微星科技主 题管制图使用作业规范 生 效 日 期90 年 9 月 10 日 分 类 编 号T-O-6-3-QW2002 修 订 版 序1.0 页 次 6品 质 程 序 书 微星科技主 题管制图使用作业规范 生 效 日 期90 年 9 月 10 日 分 类 编 号T-0-6-3-QW2002 修 订 版 序1.0 页 次 7 品 质 程 序 书 微星科技主 题管制图使用作业规范 生 效 日 期90 年 9 月 10 日