YDT 4864-2024通信用光纤预制棒的测量方法

ICS33.180.10

CCSM33

YD

中华人民共和国通信行业标准

YD/TXXXX—202x

通信用光纤预制棒的测量方法

Measurementmethodsofopticalfibrepreformfortelecommunication

（报批稿）

202x-XX-XX发布202x-XX-XX实施

中华人民共和国工业和信息化部  发布

YD/TXXXX—202x

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国通信标准化协会提出并归口。

本文件起草单位：中国信息通信科技集团有限公司、长飞光纤光缆股份有限公司、杭州富通通信技

术股份有限公司、中国信息通信研究院、江苏中天科技股份有限公司、江苏亨通光纤科技有限公司、上

海大学、武汉网锐检测科技有限公司、成都泰瑞通信设备检测有限公司、江苏南方通信科技有限公司。

本文件主要起草人：伍淑坚、李婧、赵奉阔、吴海港、戚卫、薛梦驰、陈伟、刘泰、曹珊珊、贺作

为、王冬香、黄正欧、刘骋、宫振丽、张立永、韩超、谢晓红、祁庆庆、李琳莹、刘二明、胡宗华、李

亚明。

II

YD/TXXXX—202x

通信用光纤预制棒的测量方法

1范围

本文件描述了通信用光纤预制棒的表面质量和内部缺陷、光学参数、几何参数、羟基含量和杂质含

量的测量方法。

本文件适用于通信用单模光纤实心光纤预制棒（以下简称“实心预制棒”）和组装光纤预制棒（以

下简称“组装预制棒”）的检验，多模光纤预制棒也可参考使用。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T3284石英玻璃化学成分分析方法

GB/T6062产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性

GB/T12442石英玻璃中羟基含量检验方法

GB/T14733.12电信术语光纤通信（GB/T14733.12-2008，IEC60050(731):1991,IDT）

YD/T2797.1-2015通信用光纤预制棒技术要求第1部分：波长段扩展的非色散位移单模光纤预制

棒

YD/T2797.2-2018通信用光纤预制棒技术要求第2部分：弯曲损耗不敏感单模光纤预制棒

YD/T2797.3-2019通信用光纤预制棒技术要求第3部分：波长段扩展的非色散位移单模光纤组装

预制棒

3术语和定义

GB/T14733.12、YD/T2797.1、YD/T2797.2、YD/T2797.3界定的以及下列术语和定义适用于本文

件。

光纤预制棒opticalfibrepreform

用于拉制通信用光纤的以二氧化硅为主要材料的圆柱形玻璃棒，也可简称预制棒，它由芯层和包层

组成。光纤预制棒按照芯棒和包层的结合方式，分为实心光纤预制棒和组装光纤预制棒两类。

实心光纤预制棒solidopticalfibrepreform

芯棒和包层为一体的光纤预制棒。

组装光纤预制棒assembledopticalfibrepreform

将芯棒插入包层套管内组装后直接用于拉制光纤的光纤预制棒。

[来源:YD/T2797.3-2019]

芯层折射率corerefractiveindex

光纤预制棒芯层的折射率。

1

YD/TXXXX—202x

包层折射率claddingrefractiveindex

实心光纤预制棒或组装光纤预制棒的芯棒内包层的折射率。

包层cladding

围绕光纤预制棒芯层或芯棒芯层的同心圆柱形部分。

注：通常紧贴环绕芯层的包层称为内包层，包层其他部分称为外包层。

包层直径claddingdiameter

实心光纤预制棒外缘直径或组装光纤预制棒的芯棒外缘直径，单位为毫米(mm)。

直径极差diametertolerance

实心光纤预制棒、组装光纤预制棒的芯棒或套管在有效长度内最大直径和最小直径之差，单位为毫

米(mm)。

杂质impurity

组成实心光纤预制棒或组装光纤预制棒的非预期的金属或非金属元素、官能团或化合物等。

4总则

测量项目

光纤预制棒测量项目及方法应按表1进行。

表1测量项目、测量方法及适用对象

本文件

序号测量项目测量方法适用对象

条文号

1表面质量和内部缺陷

实心预制棒、组装预制棒的套管

1.1表面质量5.1目视法

和芯棒

1.2套管表面粗糙度5.2机械测量法组装预制棒的套管

实心预制棒、组装预制棒的套管

1.3内部缺陷5.3目视法

和芯棒

2光学参数

2.1折射率剖面分布6.1折射角法实心预制棒、组装预制棒的芯棒

2.2芯/包相对折射率差6.2折射角法实心预制棒、组装预制棒的芯棒

3几何参数

表1（续）

2

YD/TXXXX—202x

方法A：折射角法

3.1芯层直径7.1实心预制棒、组装预制棒的芯棒

方法B：拟合圆分析法

3.2芯层不圆度7.1方法A：折射角法实心预制棒、组装预制棒的芯棒

方法A：折射角法

3.3芯/包同心度7.1实心预制棒、组装预制棒的芯棒

方法B：拟合圆分析法

方法A:机械测量法

方法B:折射角法

3.4包层直径7.2实心预制棒、组装预制棒的芯棒

方法C:光学扫描法

方法D:拟合圆分析法

方法A:机械测量法

方法B:折射角法

3.5包层直径不均匀度7.2实心预制棒、组装预制棒的芯棒

方法C:光学扫描法

方法D:拟合圆分析法

方法A:机械测量法

方法B:折射角法

3.6包层直径极差7.2实心预制棒、组装预制棒的芯棒

方法C:光学扫描法

方法D:拟合圆分析法

方法A：折射角法

3.7包/芯直径比7.3实心预制棒、组装预制棒的芯棒

方法B：拟合圆分析法

方法A:机械测量法

3.8包层不圆度7.4实心预制棒、组装预制棒的芯棒

方法B:光学扫描法

实心预制棒、组装预制棒的套管和芯

3.9有效长度7.5机械测量法

棒

方法A:光学扫描法实心预制棒、组装预制棒的套管和芯

3.10弯曲度7.6

方法B:机械测量法棒

方法A:机械测量法

方法B:折射角法

3.11套管外径7.7组装预制棒的套管

方法C:光学扫描法

方法D:拟合圆分析法

表1（续）

3

YD/TXXXX—202x

方法A:机械测量法

方法B:折射角法

3.12套管外径不均匀度7.7组装预制棒的套管

方法C:光学扫描法

方法D:拟合圆分析法

方法A:机械测量法

方法B:折射角法

3.13套管外径极差7.7组装预制棒的套管

方法C:光学扫描法

方法D:拟合圆分析法

方法A:折射角法

3.14套管内径7.8方法B:拟合圆分析法组装预制棒的套管

方法C:机械测量法

方法A:折射角法

3.15套管内径极差7.9组装预制棒的套管

方法B:拟合圆分析法

方法A:折射角法

3.16套管内径不均匀度7.9组装预制棒的套管

方法B:拟合圆分析法

3.17套管偏壁度7.10机械测量法组装预制棒的套管

实心预制棒、组装预制棒的套管

4羟基含量8切片法

和芯棒

实心预制棒、组装预制棒的套管

5杂质含量9光谱分析法

和芯棒

测量环境

除非另有规定，测量的环境温湿度要求应符合表2。当需要使用光学仪器测量时，宜在洁净度不超

过10万级的环境下进行。

表2测量环境温湿度要求

测量环境要求

温度23℃±5℃

相对湿度20%～80%

5表面质量和内部缺陷

表面质量检测

5.1.1方法概述

4

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表面质量采用目视法进行检测。

5.1.2装置

检测装置包括冷光灯，测量平台等。冷光灯在被测件观察点光照强度为400Lux～1200Lux。测量

平台宜采用精度等级0级～3级的平板，其长度应与被测件长度相匹配。

5.1.3程序

检测宜在暗室中进行。在冷光灯的照射下，观察被测件表面是否存在目力可见的划痕、裂纹、磨痕、

杂点等。

注：套管表面质量检测，必要时可使用酒精或去离子水浸润套管内、外表面。

5.1.4结果

记录有无目力可见的划痕、裂纹、磨痕、杂点等。

套管表面粗糙度测量

5.2.1方法概述

套管表面粗糙度采用机械测量法进行测量。

5.2.2装置

测量装置包括粗糙度测试仪、测量平台。粗糙度测试仪应符合GB/T6062中的规定。测量平台宜采

用精度等级0级～3级的平板，其长度应与被测件长度相匹配。

5.2.3程序

沿着套管长度方向，在有效长度范围内均匀测量至少2个位置点，使用粗糙度测试仪测量每个位置

点的粗糙度值。依次记录粗糙度值，用R1，R2，……表示。

5.2.4计算

每个测量位置点的粗糙度按照算术平均值计算。取所有测量位置点表面粗糙度算术平均值的最大值

作为套管表面粗糙度，用表示。

5.2.5结果��

记录套管表面的粗糙度值。

内部缺陷检测

5.3.1方法概述

内部缺陷采用目视法进行检测。

5.3.2装置

检测装置包括被测件放置平台，光照强度在1200Lux以上的卤素灯或其他等效光源，透镜，分辨率

不低于1mm的直尺或卷尺，经过标定的比对卡，测量平台。测量平台宜采用精度等级0级～3级的平板，

其长度应与被测件长度相匹配。

注：比对卡可采用“标度线”、“标度圆孔”等方式。

5.3.3程序

在暗室环境中，在允许的情况下，首先用光源垂直照射被测件尾端（图1所示），判断缺陷的位置，

对被测件全长范围内的缺陷进行观察。

5

YD/TXXXX—202x

图1光源垂直照射被测件尾端示意图

光源经过被测件透射后可观测到被测件芯层和包层内可能存在的多种缺陷。在观察到缺陷的区域，

缓慢围绕被测件轴心转动被测件，依据缺陷位置变化确定其在被测件内具体位置，可观测到被测件芯层

和包层内可能存在的多种缺陷的尺寸，以比对卡在被测件表面比对缺陷尺寸。

注1：对于内部缺陷，目视观测的结果存在一定的主观性，比对卡的标定和观测结果的判定宜由买卖双方协商确定。

注2：内部缺陷经过被测件折射后存在一定视觉上的放大，由于被测件尺寸的不同、缺陷所在位置的不同，内部缺

陷的放大效果不同。因此，同一尺寸的内部缺陷在不同尺寸的被测件中或在同一被测件中的不同位置，所观测到的

大小不同。比对卡只能在一定程度上进行定性判断，不能完全反映内部缺陷的实际大小。

5.3.4结果

记录缺陷尺寸、数量及对应的长度方向位置。

6光学参数测量

折射率剖面分布测量

6.1.1方法概述

折射率剖面分布是采用折射角法测量得到的。

注：预制棒折射率剖面分布是光纤预制棒基本的参数之一，在计算预制棒的几何参数如芯层直径、芯层不圆度和芯

/包同心度等时需预知预制棒折射率剖面分布，根据测量的预制棒折射率剖面数据可计算出芯层折射率、包层折射

率和芯/包层相对折射率差等。

6.1.2装置

测量装置应符合附录A.3的规定。

6.1.3程序

测量程序应按照附录A.4执行。

6.1.4结果

记录折射率剖面数据及对应的长度方向位置。

芯/包层相对折射率差测量

6.2.1方法概述

芯/包层相对折射率差是采用折射角法，获得折射率剖面分布，再进行计算得到的。

6.2.2装置

测量装置应符合附录A.3的规定。

6.2.3程序

应按照附录A.4执行。

6.2.4计算

6

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依照折射率剖面的分布，根据芯层折射率和包层折射率的定义计算出芯层折射率（）和包层折射

率（）。被测件的芯/包层相对折射率差，由公式（1）给出。

1

····································�···············

2(1)

��1−�2

式中：�=�2×100%

——被测件的芯/包层相对折射率差；

——被测件的芯层的折射率；

�——被测件的包层的折射率。

�1

6.2.5�2结果

记录被测件的芯/包相对折射率差值及对应的长度方向位置。

7几何参数测量

芯层直径、芯层不圆度、芯/包同心度测量

7.1.1方法概述

实心预制棒或组装预制棒芯棒的芯层直径、芯层不圆度和芯/包同心度是基于折射率剖面分布进行

测量得到的，本文件给出两种测量方法：

——方法A：折射角法；

——方法B：拟合圆分析法。

方法A是芯层直径、芯层不圆度和芯/包同心度基准测量方法（RTM）；方法B是芯层直径和芯/包同

心度替代测量方法（ATM）。

7.1.2装置

测量装置应符合附录A.3的规定。

7.1.3程序

7.1.3.1方法A：折射角法

按照附录A的方法，沿着被测件长度方向测量宜不少于3个位置点，每个位置点按照角向180°/n间隔

旋转被测件，每旋转一次，测得一个芯层直径数值。依次旋转n次（n宜不少于3），旋转半周，同一截

面测得n个芯层直径数值，即，，，，…，，…，。

沿着被测件长度方向测量宜不少于个位置点，读取同一位置点的被测件包层数据与（

�1�23�3�4𝑖��i

与分别指位置点的折射率�剖面左�右两�侧包�层半径）�，芯层数�据与（与分别指位置点i的折

i�1�2�1

射率剖面左右两侧芯层半径），获得位置点的两个包层厚度＝－和＝－。�被测�件宜�按

�2i�1�2�1�2

照�角向180°/n间隔旋转，每旋转一个角度测一次，获得包层厚度数�据系�列，依�次旋�转半周，找出包层厚

�1�1�1�2�2�2

度最大值和最小值。������

7.1.3.2��方��法B：拟合��圆��分析法

按照附录A的方法，用激光对被测件旋转不同角度的垂直于预制棒长度方向的截面进行扫描，根据

被测件折射率分布测量得到足够多的旋转角度的截面尺寸数据后，对数据进行拟合，得到相应位置的拟

合圆。被测件的各层可分别视为折射率已知，半径ω，各层间同心度ε以及层间偏心角θ未知的拟合圆，

被测件拟合圆分析法示意图见图2。

7

YD/TXXXX—202x

图2拟合圆分析法示意图

7.1.4计算

7.1.4.1方法A：折射角法

被测件的第i位置点芯层直径平均值，由公式（2）给出。

························································

�=n(1)

�=1�𝑖

式中：��=n

——被测件长度方向第i位置点芯层直径平均值，单位为毫米（mm）；

��——被测件长度方向第i位置点，第j个角向位置的直径，单位为毫米（mm）。

�被𝑖测件的第i位置点芯层不圆度，由公式（3）给出。

···············································(2)

2(����−����)

式中：��=����+����×100%

——被测件第i位置点芯层不圆度；

��——被测件同一横截面上的芯层直径的最大值，单位为毫米（mm）；

����——被测件同一横截面上的芯层直径的最小值，单位为毫米（mm）。

�被�测��件的芯层直径平均值，由公式（4）给出。

·························································

n(3)

�=1��

式中：�=n

d——被测件的芯层直径平均值，单位为毫米（mm）；

——被测件长度方向第i位置点的芯层直径平均值，单位为毫米（mm）。

�被�测件的芯层不圆度平均值，由公式（5）给出。

························································

n(4)

�=1��

�=n8

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式中：

——被测件的芯层不圆度平均值；

�——被测件长度方向第i位置点的芯层不圆度值。

�

被�测件第i位置点芯/包同心度误差用表示，由公式（6）给出。

�

�·······················································(5)

����−����

式中：��=2

——被测件第i位置点芯/包同心度误差，单位为毫米（mm）；

��——被测件第i位置点包层厚度的最大值，单位为毫米（mm）；

����——被测件第i位置点包层厚度的最小值，单位为毫米（mm）。

�被��测�件的芯/包同心度误差用表示，由公式（7）给出。

·························································

�n(6)

�=1��

式中：�=n

——被测件的芯/包同心度误差，单位为毫米（mm）；

注：推荐使用该方法测量芯层不圆度和芯包同心度，对被测件芯层不圆度和芯包同心度要求更高时，可以直接取

�//

Emax和εmax作为被测件芯层不圆度和芯/包同心度误差。

7.1.4.2方法B：拟合圆分析法

第j层折射率偏转相关参数，由公式（8）、公式（9）和公式（10）给出。

·······························(1)

'

sin���,�,�−��sin(���,�,�+��+��)

−1······································

���,�,�=sin��(2)

��−1

'−1······························

���,�,�=sin��sin��(�,�,�)(3)

'

式中：��+1�,�,�=���,�,�+���,�,�−���,�,�

——第i位置点第j层入射角，单位为弧度（Rad）；

���,�,�——第i位置点第j层折射角，单位为弧度（Rad）；

'

���,�,�——第i位置点第j层折射角与层间同心偏差角，单位为弧度（Rad）；

��+—1—�,�旋,�转角度方向参数；

�m——偏转曲线两端参数；

——扫描过程中的角度位置，单位为弧度（Rad）；

��——层间偏心角，单位为弧度（Rad）；

��——层间同心度，单位为毫米（mm）；

��——拟合圆半径,单位为毫米（mm）。

�拟�合圆的初始条件，由公式（11）和公式（12）给出。

·············································(4)

�(�,�,�)

'−1·····················································

�0�,�,�=sin�0(5)

�1�,�,�=09

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式中：

——拟合圆初始条件参数；

'

�0�,�,�——偏转检测器记录的参数；

�(�—,�—,�匹)配油室的尺寸，取值范围为[10,100]。

�根0据上述公式（8）～公式（12），依次计算�1出�和1，则最优拟合圆参数，由公式（13）、公式

（14）给出。'

𝑖−1𝑖𝑖

···························

'(6)

�−1�−1����

−1�sin(��,�,�)−�sin(��,�,�+�+�)

𝑖�,�,�=sin𝑖·····································(7)

2�2

式中：𝑖=�=1�=1(sin𝑖�,�,�−𝑖)

——第j层最优拟合圆参数；

𝑖——第j层相邻折射率比。

�当�nj-1<nj时，=1；

�

当nj-1>nj时，�。

𝑖

当最小时，公�式�=中�相�−1应的，，表征了第j层的最优拟合圆情况。实心预制棒或芯棒一般为2

层，则芯层直径和芯/包同心度分别为和，若实心预制棒或芯棒超过2层，所有预制棒不同折射率

����

层的几�何参数可以依次计算。���

2�2�2

7.1.5结果

记录被测件的芯层直径、芯层不圆度和芯/包同心度值。

包层直径、包层直径不均匀度、直径极差测量

7.2.1方法概述

本文件给出实心预制棒、组装预制棒芯棒的包层直径、包层直径不均匀度和直径极差的四种方法：

——方法A:机械测量法；

——方法B:折射角法；

——方法C:光学扫描法；

——方法D:拟合圆分析法。

方法A是基准测量方法（RTM）；方法B是第一替代测量方法（ATM）；方法C是第二替代测量方法（ATM）；

方法D是第三替代测量方法（ATM）。

7.2.2装置

方法A的测量装置应包括分辨率不低于0.02mm的千分尺或游标卡尺，测量平台等，附录A中给出了

方法B和方法D的装置示意图和对测量仪器的其他要求，方法C的测量装置包括扫描仪和测量平台。测量

平台宜采用精度等级0级～3级的平板，其长度应与被测件长度相匹配。

7.2.3程序

使用游标卡尺、千分尺、扫描仪、光纤预制棒分析仪，沿着被测件长度方向宜不少于3个位置点，

每个位置点按照角向180°/n间隔旋转被测件，每旋转一次，测得一个包层直径数值。依次旋转n次（n

宜不少于3），旋转半周，同一截面测得n个包层直径数值，即，，，，…，…。

�1�2�3�4𝑖��

������10

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7.2.4计算

被测件的第i位置点包层直径平均值，由公式（15）给出。

························································

�=n(1)

�=1�𝑖

式中：��=n

——被测件第i位置点包层直径平均值，单位为毫米（mm）；

��——被测件第ii位置点第j角向的包层直径，单位为毫米（mm）。

被�测𝑖件的包层直径平均值，由公式（16）给出。

························································

n(2)

�=1��

式中：�=n

——被测件包层直径平均值，单位为毫米（mm）；

�——被测件长度方向第i位置点的包层直径平均值，单位为毫米（mm）。

�被�测件的包层直径极差，由公式（17）给出。

··················································(3)

式中：��=�����−�����

——被测件有效长度范围包层直径极差，单位为毫米（mm）；

��——被测件有效长度范围内的最大包层直径，单位为毫米（mm）；

�����——被测件有效长度范围内的最小包层直径，单位为毫米（mm）。

�被�测���件的包层直径不均匀度，由公式（18）给出。

··············································(4)

2(�����−�����)

式中：�=�����+�����×100%

——被测件有效长度范围内的包层直径不均匀度；

�——被测件有效长度范围内的最大包层直径，单位为毫米（mm）；

�����——被测件有效长度范围内的最小包层直径，单位为毫米（mm）。

7.2.5���结��果

记录被测件的包层直径、包层直径不均匀度和包层直径极差值。

包/芯直径比测量

7.3.1方法概述

本文件给出测量实心预制棒、组装预制棒芯棒的包/芯直径比的两种方法：

——方法A：折射角法；

——方法B：拟合圆分析法。

方法A是基准测量方法（RTM）；方法B是第一替代测量方法（ATM）。

7.3.2测量装置

测量装置应符合附录A.3的规定。

11

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7.3.3程序

7.3.3.1折射角法

测量程序应按照附录A.4执行。

7.3.3.2拟合圆分析法

测量程序同7.1.3.2。

7.3.4计算

被测件的包/芯直径比，其值由公式(19)给出。

···························································(1)

�

式中：�=�

—被测件的包/芯直径比；

—被测件的芯层直径，单位为毫米(mm)；

�—被测件的包层直径，单位为毫米(mm)。

�

7.3.5�结果

记录被测件的包/芯直径比值及对应的长度方向位置。

包层不圆度测量

7.4.1方法概述

本文件给出测量实心预制棒或组装预制棒芯棒的不圆度的两种方法：

——方法A：机械测量法；

——方法B：光学扫描法。

方法A是基准测量方法（RTM）；方法B是替代测量方法（ATM）。

7.4.2装置

方法A的测量装置应包括分辨率不低于0.02mm的千分尺或游标卡尺，测量平台等,方法B的测量装置

包括分辨率不低于0.02mm的光学测径仪和测量平台。测量平台宜采用精度等级0级～3级的平板，其长度

应与被测件长度相匹配。

7.4.3程序

测量应在4.2规定的测量条件下，用游标卡尺、千分尺或扫描仪，沿着被测件长度方向宜不少于3

个位置点，每个位置点按照角向180°/n间隔旋转被测件，每旋转一次，测得一个包层直径数值。依次旋

转n次（n宜不少于3），旋转半周，同一截面测得n个包层直径数值，即，，…。

7.4.4计算��1��2���

被测件第i位置点的包层不圆度，由公式（20）给出。

···············································(1)

'2(����−����)

式中：��=����+����×100%

——被测件同一横截面上第i位置点的包层不圆度；

'

��——被测件同一横截面上的包层直径的最大值，单位为毫米（mm）；

����——被测件同一横截面上的包层直径的最小值，单位为毫米（mm）。

�被�测��件包层不圆度取各测量位置点的包层不圆度均值，由公式（21）给出。

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························································(2)

n'

'�=1��

式中：�=n

——被测件的包层不圆度均值。

'

7.4.5�结果

记录被测件的包层不圆度均值。

有效长度测量

7.5.1方法概述

本文件给出有效长度的测量方法为机械测量法。

7.5.2装置

测量装置应包括分辨率不低于1mm的直尺或卷尺，测量平台等。测量平台宜采用精度等级0级～3

级的平板，其长度应与被测件长度相匹配。

7.5.3程序

使用直尺或卷尺，沿着被测件长度方向进行测量。

7.5.4结果

记录被测件的有效长度值。

注：预制棒、组装棒的套管、组装棒的芯棒的有效长度结果的判定宜由买卖双方协商确定。

弯曲度测量

7.6.1方法概述

本文件给出测量弯曲度的两种方法：

——方法A：光学扫描法；

——方法B：机械测量法。

方法A是基准测量方法（RTM）；方法B是替代测量方法（ATM）。

7.6.2装置

方法A的测量装置应包括分辨率不低于0.02mm的光学测径仪，测量平台。方法B的的测量装置应包括

百分表，测量平台。测量平台宜采用精度等级0级～3级的平板，其长度应与被测件长度相匹配。

7.6.3程序

7.6.3.1方法A：光学扫描法

将被测件放置在测量平台的可旋转导轮上，使用光学扫描仪，沿被测件长度方向测量，至少测量3

个均匀分布位置点。测量方法如图3所示，固定测量仪与被测件长度方向的某个位置点i，被测件旋转半

周，测径系统记录一系列圆上下边缘读数的平均值（中心值）坐标，，，…,。记录每次的

角度，，,…,。

��1��2��3�𝑖

��1��2��3�𝑖

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图3光学扫描测量方法示意图(侧面)

7.6.3.2方法B：机械测量法

将被测件放置在测量平台的可旋转导轮上，有效段处于两组导轮中间。沿其旋转轴旋转待测样品，

找到其有效段内摆动最大的位置点。将百分表固定在测量平台上，并使用百分表测量头接触其面（测量

头指向被测件旋转轴轴心方向）。沿长度方向转动被测件，在百分表读数最小时，读数置零。重新旋转1

周，取得百分表最大值的一半，即。

7.6.4计算����

7.6.4.1方法A：光学扫描法

被测件第i点的坐标平均值，由公式（22）给出。

�························································(1)

�n

�=1�𝑖

式中：��=n

——被测件第i位置点坐标平均值，单位为毫米（mm）；

��——被测件第i位置点第j个坐标上下边缘读数的平均值，单位为毫米（mm）；

�对𝑖测量位置点i的数据进行拟合，由公式（23）给出。

············································(2)

式中：�𝑖−��=��×sin(�𝑖+��0)

——被测件第i位置点被测件圆心跳动度；

��——被测件第i位置点第j个坐标对应的角度；

�𝑖——被测件第i位置点初始角度。

�注�0:旋转一周过程中,角度间隔最大不超过1度时,对测量位置点i的圆心跳动度可以直接采用。

被测件圆心跳动度选取沿长度方向各测量位置点中最大的圆心跳动度值。

�𝑖�𝑖−���−��=��

被测件弯曲度的计算，由公式（24）给出。

····················································(3)

����

式中：�=�×1000

——被测件的弯曲度，单位为毫米每米（mm/m）；

�——长度方向旋转时，两导轮位置点之间长度范围内包层圆心长度方向轨迹与旋转轴距离的最

大值，单位为毫米（mm）；

����

——两导轮位置点之间的长度，单位为毫米（mm）。

7.6.4�.2方法B：机械测量法

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弯曲度的计算按照公式（24）进行。

7.6.5结果

记录被测件的弯曲度值。

套管外径、套管外径极差和套管外径不均匀度测量

同7.2。

套管内径测量

7.8.1方法概述

本文件给出了测量套管内径的三种方法：

——方法A：折射角法；

——方法B：拟合圆分析法；

——方法C：机械测量法。

方法A是基准测量方法（RTM）；方法B是第一替代测量方法（ATM）；方法C是第二替代测量方法（ATM）。

7.8.2装置

方法A和方法B的测量装置应符合附录A中的要求。方法C的测量装置包括内径千分尺，测量平台等。

测量平台宜采用精度等级0级～3级的平板，其长度应与被测件长度相匹配。

7.8.3程序

7.8.3.1方法A：折射角法

测量程序同7.1.3.1。

7.8.3.2方法B：拟合圆分析法

测量程序同7.1.3.2。

7.8.3.3方法C：机械测量法

测量应在4.2规定的条件下，沿着被测件长度方向宜不少于3个位置点，每个位置点按照角向180°/n

间隔旋转被测件，每旋转一次，测得一个套管