GBT 23901.3-2009 无损检测 射线照相底片像质 第3部分：黑色金属像质分类

无损检测射线照相底片像质第3部分：黑色金属像质分类中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布I——第2部分：阶梯孔型像质计像质指数的测定；——第5部分：双线型像质计图像不清晰度的测定。本部分为GB/T23901的第3部分。 1无损检测射线照相底片像质第3部分：黑色金属像质分类计，此外还采用了GB/T19943所述两种射线透照方法。对于铁素体材料的两种射线透照方法，GB/T19348.1无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类GB/T19802无损检测工业射线照相观片灯最低要求(GB/T19802—2005,ISO5580:1985,GB/T19943无损检测金属材料X和伽玛射线照相检测基本规则(GB/TGB/T23901.1无损检测射线照相底片像质第1部分：线型像质计像质指数的测定GB/T23901.2无损检测射线照相底片像质第2部分：阶梯孔型像质计像质指数的测定GB/T23901.4无损检测射线照相底片像质第4部分：像质指数和像质表的实验评价ISO17636焊缝无损检测熔焊接头射线照相检测24像质等级4.1单壁射线照相如果能满足GB/T19943的要求，则可获得表1～表4给出的像质等级：——对于A类射线照相技术，像质等级为A级(见GB/T19943);——对于B类射线照相技术，像质等级为B级(见GB/T19943)。表1～表4给出的像质指数是用于像质计放在源侧的情况。如果像质计不能放在源侧，可放在胶A级像质标称厚度t/像质指数a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，10mm<t≤24mm:所得像质指效减2;24mm<t≤30mm:所得像质指3A级像质标称厚度t/像质指数a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，10mm<t≤24mm:所得像质指数加2;24mm<t≤30mm:所得像质指B级像质标称厚度t/像质指数a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，4B级像质标称厚度t/像质指数a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，如果满足GB/T19943的要求，则可获得表5～表12给出的像质等级：——对于A类射线照相技术，像质等级为A级(见GB/T19943);——对于B类射线照相技术，像质等级为B级(见GB/T19943)。脚注)。当采用双壁射线照相技术时，透照厚度“w”为2倍工件壁厚“t”。表5～表8所示的像质指数适用于A级和B级像质等级的双壁双影透照方法。像质计放在工件的表9～表12所示的像质指数适用于A级和B级像质等级的双壁单影透照方法。像质计放在被透表9～表12所示的像质指数也可用于像质计放在胶片侧时A级和B级像质等级的双壁双影透照5表5线型像质计A级像质标称厚度w/像质指数表6阶梯孔型像质计A级像质标称厚度w/像质指数a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，现修正如下w≤3.5mm:所得像质指数加2;3.5mm<w≤10mm:所得像质指数加1。6B级像质标称厚度w/像质指数B级像质标称厚度w/像质指数a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，现修正如下：4mm<w≤11mm:所得像质指数加1。8A级像质标称厚度w/像质指数A级像质标称厚度w/像质指数a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，5mm<w≤9mm:所得像质指数加2;9mm<w≤22mm:所得像质指数加1。B级像质标称厚度w/像质指数B级像质标称厚度w/像