ASME常用规程及标准.doc

AMSERT:PW-51 （第卷）A-250 （第卷）1 焦距：射线照相的几何不清晰度由下式决定：Ug=Fd/D Ug-几何不清晰度 F-射线源尺寸. 英寸(mm) D-射线源到被透照工件的距离. 英寸(mm) d-被透照工件的射线源一侧至胶片的距离. 英寸(mm)厚度英寸(mm)Ugmax英寸(mm)2-3(50-75)0.030(0.76)3-4(75-100)0.040(1.02) 4(100)0.070(1.78)2.透照技术2.1单壁单像透照：壳体焊缝、平板焊缝和具备单壁透照条件的焊缝均应采用单壁透照。2.2 双壁透照2.2.1双壁单像透照：接管、集箱和3.5英寸(89mm)的管子焊缝采用双壁透照单壁成像方式。当对环焊缝要求全部覆盖时，至少应互成120作三次曝光。2.2.2 3.5英寸(89mm)的接管或管子焊缝可采用双壁透照双壁焊缝同时成像观察的方式。3.像质计A 组B 组C 组D 组线径in. (mm)线号线径 in. (mm)线号线径in. (mm)线号线径in. (mm)线号0.0032 (0.08)10.010 (0.25)60.032 (0.81)110.100 (2.54)160.0040 (0.10)20.013 (0.33)70.040 (1.02)120.126 (3.20)170.0050 (0.13)30.016 (0.41)80.050 (1.27)130.160 (4.06)180.0063 (0.16)40.020 (0.51)90.063 (1.60)140.200 (5.08)190.0080 (0.20)50.025 (0.64)100.080 (2.03)150.250 (6.35)200.0100 (0.25)60.032 (0.81)110.100 (2.54)160.320 (8.13)21单壁材料的标称厚度范围in.(mm)像质计射线源一侧底片一侧孔型像质计指示器线号线型像质计指示器线号孔型像质计指示器线号线型像质计指示器线号0.25(6.4)1251040.25(6.4) 0.375(9.5)1561250.375(9.5) 0.50(12.7)1771560.50(12.7) 0.75(19.0)2081770.75(19.0) 1.00(25.4)2592081.00(25.4) 1.50(38.1)30102591.50(38.1) 2.00(50.8)351130102.00(50.8) 2.50(63.5)401235112.50(63.5) 4.00(101.6)501340124.00(101.6) 6.00(152.4)601450136.00(152.4) 8.00(203.2)801660148.00(203.2) 10.00(254)10017801610.00(254) 12.00(304.8)120181001712.00(304.8) 16.00(406.4)160201201816.00(406.4) 20.00(508.0)20021160204黑度射线源增感屏观察方法黑度线铅箔单片双片最小为1.8每张最小为1.3最大为4.0复合观片最大为4.0线铅箔单片双片最小为2.0每张最小为1.3最大为4.0复合观片最大为4.0(a) 如果射线照相上被检区任何部位的黑度变化超过孔型像质计本体处或线型像质计编号附近的黑度-15%或+30%以上，但仍处于上表规定的最小和最大容许黑度范围内，则对每个超过的区域应加一个像质计并重新拍片。(b) 当采用垫片时，只要能显示出所要求的像质计灵敏度，而且不超过(a)所规定的黑度范围，则允许超过上表中规定的+30%黑度限制上限。5.验收标准：1.1 射线照相的焊缝部分显示出下列类型缺陷应判为不合格；1.1.1 任何显示特征如裂纹或未熔合或未焊透；1.1.2 任何条状夹渣长度大于；(a) t3/4英寸(19mm)2.25英寸(57mm)时，为1/3t (c) t2.25英寸(57mm)时，为3/4英寸(19mm) t为不包括允许的焊缝的加强层厚度，对有不同厚度的对接焊接头，t为二者厚度较薄者。如果一全焊透焊缝包括角焊缝，则该角焊缝的腰高应计入t内。1.1.3 任何一直线上的夹渣群，在12t的长度内夹渣的总长度大于t者；但相连二者缺陷间的间距超过6L者除外，此处L为该一群内最长缺陷的长度。1.1.4 圆形显示超过ASME规范第卷附录A-250中的验收标准所规定者。1.1.5 当底片上显示出有突变的根部内凹。UT 钢板SA-435/SA-435M-90 钢板超声直射波检验（第卷、第卷铁基部分）：适用于厚度大于和等于1/2英寸(12.5mm)的板材1.探头1.1检验采用的标称频率范围为2.0MHz-5MHz。1.2 探头的标称直径为1英寸1-1/8英寸(2530mm)或最小有效面积为0.7in2 (450mm2)1.3 可采用其它尺寸的探头来评定和精确地测定缺陷信号。2.仪器的灵敏度对纵波探伤，仪器灵敏度调节第1次底波至荧光屏高度的75%左右。扫查应沿垂直或平行主平面轴进行，以不超过3英寸(75mm)的间距对整块钢板作100%扫查。在扫查表面上板的边缘2in（50mm）内应附加扫查。3. 验收标准任何能引起底面反射信号全部消失的缺陷信号，而其范围又不能被直径为3英寸(75mm)或板厚之半（取其中的较大值）所围成的圆所覆盖均为不合格。4. 记录 4.1 记录所有引起底面反射完全消失的缺陷。4.2 记录底面反射降低50%以上但小于100%的分层性缺陷。4.3 记录引起游动信号并伴随有底波反射降低的缺陷。4.4 在钢板草图上标出所有应记录的信号位置。4.5 按本规程验收的钢板应用硬印或印刷方法加注UT435识别标记。5. 所有报告应提交授权检验师（AI）复审和认可。另：SA20 压力容器用钢板通用要求（第卷铁基部分）其中S8 SA-435SA578 特殊用途普通钢板与复合钢板超声直射波检验 (第卷、第卷铁基部分)SA577 钢板斜射波检验（4730中规定钢板在验收时存在问题或由技术协议规定的情况下，才采用斜射波检验）UT锻件SA-388 大型钢锻件超声检测（第卷、第卷铁基部分）SA-788 锻件通用要求（内含S18 MT、S19 PT、S20 UT）（第卷铁基部分）SA-745 奥氏体钢锻件超声检验（第卷、第卷铁基部分）（4730中规定筒形和环形锻件应增加横波检测）1. 探头1.1 换能器频率为15MHz。1.2 对直射波扫查应使用3/4英寸(20mm)到1英寸(25mm)的换能器，对斜射波扫查换能器可应用5/16英寸11/32英寸(89mm2)3/4英寸7/8英寸(2022mm2)的换能器， 2. 参考试块 当用直射波接触法检验时，用一个包含平底孔的试块来校准设备和确定记录水平。3.工件要求凡圆形锻件，应机械加工出圆柱形的表面，以便作径向检验。锻件端面应加工成与锻件轴线垂直，以便进行轴向检验。圆盘形锻件和矩形锻件表面应加工平直，而且要相互平行。4. 扫查方向4.1 直射波检验4.1.1为了保证整个锻件体积均能被检验到，要求探头每次移动至少要有15%重叠。【19】4.1.2用直射波扫查圆形锻件，应至少从一个平面和从圆周上的径向进行。4.1.3用直射波技术扫查实心锻件，应近似互成直角方向进行。4.2 斜射波检验4.2.1 环形锻件及其它空心锻件应在两个（正反）环向用斜角技术检验。除非壁厚或几何结构使斜角检验不能进行。4.2.2 此外，对以上10.1节和10.2.1节，细晶粒熔炼环形锻件且用于容器筒体，也应在两个轴向用斜角技术检验。4.2.3 对不能用直射波作轴向检验的锻件，要采用斜射波探头从两个轴向进行检验。5. 校准5.1直射波检验5.1.1底面反射技术 将衰减器调到适当的水平，例如5:1或14dB，调整仪器控制，使其从锻件底面得到的底面反射信号大致为满幅度的75%。将衰减器调到最大的放大率（衰减器调到1:1）扫查锻件。评定缺陷时应将增益控制调到参考水平，当截面厚度或直径有明显变化时，需要重新校准灵敏度。5.1.2参考试块的校准 参考试块的表面粗糙度应大致与被检验物体相当，但不能优于被检验物体，调节仪器，使其从规定的参考试块平底孔上得到所要求的信号幅度。对于曲面检查，当规定用平面参考试块校准时，应调整从参考试块得到的信号幅度以做出补偿。5.2 斜射波检验 校准斜射波检验的仪器，使其能从内壁表面，并沿锻件轴线方向和平行于轴线的矩形或60形切槽得到的约为75%满幅度的信号幅度。内壁切槽深度应为标称厚度的3%或1/4英寸(6mm)，选用其中较小值，其长度约为1英寸(25mm)，而宽度不大于深度的2倍。6. 验收标准由用户和制造厂双方协议确定验收的质量等级或锻件按如下情况为不合格：6.1.如果直射波检查结果表明有一个或多个缺陷，这些缺陷产生伴随有底反射完全消失的显示，而不是由于或归因于几何形状。6.2如果斜射波法检验结果表明有一个或多个缺陷，它们产生的显示，其幅度超过标准刻槽产生的显示幅度。7. 记录（参考SA-388）7.1 直射波检验7.1.1 在底面反射波中，幅度等于或超过相邻无缺陷信号区域底面反射波高的10%的一些单个信号；在参考试块法中等于或超过100%参考幅度的一些信号。7.1.2 凡同一平面上连续出现一个信号，不论其幅度大小如何，其出现的面积比探头的直径大一倍，这个信号的范围，就准确地沿着反射幅度的变化，而加以测定。7.1.2.1 同一平面的信号，如果连续出现的范围的长轴大于1英寸(25mm)，则应认为是该平面上的连续信号，在记录这些信号时，必须对波束在所估记的缺陷深度处的扩散做出校正。7.1.3 在底波法中等于或超过底波5%的缺陷信号。在参考试块法中，等于或超过基准波高50%的信号，这些信号是连续游动或是密集出现的。7.3.3.1 此处游动信号的定义为：当探头在锻件表面移动时，信号前沿在扫描线上移动的距离相当于1in(25mm)或更大的金属深度。7.3.1.2 密集信号的定义为锻件2in(50mm)或更小的立方体内有5个或更多的信号。7.1.4 底面反射的降低超过原来测定值的20%时，按10%的增量作记录。7.1.5 应予记录的信号幅度，按10%的增量作记录。7.2 斜射波检验 记录等于或大于50%参考线的缺陷信号，当不能作出幅度参考线时，记录等于或大于50%的参考切槽信号的缺陷信号。8. 报告15.2所有报告应提交授权检验师复审和认可。UT焊缝ASME.SEC.I PW-52（第卷）1.探头1.1 探头的频率应为1MHz5MHz。1.2 对于直射波扫查探头应采用2/5英寸1英寸(10mm25mm)直径，对斜射波探头应采用从5/16英寸11/32英寸(89平方毫米)3/4英寸7/8英寸(2022平方毫米)的探头，具体型号见表3或采用同等探头2.校验试块 2.1 对压力容器基准校准试块应按ASME第卷第4章图T-434.2.1。2.2 对于检验表面直径大于20英寸(500mm)材料的检验，应采用基本上有相同曲率的校准试块或可改用平面的基准校准试块。2.3 对于直径等于或小于20英寸(500mm)的材料，基准校准试块应是曲面的。一个曲面基准校准试块可以用来校准曲率范围为0.91.5倍基准校准试块的表面检验。2.4.1 对全焊透焊缝的基准反射体（不包括管子焊缝）焊缝厚度 (t)in.(mm)孔径 ()in.(mm)1in.or less(25)3/32in.(2.5)1in2in(2550)1/8in.(3)2in4in(50100)3/16in.(5)4in注1 注(1)：对大于4in（100mm）厚度的焊缝，焊缝厚度每增加2in（50mm），孔径应增1/16in(1.5mm)。2.4.2 用于铁素体钢管的基准反射体，校准试块结构和反射体应按图T-434.3，校准试块应为具有相同标称尺寸和制造工艺管子的一部分，试块的大小和各种反射体的位置应足以对所用到的波束角度做出校准。 切槽尺寸：长（L）：至少1in(25mm)，深度D = 最小8%T最大11%T，宽度=最大1/4 in.(6mm)，T管子厚度。2.4.3 倘若替代反射体产生的灵敏度等于或大于规定的反射体（即侧占横孔代替槽，平底孔代替侧占横孔）则可用替代反射体。3. 检验的覆盖与扫查速度 探头每次扫查至少应重叠换能器在垂直扫查方向尺寸的10%。 扫查速度不应超过6英寸(150mm)/秒。4. 记录 4.1 对平面反射体斜角检验数据的记录可参考ASME 第V卷 第4章附录H。4.2 记录产生大于等于20%DAC曲线相应的参考反射体，参考反射体的长度应按20%DAC测量。5. 验收标准 产生大于参考基准信号20%的缺陷均应进行研究，直至操作者能够确定这些缺陷的形状性质和位置，并按如下(a)和(b)中给出的验收标准予以评定。5.1被评为裂纹、未熔合或未焊透的显示不论其长度如何，均为不合格。5.2如果显示超过参考基准幅度且长度超过下列长度的缺陷为不合格。 (1) 对t3/4in.(19mm)时，为1/4in.(6mm) (2) 对3/4in.(19mm)t9/4in.(57mm)时，为1/3t(3) 对t9/4in.(57mm)时，为3/4英寸(19mm)。此处t是不包括许可的余高的焊缝厚度，对两边具有不同厚度的对接焊缝，t取两种厚度的较薄者，如果一个全焊缝包括一个填角焊缝，则填角的腰高应包括在t中。6.所有报告须提交授权检验师复审和认可。MTASME.SEC.1 A260.4（第卷）1. 触头法技术1.1 为避免闪弧，在触头处于适当位置后，接通磁化电流。1.2 对截面厚度3/4英寸(19mm)时，磁化电流为100-125A/英寸(45A/mm)触头间距。对截面厚度3/4英寸(19mm)时，磁化电流为90-110A/英寸(3.64.4A/mm)触头间距。1.3 触头间距应不超过8英寸(200mm)，但不应小于3英寸(75mm)。1.4 触头间距每次至少应有1英寸(25mm)的重叠。2. 纵向磁化技术 【1】2.1 纵向磁化是使电流通过围绕工件截面的多匝线圈所产生，所产生的磁场平行于线圈的轴线。测量单位为安匝。固定式线圈的内径大大超过工件尺寸(10%的线圈内径)，工件放置在靠近线圈的内壁。2.2 磁场强度 所要求的磁场强度是以零件长度(L)和直径(D)为基础。按如下(a)，(b)或(c)的规定进行计算。长零件应以每段不超过18英寸(450mm)进行验证，并在计算所需磁场强度时，L以18英寸(450mm)计。对非圆柱形零件，D取最大横截面对角线。(a) L/D4的零件 磁化电流应按下述确定的安匝数10%： 安匝数=35000/(L/D+2)(b) 2L/D4磁化安匝数应按下述确定的安匝数10%以内： 安匝数=45000/(L/D)(c) 如果磁化区延伸到线圈两侧6英寸(150mm)以外，适当的磁场强度应用磁场指示器来确定。(d) 由于几何尺寸和形状的原因，对大型工件，磁化电流应为1200安匝到4500安匝。适当的磁场强度应用磁场指示器来验证。3. 周向磁化技术 3.1 直接接触技术 应采用直流电或整流电（半波整流电或全波整流电）磁化电流所需电流应由如下决定3.1.1电流应为300安培/英寸（12A/mm）至800安培/英寸（31A/mm）乘以外径。3.1.2 对其它非圆形几何形状的工件，上述计算中所采用的毫米数由垂直于电流的截面最大对角线长度来确定。3.1.3 如果不能获得以上所要求的电流值，则采用可达到最大电流和应用磁场指示器来确定合适的磁场，对非圆柱形零件，应使用磁场指示器来确定合适的磁场。3.2 中心导体感应磁化 对单匝中心导体，所要求的磁场强度应等于按12.1所决定的值，磁场大小应与穿过空心零件的中心导电电缆根数成正比。当采用中心导体法时，应采用磁场指示器来校验磁场的合适性。4. 磁轭 磁轭的磁化力可以试验对一块钢板的提升力来测定，在使用的最大极间距时。交流电磁轭应具有至少10lb(4.5kg)，直流磁轭或永久磁轭至少应具有40lb(18kg)。5. 灵敏度粗略核查 饼形磁场指示器或人工缺陷试片（如ASME规范第V卷图T-764.1.1和图T-764.1.2所示），可以用作核查工件磁化是否合适及磁化方向的一种方便粗略的工具。在磁粉和磁化力同时施加的情况下当磁粉横跨指示器铜质表面或试片表面形成清晰的线条时，表明有适当的磁通或磁场强度。6. 解释6.1 在可见光下完成磁粉检测。6.2 最低光强为1000Lx以保证在显示的检测和评定中具有足够的灵敏度。光源、光照技术和光强水平的确定，必须进行证明并形成文件和存档。7. 验收标准 7.1 用于ASME规范第I卷、第卷第1分册所有被检表面应没有下列显示：(a) 相关线状显示；(b) 大于3/16英寸(5mm)圆形相关显示；(c) 大于或等于1/16英寸(1.5mm)间隔，分布在一直线上有4个以上的圆形相关显示；7.2 用于ASME规范第卷第2分册：(a) 所有待检验表面应没有下列显示：1) 相关线性显示；2) 相关圆形显示大于5mm（3/16英寸）的显示；3) 一线状排列、边至边、间隔小于等于1.5mm（1/16英寸），有4个或4个以上相关圆形显示；(b) 形状类似的裂纹显示，而与表面状态无关的显示是不合格的。7.3 用于ANSI/ASME B31.1 长轴尺寸大于1/16英寸(1.5mm)的显示应认为是相关显示，下列相关显示作为不合格：(a) 任何裂纹或线状显示；(b) 大于3/16英寸(5mm)圆形显示；(c) 4个或4个以上的圆形显示呈直线分布，其边缘相隔间距小于或等于1/16英寸(1.5mm)。(d) 在任意6平方英寸(4000mm2)面积，在评定缺陷最不利部位处，其长度不超过6英寸(150mm)范围内有10个或10个以上的圆形显示。PTASME.SEC.I A270.4 （第卷）用于金属材料表面开口缺陷如裂纹、发纹、摺迭、冷隔、分层、贯穿性漏孔或未焊透的检验。检验奥氏体不锈钢、双相不锈钢或钛时，所有材料应按ASME规范第V卷第6章规范性附录II第II-642条款分别分析氯和氟含量。氯加氟总含量应不超过残余重量的1%，应具有制造厂商提供的与批号一致的测试结果证明书。检验镍基合金时，所有材料应按ASME规范第V卷第6章规范性附录II第II-641条款分析硫含量。硫含量应不超过残余重量的1%，应具有制造厂商提供的与批号一致的测试结果证明书。检验期间渗透剂和零件表面温度应保持在40F(5)125F(52)。当实际操作不能满足这些温度限值时，可使用其它的温度和时间，前提是程序按照ASME第V卷第6章附录III III-641验证过。1.施