用于校准表面污染监测仪的参考源 α、β和光子发射体 征求意见稿

1用于校准表面污染监测仪的参考源α、β和光子发射体本标准还规定了校准表面污染监测仪的首选参考辐射。这些参考辐射以充分表征的大面积源的形是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。表面发射率surfaceemissionrateofa源表面face2饱和层厚度saturationlayerth由均匀物质构成的放射源的饱和层厚度是指与指定的粒子辐射在源介质中的最大射程相等的介质注：测量不确定度一般由若干分量组成。其中一些分量可根据一系列源表面某一特性（以单位面积上某一测得量来表示）的均匀为了保证现场常规校准表面污染监测仪所使用的工作标准源的溯源性，必须采用各级参考源和参4.1参考源可分为一级参考源、二级参考源和工作源，它们均应按照国家计量主管部门规定的量值传4.2一级参考源必须直接由国家标准实验室校准，给出其放射性活度和表面发射率。测量用绝对方法4.3二级参考源必须由国家计量主管部门批准的某一实验室用参考传递仪器定度，给出其放射性活度4.4负责对放射性表面污染监测仪进行定型检验的单位应当配备适当的一级或二级参考源；负责对放射性表面污染监测仪进行校准的单位需配类似的参考源和工作源。工作源主要用于校准现场放射性表面污染监测仪或测量仪。它们与检验源不同，检验源仅用4.5配备工作源的单位应当利用参考传递仪器按表面发射率校准工作源。参考传递仪器必须用一级或二级参考源校准。用参考仪器测定工作源表面发射率的几何条件应当与用参考源校准参考传递仪器的3b)源的放射性核素均匀分布在厚度至少等于饱和层厚度的材料中。从表面污染监测的目的来说，源的活度是指其厚度等于饱和层厚度的一层材料中的放射性核素的活d无 锆铝铝a)近似的平均光子能量等于(Σni×Ei)∕Σni)；其中ni是能量为Ei的光源发射的光子数。系统的电子噪声。对于测量光子源，阈值应质的源，用户应适当考虑到杂质的相对水平会随时间而变化，并可能对源的发射率产生重大影响。4106Ru/106Rh源除外，其厚度需要增加到4.6mm)。j)均匀性和不确定度(与位置和发射率相关的所有单个部分的相对发射率表)；应至少每四年一次对一级参考源的活性、表面发射率和均匀性进行重新5(1−)×100(%)一级参考源的均匀性减去其相对标准不确定度后应大于90%。为了规定源相对于单位面积表面发可以通过使用成像测量方法或者通过在源和探测器之间插入遮蔽板来测量均匀性。遮蔽装置应具供足够的活度；因为它们会发出额外的有害辐射；因为难以提供足够的放射性纯度。d—2.75×107—6 d2.08×106根据制造过程的特性，可能需要更频繁地重新校——大约3%的衰变是通过电子俘获并产生大约704.50×103根据制造过程的特性，可能需要更频繁地重新校—7首选尺寸的二级参考源的发射率应符合用户的要求，并取决于被校准仪器的类型和正在进行的特c)工作源一定要牢固，能经受86.1.2推荐的α源和β源参考传递仪器类型是大面6.2.1单个参考传递仪器不可能覆盖本标准中提出的全部光子能量，用于特定能量的仪器应具有高探测6.3.1在参考传递仪器的工作寿命期间，对其进行初始校准和定期校准。建议参考传递仪器至少每年重6.3.2有时需要某些β放射性核素工作源，但无传递用的相应核素的二级参可用内插法确定参考仪器对相应核素源的仪器效率，以保持可追溯9因电子俘获和同质异能跃迁而衰变的放射性核素可发出各种不同类型的辐射，包括内转换电子和穿透力较弱的辐射类型，发射率和放射性之间的关系在很大程度上取决于辐射源的结构(或受污染表面的性质)。此外，发射的电子光谱可能遭受相当大的能量退化，因此失真。当这种源用于校准从一个探测器传递到另一个探测器时，当两个探测器具在光子发射源上使用附加过滤导致一定程度的角度准直，由此垂直于表面发射的光子数量大于以b)低能电子辐射的发射率和能量分布将非常依赖于源结构的类型；d)如果c)中的源用于校准检测低能电子的薄窗污染监测仪，则导出的校准系数可能非常依赖于为了确保本质上针对光子发射的校准之间的更大一致性，提出了一系列基本上在受限能量范围内发射核素是为了提供能够产生一定范围光子能量的源，这些光子能量适用于校准最常用于测量通过电子俘获和同质异能跃迁过程衰变的核素的仪器类型(如果需要确定仪器对这些源提供的能量以外的能量的更特定核素的响应，则此类文件应包含对此的明确声明，并包括所使用的实际过滤(如有)的详细信60Co在大多数情况下发射两个具有角度相关性的重合光子，因此在将校准转移到其他几何结contamination,IAEA-PRTM-1(Rev.1),Vienna,2004.[2]ICRPPublication60,RecommendatiRadiologicalProtection-Ann.ICRP37(2-4)[4]NationalPhysicalLaboratory,MTestingCalibrationofPortableRadiationPPracticeGuideNo.14.[5]ISO7503-1,MeasurementofradioactivityMeasurementandev[6]ISO7503-2,Measurementofradioactivity-Measurementandevaluationofsurfacecontamination-Part2:Test[7]ISO7503-3,MeasurementofradioactivityMeasurementandevcontamination-Part3:Apparatu[8]IEC60325,RadiationprotectioninstrumentatkeV)contaminationmetersandmoni[9]IEC62363,RadiationprotectioninstrumentationPortableph[10]ISO/IECGuide98-3,Uncertaintyofmeasurement-Part3:Guidetotheexpressionofuncertaintyinmeasurement(GUM:1995).[11]Comitéinternationaldespoidsetmesures,Mutualstandardsandofcalibrationandmeasurementcertificatesissuedbynationalmetrology.[12]NahleO.,KossertK.Appl.Radiat.Isot.2012,70pp.2018-20[13]JanfBenH.,KleinR.Nucl.Instrum.[14]JanfBenH.,KleinR.Nucl.Instrum.[16]DDEP.DecayDataEvaluationProj[17]ISO4037-1,Xandgammarefereandfordeterminingtheirresponseasafunccharacteristicsandproduction[18]ISO4037-2,Xandgammarefere[19]ISO4037-3,Xandgammarefereandfordeterminingtheirresponseasafunctionofphoandpersonaldosemetersandthemeasurementoftheirresponseasafunctionofangleofi