微束分析 扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法 编制说明_第1页
微束分析 扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法 编制说明_第2页
微束分析 扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法 编制说明_第3页
微束分析 扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法 编制说明_第4页
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文档简介

2编制说明（征求意见稿）员会关于下达2024年第三批推荐性国家标准计划及相关标准外文版计划的通计划下达后，中国科学院地质与地球物理研究所年10月完成征求意见初稿。在征询部分业内专家意见后，3探针（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法》。与GB/T20726—2015相比，除结构调整和编辑性改动外，本标准的主要技术变化——更改了“死时间”的定义，使之更为详细（见3.4，——增加了“术语和定义”的内容：零峰（见3.14）；）；4无《微束分析扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）用5

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