《集成电路测试技术项目教程（活页式）》课件汇 杨莉 项目1-7 晶圆扎针测试 -74HC151芯片功能测试

模拟集成电路简介模拟集成电路简介模拟集成电路主要是指由电阻、电容、晶体管、MOS管等元器件在晶圆内部集成在一起，用来处理模拟信号的集成电路。1958年,杰克·基尔比在锗材料上用5个元件实现了一个简单的振荡器电路，成为世界上第一块集成电路。这一发明揭开了20世纪信息革命的序幕，标志着电子时代的到来。随着以计算机和通信技术为代表的高科技产品在国防科技、工业生产和日常生活中越来越广泛的应用，以集成电路为代表的微电子产业也进入了一个前所未有的发展阶段。模拟集成电路原理模拟集成电路的主角是晶体管，主要利用晶体管的放大作用。早期的模拟集成电路大都使用双极型晶体管，由于CMOS工艺的成熟，克服了早期CMOS电路速度较慢的缺点，并且有着功耗低和工艺升级换代方便的优点（CMOS的等比例缩小），如今模拟集成电路和数模混合集成电路（数字电路和模拟电路集成在一起）也常用CMOS来设计和实现了。模拟集成电路原理随着集成电路制造工艺的发展，各种各样的模拟集成电路得到迅速发展。目前模拟集成电路的种类繁杂，按照其应用划分可分为通用模拟集成电路和专用模拟集成电路两大类。通用模拟集成电路顾名思义，通用模拟集成电路是用途广泛的模拟集成电路，可以被灵活地集成于各种SoC的内部，作为SoC内部的单元模块使用。通用模拟集成电路又可以分为以下几大类：（1）运算放大器、比较器和缓冲器。运算放大器包括高速、高精度、低噪声、低功耗、轨对轨等各种通用运算放大器。比较器包括高速、高精度比较器。缓冲器的主要作用是单位增益的输入和输出电压的电平转换。（2）参考基准电路。参考基准电路主要包括电压与电流基准，其中包括低噪声系数、由低噪声电压与电流基准。通用模拟集成电路（3）电源管理电路。电源管理电路主要包括低压差线性稳压器、升压与降压式直流电压转换器、电池充放电保护电路等。（4）模数与数模转换电路。模数与数模转换电路主要包括高精度-△型ADC和DAC电路、高速ADC/DAC电路、低功耗ADC/DAC电路。规模较大的SoC芯片内部往往包含有运算放大器、电压与电流基准等通用模拟电路模块，而运算放大器的性能往往决定了整个模拟集成电路的性能，因此运算放大器是模拟集成电路的基本电路，也是核心电路。通用模拟集成电路2.专用模拟集成电路专用模拟集成电路是只能在某一类产品中使用的模拟集成电路，例如无线电专用和音频专用模拟集成电路等。专用模拟集成电路主要包括：（1）音频放大专用运算放大器，如各种输出类型的放大器、耳机放大器、立体声放大器等。（2）专用显示驱动电路，如发光二极管、液晶显示器、平板显示器、VF、CRT监视器专用显示驱动电路等。通用模拟集成电路（3）专用接口电路，如全差分信号与单端信号的接口与缓冲器、差分与单端信号的接收发送器、各种标准的以太网接口电路，以及其他标准的专用接口电路。（4）温度传感控制电路，如温度开关、数字与模拟温度传感控制电路、硬件温度监控电路。（5）其他专用模拟集成电路，如汽车专用模拟集成电路、无线专用模拟集成电路、通信专用模拟集成电路、时钟发生电路等。通用模拟集成电路专用模拟集成电路内部通常包含有通用模拟集成电路的模块，随着集成电路制造工艺的不断发展，芯片加工工艺技术水平的提高，专用集成电路的种类也大大增加。目前的SoC芯片实际上包含有系统电路的全部功能，例如各种标准的接口电路、驱动电路、ADC/DAC、功率管理等由模拟电路来承担，信号处理与传输、存储等则由数字电路完成。模拟集成电路应用模拟集成电路的基本电路包括电流源、单级放大器、滤波器、反馈电路、电流镜电路等，由它们组成的高一层次的基本电路为运算放大器、比较器，更高一层的电路有开关电容电路、锁相环、ADC/DAC等。模拟IC主要应用于在电子系统中执行对模拟信号的接收、混频、放大、比较、乘除运算、对数运算、模拟-数字转换、采样-保持、调制-解调、升压、降压、稳压等功能。电路形式有数据转换器(如A/D转换器、D/A转换器等)、运算放大器、宽带放大器等)、非线性放大器(模拟乘法器、数/反对数放大器等)、多路模拟开关、(线性调压器、开关电源控制器等)、智能功率各类专用IC。模拟集成电路应用模拟IC在其设计和工艺技术的发展过程中，形成了具有自身特点的设计思想和工艺体系;在技术发展水平、产品种类、限度地满足了信息化技术的需要;其应用已渗透到各个领域，在现代军、民用电子系统中，模拟集成电路扮演者重要角色;在信息化的各种场合，都离不开高性能的模拟IC，模拟IC性能水平的高低常常决定着电子产品或系统的水平高低。Thankyouforwatching.模拟集成电路分类模拟集成电路分类集成电路把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。模拟集成电路模拟集成电路又称线性电路，用来产生、放大和处理各种模拟信号（指幅度随时间变化的信号。例如半导体收音机的音频信号、录放机的磁带信号等），其输入信号和输出信号成比例关系模拟集成电路分类一、电池管理集成电路二、放大器三、接口电路四、微波集成电路一、电池管理集成电路1、电池管理集成电路2、电压基准电路3、电源监控电源4、LCD/LED驱动器5、电动机驱动器6、稳压器7、电源模块（含DC/DC交换器）二、放大器1、运算放大器通用放大器高速放大器功率放大器精密放大器2、差分放大器3、仪表放大器4、可变增益放大器5、特殊放大器（频率转换器，隔离放大器，线路驱动器，对数放大器，采样保持放大器，跨导放大器，互阻放大器，视频放大器等等。）三、接口电路1、时基电路（括时钟缓冲器、时钟产生与分配、时钟抖动清除器和同步、振荡器、实时时钟与计时器等）2、数据交换器模拟/数字交换器（简称ADC）数字/模拟交换器（简称DAC）集成交换器传感器模拟前端数字电位器三、接口电路3、多协议接口集成电路（协议接口集成电路包括匹配接口的缓冲器、驱动器、中继器、扩展器、加速器、发送器、接收器、收发器等等。）4、隔离器集成电路5、电路保护集成电路6、电平转换器7、开关和多路复用器四、微波集成电路微波集成电路是处理射频信号的模拟集成电路，可以分为混合微波集成电路(HMIC)和单片微波集成电路(MMIC)。微波集成电路又可以细分为：低噪声放大器可调增益放大器功率放大器限幅器衰减器RF混频器频率合成器倍频器四、微波集成电路I/Q调制解调器锁相环(简称PLL)，移相器定时和时钟(TimerAndClock)，RF发射、接收和收发器RF开关可调谐滤波器Thankyouforwatching.模拟集成电路参数1集成运算放大器集成运算放大器，简称集成运放，是模拟集成电路中一个重要的分支，也是各种电子系统中不可缺少的基本功能电路。集成运放具有输入阻抗高，输出阻抗低，差模增益高等优点，同时能够较好地抑制温度漂移，被广泛应用于模拟信号的处理以及产生电路之中。

集成运算放大器集成运放一般由输入级、中间级、输出级和偏置电路这四部分电路所组成，它具有两个输入端，分别为同相输人端μp和反相输入端μs，一个输出端μo。输入级电路一般为一个双端输入单端输出的差分放大电路，输入级电路性能的优劣会直接影响整个集成运放的大部分性能参数，因此要求集成运放的输入级的输入阻抗高、差模增益大、共模抑制比高、静态功耗低，目前主流的集成运放主要采用有源负载结构的CMOS差分放大器作为输入级。输入级中间级输出级偏置电路UOUPUN集成运放结构示意图集成运算放大器中间级是集成运放的主放大器，其作用是进一步增强集成运放对于差分信号的放大能力，多采用恒流源负载的CMOS共源放大器作为中间级结构。集成运放的输出级应具有输出电压线性范围宽、输出阻抗低、非线性失真小等特点，集成运放的输出级多采用互补输出电路。偏置电路用于设置集成运放中各级放大电路的静态工作点，一般采用CMOS电流镜电路作为偏置电路。输入级中间级输出级偏置电路UOUPUN集成运放结构示意图1.输入失调电压测试原理

集成运放输入失调电压测试原理图2.静态功耗测试原理集成运放的静态功耗是指在运放输入端无输入信号，集成运放内部所消耗的功率，记为PD。该参数与运放的电源电压和静态电流相关。集成运放静态功耗的测试电路如图所示。测试时，待测运放的两个电源端分别接人测试机的两个测试端口，辅助运放的输出端口悬空，采用加电压测电流的方法，在运放的两个电源端施加指定的正负工作电压，测试此时从电源端流入或流出的电流大小，然后通过公式计算出集成运放的静态功耗集成运放静态功耗测试原理图3.输出摆幅测试原理输出摆幅是指集成运放在规定的电源电压和负载下，所能输出的最大正峰值电压和最大负峰值电压，该值越接近电源电压，说明集成运放的性能越好。输出摆幅的测试电路如图所示，测试时将集成运放的输出端接指定负载RL、CL，并与测试机的测试端口相连，反向输入端接地，先将开关S置于位置1，使集成运放的同相输人端接正电源电压U+，测试输出端电压UO1，电压UO1为集成运放的正峰值电压，再将开关S置于位置2，测试输出端电压UO2，电压UO2为集成运放的负峰值电压。集成运放输出摆幅测试原理图4、开环增益测试原理开环增益是指集成运放在开环状态下，运放的输出电压变化与差模输入电压变化之比，记为Auo。这是运放一个非常重要的参数，开环增益越大，运放的性能越好。开环增益的测试电路如图所示。集成运放开环增益测试原理图4、开环增益测试原理

Thankyouforwatching.模拟集成电路参数2共模抑制比测试测试原理共模抑制比（CMRR）定义为放大器对差模电压的放大倍数与对共模电压放大倍数之比，表征差分电路抑制共模信号及对差模信号的放大能力，单位为分贝（dB）。共模抑制比的测试方式有两种方式：辅助运放测试法（共模输入法）简易测试法辅助运放测试法U1为被测运放，U2为辅助运放，通过改变输入电压的方式改变输入共模电压，分别测量变化前后失调电压，计算共模抑制比。简易测试法运放在单端使用时不存在这个概念，只有当使用运放的两端输入时，这个概念才会产生。在图中，差模增益Ad=R2/R1，如果电路的两个输入端加入相同的输入电压Uic，在输入端理论上应为0输出，但是因为有失调电压的存在，实际会测量到输出，那么共模抑制为：其本质的意义就是将输出电压按照差模增益折算到输入端，再让输入电压除以它--共模输入被抑制了多少倍。电源抑制比是输入电源变化量（以伏为单位）与转换器输出变化量（以伏为单位）的比值，常用dB表示。通常用电源的单位电压变化所引起的器件输入失调电压的变化率。对于高质量的D/A转换器，要求开关电路及运算放大器所用的电源电压发生变化时，对输出的电压影响极小。通常把满量程电压变化的百分数与电源电压变化的百分数之比称为电源抑制比。最大输出电流测试是指当运放的输出与地、电源的两个端电压之一短接时，运放可以给出的最大输出电流。短路电流确定了运放输出的驱动能力，在很多运放中短路输出电流包括源（sourcing）电流和阱（sinking）电流。分别表示输出端和正电源与负电源短接时的最大输出电流。输入偏置电流使被测器件输出电压为零（或规定值：针对单电源运放测试）时，流入两输入端电流的平均值。IB=(IB_+IB+)/2。输入失调电流输入失调电流是单片运放的制造工艺趋于使电压反馈运放的两个偏置电流相等，但不能保证两个偏置电流相等。输入失调电流（IOS），使被测器件输出电压为零（或规定值：针对单电源运放测试）时，流入两输入端的电流之差。最大输出电流测试是指当运放的输出与地、电源的两个端电压之一短接时，运放可以给出的最大输出电流。短路电流确定了运放输出的驱动能力，在很多运放中短路输出电流包括源（sourcing）电流和阱（sinking）电流。分别表示输出端和正电源与负电源短接时的最大输出电流。说明：运放接成双电源同向缓冲器，输出接1欧姆电阻接地，提高输入电压至1V以上，测量输出电压，即1欧姆电阻两端电压即可，此时输出电压不会随输入电压线性变化。运放内部一般具有输出端限流电路，即使长时间输出短路也不会损坏。上述方法测量得到的电流为限流电流值，即手册中给出的最大输出电流。Thankyouforwatching.模拟集成电路参数3三端稳压芯片测试参数简介三端稳压器件是基本的模拟集成电路，三端稳压器件具有三个端口，分别为输入端、输出端以及共地端。其基本功能是将输入端接入的稳定性差的输入电压转换为一个恒定的电压并加载到输出端，为电路系统中其他的元器件提供一个稳定的工作电压。接下来以一种常用的三端稳压器为例，介绍一下三端稳压器在晶圆测试阶段主要的测试参数。1.输出电压测试原理三端稳压芯片的输出电压是指当芯片输出电流保持恒定，输入端施加指定范围内的电压时，芯片输出端的电压。三端稳压芯片输出电压的测试电路如图7.1所示，将三端稳压芯片的输入端和输出端分别接入测试机两个测试端，共地端接地。在输入端施加规定的电压，输出端施加规定的电流（负载），使用测试机内部的高精度电压表测试稳压芯片的输出端电压，该电压值即为三端稳压芯片的输出电压。INDUTOUT高精度电压表

（DVM）程控电压源

（VIS）程控电子负载

（PEL）三端稳压芯片输出电压测试原理图2、静态电流测试原理三端稳压芯片的静态电流是指芯片输入端施加指定电压，输出端不接任何负载时，芯片消耗的电流。三端稳压芯片静态电流的测试电路如图所示，测试时将芯片的输入端接入测试机测试端，输出端悬空，共地端接地，使用加压测流的测试方法，在输入端施加指定电压，用高精度电流表测试此时流入芯片内部的电流大小，即为静态电流。INDUTOUT程控电压源

（VIS）三端稳压芯片静态电流测试原理图3、线性调整率

INDUTOUT高精度电压表

（DVM）程控电压源

（VIS）➖✖100➕固定电流三端稳压芯片线性调整率测试原理图VS4.负载调整率测试

INDUTOUT高精度电压表

（DVM）电压源

程控电子负载

（PEL）➖✖100➕VS三端稳压芯片负载调整率测试原理图感谢聆听集成电路测试简介集成电路测试在产业链中的地位51集成电路整体产业链

集成电路整体产业链首先从设计开始，然后是集成电路晶圆制造；制造完成的晶圆要经过集成电路晶圆测试环节后才能进行封装；封装完成的电路需要再次经过测试，并判断合格后才能进入终端客户应用市场。可以看到在整个集成电路产业链中有集成电路晶圆测试、集成电路成品测试两个测试环节，它们在整个产业链中起着非常重要的作用。测试原理52集成电路测试原理集成电路测试原理如图，图中，待测电路DUT（DeviceUnderTest）可以是集成电路晶圆，也可以是封装完成的集成电路成品电路；针对每一种DUT都要制定相应的测试规范，从而形成一组测试输入，测试输入也称为测试码或者测试生成（TestGeneration）；测试系统根据测试输入生成输入定时波形，并施加到待测电路的输入引脚上，然后从待测电路的输出引脚上采样得到相应的输出波形，形成一组测试输出（或者称为测试响应），并分析该测试响应是否完整、正确地显示了待测电路的实际输出。测试输入（测试码）待测电路（DUT）测试输出（测试响应）测试系统测试原理53集成电路测试主要考虑DUT的技术规范，如电路最高时钟频率、指标精度、输入/输出引脚的数目等。另外，还要考虑测试费用、电路可靠性、测试服务能力、软件编程难易程度等。测试原理测试输入（测试码）待测电路（DUT）测试输出（测试响应）测试系统集成电路测试原理图中的测试系统大致包括以下几部分：（1）测试仪：主要用来给待测电路施加输入，并采样输出。（2）测试界面：主要根据DUT的封装形式、最高时钟频率及测试仪的资源配置和界面板卡形式等合理地选择测试插座，并设计制作测试负载板。（3）测试程序：主要包括控制测试仪的指令序列，其中需要考虑待测电路的类型、物理特征、工艺、功能参数、环境特性、可靠性等。测试目的集成电路测试的目的，是保证芯片在恶劣环境下，能够完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。集成电路测试通常是由一系列测试项目组成的，从各个方面对芯片进行充分测试。每一个测试项目都会产生一系列的测试数据，不仅可以判断芯片性能是否符合标准、是否可以进入市场，而且还能从测试结果的详细数据中，充分、定量的反映出每个芯片从结构、功能到电气特性的各种指标。集成电路测试的分类根据在产业链中所处的位置，集成电路测试分为集成电路晶圆测试和集成电路成品测试两大类。本书主要介绍集成电路晶圆测试技术。根据目的和应用，集成电路测试分为抽样测试、可靠性测试和产品定型测试等。根据测试的侧重内容，集成电路测试分为功能测试、性能参数测试等。根据待测电路的类型，集成电路测试分为数字集成电路测试、模拟集成电路测试、混合信号集成电路测试以及超大规模片上系统电路（SOC）测试等。集成电路测试的应用集成电路测试是验证设计、控制工艺、管理生产、保证质量、分析失效以及指导应用等的重要手段；集成电路测试应用在集成电路开发、生产和使用的全过程。1.晶圆测试根据晶圆测试结果，集成电路设计人员可以进行设计评估；集成电路工艺人员可以进行工艺的调整；集成电路生产运行管理人员可以制订生产计划等等。集成电路测试的应用582.成品测试根据成品测试结果可以挑选出合格的产品；也可以根据实际测试得到的性能参数指标对产品进行分级并统计各级电路数量。一般质量管理人员监控产品的质量；生产运行管理人员控制产品的生产计划。3.其他阶段集成电路测试除了以上两大类集成电路测试类型及相关应用外，在集成电路开发和生产过程中还会进行以下几种类型的测试，它们同样很重要。集成电路测试的应用（1）抽检测试。为了确保集成电路产品的质量，通常会对准备入库的合格电路进行抽检，以检验其是否确实达到了规定的质量要求。另外，在向客户提供批量产品前，也会根据需要进行抽检。集成电路测试的应用（2）可靠性测试。可靠性是指集成电路长期使用的可靠度指标，是电路在规定时间和额定条件下工作时出现故障的概率。为评估电路的可靠性，需要进行可靠性测试。通常是在高电压、大功率等外加应力情况下，测试电路的电性能参数，进而评估这些参数的变化量。集成电路测试的应用（3）产品定型测试。在集成电路产品设计定型、生产定型时，为全面鉴定产品的电性能所做的测试即为产品定型测试。这种测试有别于其他测试类型，主要表现在除了要测试规定环境和额定工作条件下电路的各项性能指标是否符合规范要求外，还需测试电路的允许工作范围，如工作电压、工作温度等。这种测试主要用于电路的失效分析、可靠性研究等。Thankyouforwatching.集成电路测试平台

基于LK8820的测试平台集成电路测试在产业链中的地位集成电路整体产业链

集成电路整体产业链首先从设计开始，然后是集成电路晶圆制造；制造完成的晶圆要经过集成电路晶圆测试环节后才能进行封装；封装完成的电路需要再次经过测试，并判断合格后才能进入终端客户应用市场。可以看到在整个集成电路产业链中有集成电路晶圆测试、集成电路成品测试两个测试环节，它们在整个产业链中起着非常重要的作用。测试平台概述LK8820集成电路开发教学平台由控制系统、接口与通信模块、参考电压与电压测量模块、四象限电源模块、数字功能管脚模块、模拟功能模块、模拟开关与时间测量模块组成，可实现集成电路芯片测试、板级电路测试、电子技术学习与电路辅助设计。通过本平台进行典型集成电路芯片测试以及应用电路的设计，电路板的焊接和调试，培养学生的实践应用能力。测试平台概述平台的主要特点如下：测试主机通过USB接口与工控机进行数据交换；采用双层机架，最多可以配12块测试模块；测试总线一体化设计，挂载测试模块更方便；高精度电源由软件控制，测试主机具有自我保护功能；最多可扩展到64个功能测试管脚，8个电压电流源通道；最多可扩展到256个光继电器矩阵开关、32个用户继电器；配备TTL接口，可连接智能芯片分选机进行芯片测试；支持TMU功能，能测量数字芯片上升沿、下降沿、建立时间等参数；提供高精度的交流信号源，支持正弦波、三角波、锯齿波输出；提供低速/高速、高精度交流信号测量功能；测试平台构成LK8820集成电路开发教学平台整体采用智能化、模块化、工业化设计，整个开发教学平台由不同的电源模块和信号模块组成，可以根据用户产品的实际测试需求选择适合的模块及数量，各模块在机架内插入槽位不受限制，插入后软件自动识别并加以控制。平台结构及模块组成如图所示，主要组成如下：供电电源：AC220V/5A；对外接口：USB2.0/USB3.0/AC220V/测试接口；工控机：8G内存/500G硬盘/19英寸触控显示器/Windows10操作系统；工业级配置：工业机柜、触控显示屏、高精度电源、软启动装置、安全指纹门锁、人体工学模组、漏电保护装置、静音直流风扇、工作照明装置；测试主机：CM测试模块、VM测试模块、PV测试模块、PE测试模块、WM测试模块、ST测试模块；配套软件：LK8820-SP集成电路开发教学软件；LK8820系统控制模块测试主机模块单元（1）接口与通信模块（CM）接口与通信模块（简称CM板）是进行数据通信、电源状态指示、RGB灯控制、软启动继电器控制。测试主机模块单元（2）参考电压与电压测量模块（VM）参考电压与电压测量模块可提供四个参考电压，四个参考电压可通过程序设定，分别为输入高电平（VIH）、输入低电平（VIL）、输出高电平（VOH）、输出低电平（VOL）。电压测量功能，可测试范围±30V。测试主机模块单元（3）四象限电源模块（PV）四象限电源模块可输出四路电压电流源，提供精密四象限恒压、恒流、测压、测流通道。电压最大范围±30V，电流最大范围±500mA。可根据用户需求扩展至2个四象限电源模块（8通道），用于满足64pin以下芯片测试需求。测试主机模块单元（4）数字功能管脚模块（PE）数字功能管脚模块是实现数字功能测试的核心，能给被测电路提供输入信号，测试被测电路的输出状态。数字功能管脚模块提供16个管脚通道，可根据用户需求扩展至4个数字功能管脚模块（64通道），用于满足64pin以下芯片测试需求。测试主机模块单元（5）模拟开关与时间测量模块（ST）模拟开关与时间测量模块功能主要有16个用户继电器、128个光继电器矩阵开关、1kHz~1MHz用户时钟信号、TMU测试功能。可根据用户需求扩展至2个模拟开关与时间测量模块，用于满足64pin以下芯片测试需求。测试主机模块单元（6）模拟功能模块（WM）模拟功能模块是测试机实现交流信号测试的，主要功能是提供交流信号输出与交流信号测量功能，可输出波形有正弦波、三角波、锯齿波，能测量交流信号的有效值、总谐波失真度。测试平台电源

开发教学平台电源是经过专门设计的专用电源，为测试机提供+5V、+12V、±24V、±36V等电源，电源开启时短时交流电流会达到25-30A，因此桥架上开关容量至少40A。开发教学平台电源完全由测试系统软件控制和监控，并具备以下特性：由测试系统软件打开和关闭电源；测试系统软件退出时自动关闭电源；按面板上的复位按钮时可紧急关闭电源，并自动停止测试；电源出现过载或输出短路时自动关闭电源，并报警；电源输入交流电断电时自动关闭电源，并报警；带电插拔测试机中的PCB板(严禁这样操作)时，自动关闭电源；电源自动关闭报警时，需要按面板上的复位按钮后才能再开启电源。Thankyouforwatching.测试资源在使用基于LK8820的集成电路测试平台进行芯片测试时，需要结合LK230T集成电路测试资源系统来完成芯片测试。1．使用LK230T的原因由于基于LK8820的集成电路测试平台在完成一个测试方案时，需要搭建测试电路以及完成测试电路板的焊接，过程较为复杂还容易出错。为了简化使用者的繁复操作，降低集成电路测试平台的使用难度，LK230T集成电路测试资源系统提供了丰富的测试电路实例，来满足用户需求的多样化。测试资源LK230T资源系统主要由测试板放置区、应用电子模块放置区、耗材放置区、测试区、接口区和练习区组成，实验箱配有测试案例板、应用电子模块和耗材，可以进行案例测试，也可以进行自主练习测试，如上图所示。LK230T组成（1）测试区测试区具有测试的便利性和可扩展性，扩展了基于LK8820的集成电路测试平台功能，如图所示。LK230T组成LK230T组成（2）练习区练习区采用面包板进行动手能力训练，具有免焊接，降低耗材成本以及操作灵活等优点，如图所示。LK230T组成LK230T组成（3）手持式万用表满足实训中的仪器需求，实现数据的可视化，如图所示。LK230T组成LK230T资源清单Thankyouforwatching.测试软件软件架构LK8820芯片测试管理系统是专为LK8820集成电路开发教学平台配套的专用测试系统软件，通过测试系统软件，用户可有效组织系统构架，方便进行多种芯片的参数测试。LK8820测试软件运行于win10x64位环境，基于系统软件，用户可方便的新建、打开、修改用户测试程序，并为用户建立完全独立的C/C++编程环境，用户通过使用测试机专用函数，可以有效的使用和控制测试机硬件资源，在VS2013C/C++编程环境中编写出属于自己的测试程序。软件运行双击“LK8820图标”运行LK8820测试软件，弹出LK8820测试系统登录界面，如图所示。LK8820软件快捷方式LK8820测试系统登录界面通常用户名和密码是默认的，只需要直接单击“登录”按钮即可进入系统主界面。软件运行用户在相应的编辑框中中输入对应的用户名和密码，点击<登录按钮>，如在后台本地数据库中查到相应的信息，完成登录进入系统主界面。该叶面左侧为功能栏，8个功能按钮分别对应设备设置、芯片测试、数据显示、云平台、日志管理、用户管理、分选测试、系统退出等功能。用户设置单击“用户设置”，进入用户管理界面，可新增、删除、修改用户的相关信息，可对用户数据库进行管理，并且可定义管理员以下级别用户的权限信息。用户设置界面用户管理选中某行用户可将信息显示在右侧的四个编辑框中，同时鼠标双击某一单元格可以直接进行信息改写。选中某行用户信息后点击<用户删除>完成删除用户操作，在右侧四个编辑框中填写新用户信息，点击<用户增加>完成新增用户。修改用户名指示步骤修改用户权限指示步骤用户日志测试系统软件使用过程中，自动完成对用户操作的日志记录和保存，同时用户可以对自己当前的历史记录进行查看和查询。如下图所示:点击<日志信息>显示出当前软件使用过程中的操作日志信息输入日志字段(可在下拉列表中参看具体字段)和关键字(例如:通讯状态中的关键字为正常或异常)，可以进行日志查询，快速定位和检索目标日志信息。芯片测试芯片测试功能窗口，如下图所示，用户可通过创建工程，编写自己的测试程序，运行编译后生成可执行程序，完成载入过程，点击开始测试，便可在屏幕中心显示打印出所测试出的数据结果。右侧信息栏为显示出当前测试的次数，时间，测试工程名，测试版本等基本信息。最上方为测试功能栏，分别对应软件启动，创建程序，载入程序，开始测试，暂停测试，手动(连续)测试，数据打印，实验配置，卸载退出等功能。云平台在主界面点击<云平台>，提供了集成电路云平台系统的网络接口，用户可直接访问云平台系统，如下图所示，为了保证更好的使用体验，建议在电脑中将谷歌或者火狐浏览器设置为默认浏览器。分选测试点击主界面<分选测试>，将进入分选相机功能窗口，在分测试中提供了对芯片智能识别及处理的功能，配合分选设备完成对芯片的分选。该功能采用图像识别技术，判断芯片丝印、封装形式、外观缺陷等特征。上位机实时监控，图像采集、产能统计、批次对比、数据分析。窗口上方为功能栏，分别对应重启，开始/暂停预览，停止相机，字符校准，设置，拍照等功能。下方状态栏为获取到图像的分辨率，显示帧率，捕捉帧率等基本信息。右侧为处理结果指示灯提示及字符匹配度显示区域，包括文字识别显示及图像OK/NG显示。芯片字符管理列表:为方便用户减少字符校准方面的设置，提供了相关芯片字符校准的便捷设置方式，在其下拉列表中为若干芯片(已完成字符校准的属性设置)。分选统计:统计分选测试的数量及合格数量。Thankyouforwatching.测试硬件环境1.LK8820的测试板LK8820的测试板，也称为DUT板。在进行芯片测试时，通常需要搭建焊接测试电路板。目前LK8820的测试板使用MiniDUT板，如图所示。2.LK8820的测试转接板LK8820的测试转接板有6个96Pin接口（母接口），MiniDUT板主要是通过这些接口连接在测试机上进行测试。LK8820的测试转接板，如图所示。2.LK8820的测试转接板将LK8820的ViniDUI板的正面向外、丝印向下插接到测试转接板上,如图所示。3.LK8820的外挂测试接口LK8820的外挂测试接口在LK8820机体的右面上侧,如图所示。LK8820的外挂测试接口也有6个96Pin接口（公接口），在进行芯片测试时，可将插接有MiniDUT板的测试转接板，正面向外、丝印向下插接到外挂测试接口上，如图所示。测试硬件环境搭建步骤根据任务描述，需要按照芯片测试电路图，完成芯片测试接口配接表设计、MiniDUT板芯片测试电路焊接以及转接板测试电路搭建。1.测试接口芯片引脚与LK8820的芯片测试接口，是芯片测试电路设计的基本依据。XX芯片引脚与LK8820测试接口的配接表设计，如表所示。测试硬件环境搭建步骤2.MiniDUT板测试电路焊接根据芯片测试接口配接表，在.MiniDUT板上搭建焊接测试电路板，如图所示。（1）在MiniDUT板正面的指定位置上，插上一个XX芯片，芯片正面缺口向上。（2）在MiniDUT板反面的指定位置上，用连接线将XX芯片的引脚，依次对应焊接到MiniDUT板反面两边的针插引脚上。测试硬件环境搭建步骤3．搭建转接板测试电路（1）先将焊接好的XX芯片测试电路的MiniDUT板，正面向外、丝印向下插接到测试转接板上。（2）参考表1-2所示的XX芯片引脚与LK8820测试接口的配接表，用杜邦线将XX芯片的引脚，依次对应连接到测试转接板上的96Pin的接口上，如图1-21所示。测试硬件环境搭建步骤（3）将搭建好的转接板测试电路，插接到LK8820外挂盒的芯片测试接口上，XX芯片测试电路搭建完成，如图所示。Thankyouforwatching.创建测试程序创建测试程序在创建第一个集成电路测试程序之前，我们需要先打开测试平台，其步骤如下：第一步：打开LK8820前面板，打开专用电源开关，如图所示。创建测试程序第二步：打开工控机电源开关创建测试程序1.创建XX芯片测试程序在<芯片测试>界面点击<创建程序>按钮，进入新建程序窗口，如图所示，点击程序路径选择按钮，弹出右侧文件对话框，选择一个目录作为新建程序的保存路径。点击<确定>完成自己工程的创建，<取消>则取消本次创建。创建测试程序2.配置工程属性。在创建工程后，通常需要配置工程属性。双击后缀名为XX芯片.sln的文件，打开创建的XX芯片测试程序。先右键单击“解决方案资源管理器”的“XX芯片”工程名，然后在弹出菜单中，单击最后一行的“属性”选项，如图所示。创建测试程序打开的XX芯片属性页后，在属性页的“配置（C）：”中选择“Debug”，在“平台（P）：”中选择“x64”，如图所示。另外，还可以进入下图中的“配置管理器”，进行属性配置。在红框中选择x64后，返回上一级的属性页中，先点击<应用>，再点击<确定>，(注意顺序，否则可能配置未应用)，完成以上的配置后，就可以编写代码了。创建测试程序3.编写测试程序在“解决方案资源管理器”中，打开“J8820_luntek.cpp”。J8820_luntek.cpp主要包含头文件包含、测试程序信息函数以及主测试程序函数，其中主测试程序函数，是需要我们编写测试程序代码的。（1）PASCALJ8820_luntek_inf（）函数PASCALJ8820_luntek_inf（）是测试程序信息的函数，是一个自动生成的代码，不需要我们编写或修改的。创建测试程序（2）PASCALJ8820_luntek（）函数PASCALJ8820_luntek（）是一个主测试程序函数，主要包括测试程序初始化、直流参数测试、功能测试以及输出测试结果等，这些代码都需要我们编写。自动生成的主测试函数inlinevoidPASCALJ8820_luntek（），代码如下：1.inlinevoidPASCALJ8820_luntek(

)2{3.//空函数体，可添加测试芯片代码4.}这时，还需要在这个空函数中编写测试XX芯片的代码，具体代码在后面的项目中介绍。编写完测试程序后进行编译，若编译发生错误，要进行分析检查，直至编译成功为止。创建测试程序4.修改def文件在创建工程时,会自动生成一个det文件模板,在"解决方案资源管理器"中,打开"XX芯片.det"。在def文件模板上，根据XX芯片的测试条件要求，修改def文件模板的每行每列内容。创建测试程序5.XX芯片测试程序载入运行先将搭建好的XX芯片测试电路，插接到LK8820外挂盒的芯片测试接口上，然后进行XX芯片测试程序载入运行操作。操作步骤如下：（1）运行LK8820测试软件，通过LK8820测试系统登录等操作，进入芯片测试界面；（2）单击“载入程序”，弹出“程序选择”界面，然后通过XX芯片测试程序的文件夹、经x64文件夹、定位到Debug文件夹，获取XX芯片的动态链接库文件、并完成芯片测试程序的载入，如下图所示；创建测试程序（3）测试设置完成程序载入后，在<芯片测试>功能栏中选择测试方式。<手动测试>按钮每次只测试一遍。<手动连续>按钮按下后就能连续测试，点击<暂停测试>就会停止测试。每一次测试完成后，会将打印屏幕刷新，显示出当前新一轮的测试结果。右侧测试信息栏会相应的刷新数据。完成一轮芯片测试后，若有保存此轮数据的需求，点击<数据打印>按钮，自动生成数据模板保存于本地。<实验配置>提供了测试程序中所要测试参数的基本信息。创建测试程序（4）程序测试选择好测试方式后，点击<开始测试>按钮进行测试，结束此次测试后会将结果输出到屏幕中。观察XX芯片测试程序运行结果,是否符合任务要求。若运行结果不能满足任务的要求,要对测试程序进行分析检查修改,直至运行结果满足任务要求为止。Thankyouforwatching.集成电路静态测试集成电路电性能测试电性能测试静态测试动态测试集成电路静态测试静态测试主要检测集成电路对于直流输入信号的响应，俗称为直流测试。1.静态功能测试将直流高、低电平各种输入信号组合施加到待测电路上，检测其输出端的响应，判断是否符合电路预先设计的功能。2.静态参数测试将直流电压、电流施加到待测电路上，待电路进入稳定状态后，测试其直流特性参数。静态参数测试数字集成电路输出高低电平输入和输出电压静态参数静态参数测试模拟集成电路输入偏置电压/电流电路的功耗静态参数输入失调电压/电流静态参数测试方法方法一：在待测试端施加直流电源，同时在该端口测量直流电流；方法二：是在待测试端施加直流电流，同时在该端口测量直流电压。静态参数测试时必须确保初始值为零，另外还要保证测试的稳定性，防止自激；可以采用增加屏蔽、添加电容滤波等手段来避免。Thankyouforwatching.集成电路动态测试集成电路动态测试动态测试主要检测集成电路对于交流输入信号的响应，通常称为交流测试。1.动态功能测试主要指针对大规模数字电路在额定负载和频率规范内，进行其功能测试；针对模拟电路进行的实装测试等。2.动态参数测试包括数字电路的脉冲响应测试、时间参数测试等；还包括模拟电路的频率响应测试和增益、频宽等参数的测试等。动态参数表征电路动态性能的参数即为动态参数。对于数字集成电路来说主要就是时间参数，如高/低电平持续时间、信号上升/下降时间、信号建立/保持时间、工作周期、传输延时时间等等。动态参数测试方法动态参数还可以通过利用时间测量仪器来进行测试。动态参数测试主要方法是通过逐步改变定时信号的设置而进行动态功能测试，具体来说是通过形成一定格式的输入测试信号，添加到待测电路的输入端，然后在其输出端检测相应的信号，在判断动态功能是否满足预期的情况下，还可以具体给出时间参数测试值。Thankyouforwatching.LK8820测试机常用函数LK8820测试机常用函数1._set_logic_level()函数原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函数功能：设置驱动参考电压和比较参考电压。参数说明：vih——驱动高电平（V），电压范围-10~+10V、vil——驱动低电平（V），电压范围-10~+10V、voh——比较高电平（V），电压范围-10~+10V、vol——比较低电平（V），电压范围-10~+10V；应用实例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//设置驱动电压vih为5V，vil为0V，voh为4V，vol为1V。LK8820测试机常用函数2._measure_v()函数原形：float_measure_v(unsignedintchannel，unsignedintgain)；函数功能：测量电源通道电压，返回值范围-30~30V，单位V；参数说明：chanel——电源通道（1，2，3···8）、gain——测量增益（1，2，3）；1：衰减比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；应用实例：_measure_v(1，2)；//测量电源通道1的电压，增益一倍。LK8820测试机常用函数3._measure_i()函数原形：float_measure_i(unsignedintchannel，unsignedintstate，unsignedintgain)；函数功能：选择合适电流档位，精确测量工作电流，单位μA；参数说明：channel——电源通道（1，2，3···8）、state——电流档位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；gain——测量增益（1，2，3）；1：衰减比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；应用实例：_measure_i(2，4，3)；//测量电源通道2电流，量程为1mA，增益5倍；注意：若选择电流档位量程小于待测电流值，返回值为该电流档位量程值。LK8820测试机常用函数4._on_vpt()函数原形：void_on_vpt(unsignedintchanel，unsignedintcurrent_state,floatvoltage)；函数功能：设置输出电压源通道及电压值；参数说明：chanel——电源通道（1，2，3···8）、current_state——电流档位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；voltage——输出电压（V），电压范围-30~+30V；应用实例：_on_vpt(1，2，5)；//设置电源通道1输出5V，电流档位量程为100mA；注意：调用_on_vpt函数后，为了使源的内部达到稳定状态，需要至少延时10ms再执行其他操作。LK8820测试机常用函数5._on_ip()函数原形：void_on_ip(unsignedintchannel，floatcurrent)；函数功能：设置输出电流源通道及电流值；参数说明：channel——电源通道（1，2，3···8）、current——输出电流（uA），-500000~+500000uA；应用实例：_on_ip(3，20000)；设置电源通道3输出20mA电流；注意：调用_on_ip函数后，为了使源的内部达到稳定状态，需要至少延时10mS再执行其他操作。Thankyouforwatching.LK8820测试机常用函数LK8820测试机常用函数1._sel_drv_pin()函数原形：void_sel_drv_pin(unsignedintpin，...)；函数功能：设定输入（驱动）管脚，打开PIN脚输出；参数说明：pin，...——管脚序列（1，2，3，···64），管脚序列要以0结尾应用实例：_sel_drv_pin(1，3，5，0)；//设定PIN1，3，5为驱动管脚；注意：在设定输入（驱动）管脚时，测试机将自动断开PMU管脚，如果需要使用PMU功能，必须闭合PMU管脚。LK8820测试机常用函数2._set_logic_level()函数原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函数功能：设置驱动参考电压和比较参考电压。参数说明：vih——驱动高电平（V），电压范围-10~+10V、vil——驱动低电平（V），电压范围-10~+10V、voh——比较高电平（V），电压范围-10~+10V、vol——比较低电平（V），电压范围-10~+10V；应用实例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//设置驱动电压vih为5V，vil为0V，voh为4V，vol为1V。LK8820测试机常用函数3._set_drvpin()函数原形：void_set_drvpin(char*logic，unsignedintpin，...)；函数功能：设置输出驱动脚的逻辑状态；参数说明：*logic——逻辑标志（“H”，“L”），H：高电平，L：低电平pin，...——管脚序列（1，2，3，…64），管脚序列要以0结尾；应用实例：_set_drvpin(“H”，1，3，5，0)；//设定PIN1，3，5输出高电平。LK8820测试机常用函数4._sel_comp_pin()函数原形：void_sel_comp_pin(unsignedintpin，...)；函数功能：设定输出（比较）管脚，打开PIN脚输入；参数说明：pin，...——管脚序列（1，2，3，···64），管脚序列要以0结尾；应用实例：_sel_comp_pin(1，3，5，0)；//设定PIN1，3，5为比较管脚；注意：在设定输入（驱动）管脚时，测试机将自动断开PMU管脚。LK8820测试机常用函数5._read_comppin()函数原形：int_read_comppin(char*logic，unsignedintpin，...)；函数功能：读取比较脚的状态或数据。当*logic=“H”时，返回0则pass，否则为fail。当*logic=“L”时，返回0则pass，否则为fail；参数说明：*logic——逻辑标志（“H”，“L”）、pin——管脚序列（1，2，3，···64），管脚序列要以0结尾；应用实例：_read_comppin(“H”，1，3，5，0)；//比较PIN1，3，5是否为高电平。Thankyouforwatching.LK8820测试机常用函数

——VM板LK8820测试机常用函数测试程序是测试机用户根据芯片测试规范，调用测试机自带的函数库内部的函数编写的软件，目前常用的测试机系统编程环境为TurboC2.0,芯片测试程序运行于DOS环境。测试程序除了可用于TurboC2.0提供的全部函数外，还需要用到测试机厂家提供的一些专用函数，这些函数以库函数cl.lib和包含文件user.h的形式提供，下面介绍一下LK8820测试机的常用测试函数。LK8820测试机常用函数VM板函数测试机常用函数PV板函数PE板函数ST板函数WM板函数VM板简介参考电压与电压测量模块（VM板）可提供四个参考电压，四个参考电压可通过程序设定，分别为输入高电平（VIH）、输入低电平（VIL）、输出高电平（VOH）、输出低电平（VOL）。具备电压测量功能，可测试范围±30V。VM板的常用函数包括：设置逻辑电平函数_set_logic_level()、电压测量函数_measure_v()、电流测量函数_measure_i()。VM板函数简介1._vm_init()函数原形：_vm_init()；函数功能：VM板初始化，参考电压预置到0V，关闭AD采样通道。参数说明：无参数应用实例：_vm_init()； //VM板初始化VM板函数简介2._set_logic_level()函数原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函数功能：设置驱动参考电压和比较参考电压。参数说明：vih——驱动高电平（V），电压范围-10~+10V、vil——驱动低电平（V），电压范围-10~+10V、voh——比较高电平（V），电压范围-10~+10V、vol——比较低电平（V），电压范围-10~+10V；应用实例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//设置驱动电压vih为5V，vil为0V，voh为4V，vol为1V。VM板函数简介3._measure_v()函数原形：

float_measure_v(unsignedintchannel，unsignedintgain)；函数功能：测量电源通道电压，返回值范围-30~30V，单位V；参数说明：chanel——电源通道（1，2，3···8）、gain——测量增益（1，2，3）；1：衰减比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；应用实例：_measure_v(1，2)；//测量电源通道1的电压，增益一倍。VM板函数简介4._measure_i()函数原形：

float_measure_i(unsignedintchannel，unsignedintstate，unsignedintgain)；函数功能：选择合适电流档位，精确测量工作电流，单位μA；参数说明：channel——电源通道（1，2，3···8）、state——电流档位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；gain——测量增益（1，2，3）；1：衰减比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；应用实例：_measure_i(2，4，3)；//测量电源通道2电流，量程为1mA，增益5倍；VM板函数简介5._get_ad()函数原形：float_get_ad(unsignedintchannel，unsignedintgain);函数功能：读取A/D输入电压值，返回值范围-10~10V，单位V。参数说明：channe——测量通道（1，2，3···16）其中测量通道1，3，5，7，9，11，13，15测量电流通道电压值，测量通道2，4，6，8，10，12，14，16测量电压通道电压值。 gain——测量增益（1，2，3）1：衰减比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍应用实例：_get_ad(2,2); //测量电源通道1的电压值，无增益Thankyouforwatching.LK8820测试机常用函数

——PE板PE板简介数字功能管脚模块是实现数字功能测试的核心，能给被测电路提供输入信号，测试被测电路的输出状态。数字功能管脚模块提供16个管脚通道，可根据用户需求扩展至4个数字功能管脚模块（64通道），用于满足64pin以下芯片测试需求。PE板的常用函数包括：_on_fun_pin()、_off_fun_pin()、_on_pmu_pin()、_off_pmu_pin()、_sel_drv_pin()、_set_drvpin()、_sel_comp_pin()、_read_comppin()、_rdcmppin()、_on_pmu()、_off_pmu()、_pmu_test_vi()、pmu_test_iv()、_read_pin_voltage()PE板函数简介1.void_pe_init()函数原形：void_pe_init(unsignedintmodule);函数功能：PE板初始化，复位PMU通道，断开PIN脚输出。参数说明：module——板卡号（1，2，3，4）应用实例：_pe_init(1)； //PE板

板卡1初始化PE板函数简介2._on_fun_pin()函数原形：void_on_fun_pin(unsignedintpin，…);函数功能：闭合功能管脚继电器，打开PIN脚输出。参数说明：pin，...——管脚序列（1，2，3，···64），管脚序列要以0结尾。应用实例：_on_fun_pin（1，5，6，0）； //闭合PIN1，5，6的功能管脚继电器PE板函数简介3._off_fun_pin()函数原形：void_off_fun_pin(unsignedintpin，...);函数功能：断开功能管脚继电器，断开PIN输出。参数说明：pin，...——管脚序列（1，2，3，···64），管脚序列要以0结尾应用实例：_off_fun_pin（2，3，7，0）； //断开PIN2，3，7的功能管脚继电器PE板函数简介4._on_pmu_pin()函数原形：void_on_pmu_pin(unsignedintpin);函数功能：闭合PMU管脚继电器。参数说明：pin——管脚号（1，2，3，···64）应用实例：_on_pmu_pin(2); //闭合PIN2的PMU管脚继电器PE板函数简介5._off_pmu_pin()函数原形：void_off_pmu_pin(unsignedintpin);函数功能：断开PMU管脚继电器。参数说明：pin——管脚号（1，2，3，···64）应用实例：_on_pmu_pin(6); //断开PIN6的PMU管脚继电器PE板函数简介6._sel_drv_pin()函数原形：void_sel_drv_pin(unsignedintpin，...);函数功能：设定输入（驱动）管脚，打开PIN脚输出。参数说明：pin，...——管脚序列（1，2，3，···64），管脚序列要以0结尾注意：在设定输入（驱动）管脚时，测试机将自动断开PMU管脚，如果需要使用PMU功能，必须闭合PMU管脚。应用实例：_sel_drv_pin(1，3，5，0); //设定PIN1，3，5为驱动管脚PE板函数简介7._set_drvpin()函数原形：void_set_drvpin(char*logic，unsignedintpin，...);函数功能：设置输出驱动脚的逻辑状态。参数说明：*logic——逻辑标志（“H”，“L”），H：高电平，L：低电平pin，...——管脚序列（1，2，3，…64），管脚序列要以0结尾应用实例：_set_drvpin(“H”，1，3，5，0); //设定PIN1，3，5输出高电平PE板函数简介8._sel_comp_pin()函数原形：void_sel_comp_pin(unsignedintpin，...);函数功能：设定输出（比较）管脚，打开PIN脚输入。注意：在设定输入（驱动）管脚时，测试机将自动断开PMU管脚。参数说明：pin，...——管脚序列（1，2，3，···64），管脚序列要以0结尾应用实例：_sel_comp_pin(1，3，5，0); //设定PIN1，3，5为比较管脚PE板函数简介9._read_comppin()函数原形：int_read_comppin(char*logic，unsignedintpin，...);函数功能：读取比较脚的状态或数据。当*logic=“H”时，返回0则pass，否则为fail。当*logic=“L”时，返回0则pass，否则为fail。参数说明：*logic——逻辑标志（“H”，“L”）pin——管脚序列（1，2，3，···64），管脚序列要以0结尾应用实例：_read_comppin(“H”，1，3，5，0); //比较PIN1，3，5是否为高电平PE板函数简介10._rdcmppin()函数原形：int_rdcmppin(unsignedintpin);函数功能：读取比较脚的逻辑状态，返回“0”或“1”。1：逻辑状态为“H”；0：逻辑状态为“L”参数说明：pin——管脚号（1，2，3，···64）应用实例：_rdcmppin(5); //读取PIN5的逻辑状态PE板函数简介11._on_pmu()函数原形：void_on_pmu(unsignedintmodule，unsignedintchannel);函数功能：闭合PMU通道继电器，打开PMU通道。参数说明：module——板卡号（1，2，3，4）channel——PMU通道（1，2，3，···8）应用实例：_on_pmu(1，5)； //打开PE板

板卡1的PMU通道5PE板函数简介12._off_pmu()函数原形：void_off_pmu(unsignedintmodule，unsignedintchannel);函数功能：断开PMU通道继电器，关闭PMU通道。参数说明：module——板卡号（1，2，3，4） channel——PMU通道（1，2，3，···8）应用实例：_on_pmu(2，6)； //关闭PE板

板卡2的PMU通道6PE板函数简介13._pmu_test_vi()函数原形：float_pmu_test_vi(unsignedintpin，unsignedintchannel，unsignedintstate，floatvoltage，unsignedintgain);函数功能：对管脚进行供电压测电流的PMU测量，返回管脚电流，单位uA。参数说明：pin——管脚号（1，2，3，···64） channel——PMU通道（1，2，3，···8）state——电流档位（1，2，3···7） 1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA 5：100uA；6：10uA；7：1uAvoltage——驱动电压（V），-30~+30V gain——测量增益（1，2，3）1：衰减比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍应用实例：_pmu_test_vi(1，2，5，0，2); //对PIN1使用PMU通道2供5V电压测电流，电流量程100uA，增益一倍PE板函数简介14.pmu_test_iv()函数原形：float_pmu_test_iv(unsignedintpin，unsignedintchannel，floatsouce，unsignedintgain);函数功能：对管脚进行供电流测电压的PMU测量，返回管脚电压，单位V。参数说明：pin——被测管脚号（1，2，3，···64） channel——PMU通道（1，2，3，···64） souse——驱动电流（uA），-500000~+500000 gain——测量增益（1，2，3）1：衰减1/3倍；2：放大1倍；3：放大5倍应用实例：_pmu_test_iv(1，3，500，2);PE板函数简介15._read_pin_voltage()函数原形：float_read_pin_voltage(unsignedintpin，unsignedintchannel，unsignedintgain);函数功能：测量PIN脚输入电压，返回管脚电压，单位V。参数说明：pin——被测管脚号（1，2，3，···64） channel——电源通道（1，2，3，···64） gain——测量增益（1，2，3）1：衰减比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍应用实例：_read_pin_voltage(3，4，2)；//使用PMU通道4测量PIN3的电压，增益一倍Thankyouforwatching.LK8820测试机常用函数

——ST板ST板简介模拟开关与时间测量模块功能主要有16个用户继电器、128个光继电器矩阵开关、1kHz~1MHz用户时钟信号、TMU测试功能。可根据用户需求扩展至2个模拟开关与时间测量模块，用于满足64pin以下芯片测试需求。ST板的常用函数包括：_turn_switch()、_turn_key()、_on_clko()、_off_clko()、_tmu_test()。ST板函数简介1._turn_switch()函数原形：void_turn_switch(char*state，unsignedintn，...)；函数功能：打开或关闭用户继电器；参数说明：*state——接点状态标志（“on”，“off”），on：接通，off：断开n，…——继电器编号序列（1，2，3，···32），序列以0结尾；应用实例：_turn_switch(“on”，1，2，0)；//闭合用户继电器1，2；ST板函数简介2._turn_key()函数原形：void_turn_key(char*state，unsignedintmodule，unsignedintx，unsignedinty)；函数功能：控制xy矩阵接点；参数说明：*state——接点状态标志（“on”，“off”），on：接通，off：断开、module——板卡号（1，2）、x——矩阵行（0，1，2···15）、y——矩阵列（0，1，2···7）；应用实例：_turn_key(“on”，1，2)；//打开X=1，Y=2接点；ST板函数简介3._on_clko()