DB22T 1522-2011 300mm～500mm口径光学元件精密磨削机床精度　

备案号：36353-2013DB22DB22/T1522—2011300mm～500mm口径光学元件精密磨削机床Precisionofaperturefor300mm～500mmopticalcomponentprecisegrindingmachines吉林省质量技术监督局发布I1本标准规定了300mm～500mm口径光学元件精密磨削机床的结构精度和工作精度本标准适用于对直径Ф300mm~Ф500mm的圆形光学元件或对角线长度300mm～500mm的方形光学行等），也不适用于机床的参数检查（如速度、进给量等），GB/T17421.1-1998机床检验通则第1部分：在无负荷或精加工条件下机床的GB/T17421.2-2000机床检验通则第2部分：数控轴线的定位精度和重复定位精度3.1本标准中所有线性尺寸、偏差和相应允差的单位为），值表示，但在有些情况下为了清晰，可用微弧度(µrad）或秒（〞）表示。其换算关系见下式：0.010/1000=10×10-6=13.3参照GB/T17421.1-1998中3.1调整机床安装水平，水平仪mm/1000mm。），3.5本标准所给出的检验项目的顺序并不表示实际检验顺序。为了装拆检验工轮轴构成，其中X导轨、Y导轨、转台轴、工件主轴和砂轮轴均采用静压技2朝朝工一主4-日A序号1内容所示。A序号2内容所示。序号3内容所示。34.12工件主轴轴线和砂轮轴轴线与床身平面的等距度要5.1平面光学元件面形精度要求为05.2轴对称非球面光学元件面形精度要求为05.3光学元件表面粗糙度Ra最大允许值为0.4µm。1(规范性附录)简图检验项目允差检验方法1aa.在XY垂直平面内；b.在XY水平面内。a及b:电感测微仪、平5.2.1.1;2简图检验项目允差2a)在XY垂直平面内b)在XY水平面内电感测微仪、平5.2.1.1;3简图检验项目允差3方尺、平板或角尺检验面BB1,缓慢移动Y导轨进行检验测量，每50mm取点读数，记录数据。取两次电感测微仪读数变化的代数差4简图检验项目允差4工件主轴的轴向窜动电感测微仪参照GB/T17421.1-98的有关条文和5.6.2.2.1和5.6.2.2.2轴加力。5工件主轴的径向跳动电感测微仪和检验棒。参照GB/T17421.1-98的有关条文和5.6.1.2.2和5.6.1.2.35简图检验项目允差6工件主轴轴线和X导轨的a.上母线平行度；a及b:电感测微仪和参照GB/T17421.1-98的有关条文和5.4.1.2.1和5.4.2.2.3X导轨置于行程的中间位置。7电感测微仪参照GB/T17421.1-98的有关条文和5.6.2.2.1和5.6.2.2.2轮轴加力。6简图检验项目允差8电感测微仪参照GB/T17421.1-98的有关条文和5.6.1.2.2和5.6.1.2.39转台轴轴向窜动电感测微仪和参照GB/T17421.1-98的有关条文和5.6.2.2.1和5.6.2.2.2台轴加力。转台轴的径向跳动电感测微仪和参照GB/T17421.1-98的有关条文和5.6.1.2.2和5.6.1.2.37简图检验项目允差转台轴轴线与Y导轨运动电感测微仪、V型块和块规。参照GB/T17421.1-98的有关条文和箱上，然后将V型块放在导轨上，块规放在V型块上，用测头垂直块规上，缓慢旋转转台主轴，在Y导轨平面内进行测量，工件主轴轴线和砂轮轴度电感测微仪和检验棒。参照GB/T17421.1-98的有关条文和精度要求的条件下，使用电感测微仪的测头分别垂直接触主轴和砂轮轴的检验棒的下母线，取显示最大差值。8简图检验项目允差3的定位精度负两个方向趋近(符号↑表示正向趋近，符号↓表示负向趋近),各进行5次定位，(X;个-3S;1)、(X,-3S;↓)的最9简图检验项目允差的重复定位精度行速度运动部件分别对各目标位置从正、符号↓表示负向趋近),各进行5次定位，计算出正、负向定位时的标准偏差(SS;),误差以0