DL∕T 821-2017 金属熔化焊对接接头射线检测技术和质量分级

备案号：61609-2018DL/T821—2017代替DL/T821—2002金属熔化焊对接接头射线检测技术和质量分级国家能源局发布IDL/T821—2017前言 Ⅱ1范围 12规范性引用文件 13术语和定义 14一般规定 2 2 2 5 8 85透照及成像技术 6胶片暗室处理 7结果评定及质量分级 8技术资料 附录A(规范性附录)系统分辨率的核查及双线型像质计可识别率的测量 附录B(资料性附录)数字影像灰度的确定 附录C(资料性附录)数字影像归一化信噪比的计算 附录D(规范性附录)专用像质计、深度对比块的形式和规格 附录E(规范性附录)透照厚度的计算方法 附录F(资料性附录)射线检测报告格式 DL/T821—2017本标准按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。本标准是对DL/T821—2002《钢制承压管道对接焊接接头射线检验技术规范》的修订，与DL/T 本标准由电力行业电站焊接标准化技术委员会(DL/TC18)本标准参加起草单位：云南电力试验研究院(集团)有限公司、中国能源建设集团黑龙江省火电第三工程有限公司、中国能源建设集团天津电力建设有限公司、中国能源建设集团浙江火电建设有限本标准首次发布时间为1985年，1996年第一次修订，2002年第二次修订，本次为第三次修订。本标准在执行过程中的意见或建议反馈至中国电力企业联合会标准化管理中心(北京市白广路二1DL/T821—2017金属熔化焊对接接头射线检测技术和质量分级GB/T12604.2无损检测术语射线照相检测GB/T12604.11无损检测术语X射线数字成像检测GB/T19348.1无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类GB/T19348.2无损检测工业射线照相胶片第2部分：用参考值方法控制胶片处理GB/T19802无损检测工业射线照相观片灯最低要求GB/T23901.1无损检测射线照相底片像质第1部分：线型像质计像质指数的测定GB/T23901.5无损检测射线照相底片像质第5部分：双线型像质计阳像不清晰度的测定3术语和定义2DL/T821—2017把射线光子转换成数字信号的电子装置(平板)和俘获射线光子产生电子和空穴的电子胶片(IP板),以下简称为成像器。缺陷的长宽比大于3,为条形缺陷；缺陷的长宽比小于或等于3,为圆形缺陷。专指利用直接数字平板射线成像系统(digitalradiography;DR)或电子胶片射线成像系统(computerradiography;CR)进行的射线检测。透照厚度比rationofmax.andmin.penetratedthickness4一般规定4.1.1检测人员应具有良好的身体素质，裸眼或矫正视力按GB11533的方法测试，视力应不低于5.04.1.2检测人员应经过技术培训，按D测人员应经过系统的培训，掌握与射线数字成像技术相关的计算机知识、数字影像处理知识，以及相应的检测系统基本操作方法，并在36个灰度块中至少能分辨出4个连续变化的灰度块。胶片系统类别梯度最小值Gmin最小梯度与颗粒度比颗粒度最大值D=2.0D=4.0D=2.0D=2.04.50.0183DL/T821—2017胶片系统类别梯度最小值Gmin最小梯度与颗粒度比颗粒度最大值D=2.0D=4.0D=2.0D=2.04.30.0204.10.0234.10.0280.0320.039注：D为黑度，指不包括灰雾度的净黑度值，即为在本底灰雾度D₀以上的光学密度。4.2.2.3每批胶片使用前应按照GB/T19348.2的规定或其他方法进行测试和评估。a)成像器动态范围应不小于2000:1,A/D转换位数应不小于14bit。b)显示器应满足：亮度不低于250cd/m²;灰度等级不小于8bit;影像显示分辨率不低于1024×768;显示器像素点距不大于0.25mm。每3个月应至少核查一次系统分辨率。系统分辨率的核查应按附录A规定的方法进行。主要性能应符合GB/T19802的有关规定，最大亮度应能满足观察黑度为4.5底片的要求。观片灯a)打开测量开关，预热10min左右。c)按照b)的规定反复测量3次。4DL/T821—2017标准密度片应至少有8个一定间隔的不同黑度基准值，且能覆盖0.3～a)通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902和GB/T23901.1的规定。b)双线型像质计的型号和规格应符合GB/T23901.5的规定。计材料的吸收系数应尽可能地接近或等同于被检材料的吸收系数，任何情况下不能高于被检材料的吸像质计材料代号FeAlNiTi像质计材料碳素钢工业纯铝纯铜镍-铬合金工业纯钛适用材料范围钢铝、铝合金铜、锌、锡及其合金镍、镍合金钛、钛合金压力来确保胶片与金属增感屏紧密贴合，胶片与金属增感屏之间不能夹杂异物。金属增感屏的选用应符合表3的规定。射线能量材料前屏厚度mm后屏厚度mm管电压或加速电压UU≤100kV铅不用或不大于0.03100kV<U≤150kV铅0.02～0.100.02～0.15150kV<U≤250kV铅0.02～0.150.02～0.15250kV<U≤500kV铅0.02～0.200.02～0.201MeV<U≤4MeV钢或铜0.25～0.700.25～0.700.50～2.00.50～2.04MeV<U≤12MeV铜、钢或钽铜、钢不大于1.0钽不大于0.500.50～1.00.50～1.0γ射线源种类Tm170铅不用或不大于0.03不用或不大于0.03Yb169铅0.02～0.150.02～0.15Se75铅A级0.02～0.20A级0.02～0.205射线能量材料前屏厚度后屏厚度γ射线源种类铅铅A级0.02～0.20A级0.02～0.20钢或铜0.50～2.00.50～2.0如果AB级、B级使用前屏不大于0.03mm的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加0.07mm～0.15mm厚的附加b采用Co60射线源透照有延迟裂纹倾向或标准抗拉强度下限值Rm≥540MPa材料时，AB级和B级应采用钢或铜4.3工艺通用要求4.3.1.2检测技术等级的选择应符合相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求。一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接接头，可采用B级技术进行检测。有效补偿措施的前提下(如选用更高类别的胶片、适当提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度控制散射线、选用更好的射线源等),若影像的像质计灵敏度达到了AB级或B级射线检测技术的规定，则可认为按AB级或B级射线检测技术进行了检测；若采用A级检测技术进行射线检测，应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。4.3.2射线源至工件表面的最小距离4.3.2.1射线源至工件表面的最小距离应满足式(1)～式(3)的要求：b)AB级射线检测技术：c)B级射线检测技术：f——源至工件表面的距离，mm;d——源的有效焦点尺寸，mm;b工件表面至胶片或成像器的距离，mm。4.3.2.2射线源置于被检工件内部单壁透照时，在满足像质计指数和底片黑度(影像灰度)要求的前提下，射线源至工件表面的最小距离允许减小一定的幅度。源偏心时最小距离减小不应超过f的20%,源6DL/T821—2017在中心时最小距离减小不应超过f的50%。代表返修次数),加倍抽检的应有“JB”标记。4.3.5.3定位标记应包括中心标记和搭接标记等。中心标记应采用“”表示，搭接标记可采用“1”4.3.5.5标记应置于距焊缝边缘大于或等于5mm的位置，所有标记不应重叠，且不应影响影像评定。力和检测范围的前提下，宜采用较低的射线能量。不同材料、不同透照厚度采用的最高管电压不应超过图1的规定。射线数字成像检测时，最高管电压不宜超过图1规定值的85%。3——代表钛及其合金；4——代表铝及其合金。74.3.6.2γ射线和高能X射线对钢、铜和镍及其合金材料适用的透照厚度范围应符合表4的规定。透照厚度TmmA级、AB级B级Tm170T,≤5T≤5Yb169Se75b20≤T≤100Co6040≤Ta≤200X射线(1MeV～4MeV)50≤Ta≤180X射线(≥4MeV～12MeV)Ta≥50对于铝和钛，A级和AB级透照厚度为10<T₂<70,B级透照厚度为25<T<55。b对于铝和钛，A级和AB级透照厚度为35<T₂<120。4.3.6.3被检工件透照厚度大于或等于10mm且透照厚度差较大、小直径管壁厚大于8mm时，宜采用γ射线源透照，但胶片等级或成像器的空间分辨率应提高一个等级。小直径管壁厚大于或等于10mm时，不宜采用胶片成像检测，可采用射线数字成像检测或超声波等其他方法检测。4.3.6.4采用中心透照时，在保证像质计灵敏度满足要求的前提下，允许γ射线最小透照厚度取表4下限值的50%。4.3.6.5当采用其他方式透照时，在保证像质计灵敏度满足要求的前提下，经合同双方商定，A级、AB级技术的Ir192和Se75射线源最小透照厚度可取表4中相应下限值的50%。a)X射线透照焦距为700mm时，A级、AB级曝光量不宜小于15mA·min,B级曝光量不宜小于20mA·min。当焦距发生改变时可按平方反比定律对曝光量进行换算。b)小直径管采用椭圆成像或垂直成像透照，焦距为700mm时，曝光量宜控制在7.5mA·min以内，且管子内壁轮廓应清晰显示在底片上。当壁厚大于或等于8mm时，应按照4.3.6.3的要求执行；如选用X射线在保证穿透力和检测范围的前提下，焦距为700mm时曝光量可大于c)采用γ射线源透照时，曝光时间不应少于输送射线源往返所需时间的10倍。曝光量可按式(4)计算。K——常数(C5胶片取0.026,C4胶片取0.038);F——焦距，mm;8DL/T821—2017后放置厚度为2mm～3mm的铅板，以减少背散射线对底片质量的影响。透照管排时，如因管子间散射管排铅板4.4.2放射工作人员应佩戴个人剂量计，工作现场应配置射线报警仪，γ射线检测时还应配置辐射监4.5成像质量和观察4.5.1.3观片灯在底片评定范围内透过的亮度大于或等于10cd/m²时，底片允许黑度的上限可适当9DL/T821—20174.5.2.1A级、AB级影像的灰度值应控制在满量程的20%～80%;B级影像的灰度值应控制在满量程的40%～80%。4.5.2.2影像灰度的确定方法见附录B。4.5.3.3双线型像质计可识别率测量应按附录A的规定进行。4.5.4.2底片上不应出现验证背散射屏蔽效果标记“B”黑度低于周围背景黑度的影像。4.5.4.4数字影像信噪比应满足表5和表6归一化信噪比的最低要求。数字影像归一化信噪比的计算方法参见附录C。表5适用于钢、镍、钛及其合金的归一化信噪比的最低要求透照厚度mm归一化信噪比A级、AB级B级管电压UU<50—γ射线种类表6适用于铝及其合金的归一化信噪比的最低要求归一化信噪比A级、AB级B级U<150150≤U<250250≤U<500γ射线种类Se75DL/T821—20174.5.5.1评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间，从阳光下进入评片的暗适应时间一般为5min~10min;从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30s。b)当底片评定范围内的黑度D大于2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m²。4.5.5.3评定时允许使用放大倍数小于或等于5倍的放大镜。4.5.5.4数字影像观察时，应在光线柔5透照及成像技术5.1透照方法5.1.1纵缝透照法射线源置于工件一侧，胶片或成像器放置在工件另一侧相应对接接头的区域上，并与其贴紧。纵缝透照法示意图见图3。L工件表面至胶片或成像器的距离；图3纵缝透照法示意图射线源应置于金属管外，胶片或成像器应放置在射线源侧钢管内壁相应对接接头的区域上，并与其贴紧。单壁单投影法示意图见图4。DL/T821—2017射线源射线源3mm~10mm为宜，见图6a)。射线源射线源射线源射线源图6双壁双投影法示意图DL/T821—2017使用γ射线源时，射线源应置于环缝纵向切面中心位置；采用周向X射线机时，应使胶片或成像器射线源应置于环缝纵向切面中心以外的位置，胶片或成像器应放置工件外表面对接接头上，并与胶片或成像器胶片或成像器sff5.2.1.1板及外径大于89mm的管道，其对接接头透照应采用JB/T7902中规定的线型像质计。5.2.1.2外径大于76mm且小于或等于89mm的管子，其对接接头透照应采用附录D规定的I型专用5.2.1.3外径小于或等于76mm的管子，其对接接头透照应采用附录D规定的Ⅱ型或I型专用像质计。5.2.1.4透照厚度Ta应根据透照方法，按附录E的规定计算。5.2.1.5像质指数的选择应符合表7的规定。DL/T821—2017像质指数mm单壁透照(像质计置于源侧)双壁双影透照(像质计置于源侧)双壁单影或双壁双影透照(像质计置于胶片或成像器侧)AB级AB级AB级一—一98765—4一一3一一2一一一直，细丝置于外侧。当射线源侧无法放置像质计时，也可放在胶片侧的工件表面上，但像质指数应提高一级，或通过对比试验使实际像质指数达到规定的要求。像质计放在胶片侧工件表面时，应附加“F”标记。DL/T821—20175.2.1.8I型专用像质计在透照单根管子时应放在距射线源最近的焊缝表面，金属丝应横跨焊缝并与焊缝垂直。透照排管时，按5.2.1.6执行。5.2.1.9Ⅱ型专用像质计的金属丝应置于焊缝中心，围绕全周。5.2.2.1双线型像质计应放置在成像器侧被检工件检测区中心位置，金属丝与成像器的行或列成2°~505.2.2.2数字影像中应显示双线型像质计。在透照参数和检测对象不变连续检测的情况下，可仅在第一幅影像中显示双线型像质计。5.2.2.3若双线型像质计无法放置在规定的位置，应采用表8、表9中厚度下限值的对比试件代替被检工件，但其数字影像分辨率不得低于表8、表9中的规定值。公称厚度T或透照厚度Ta范围mm影像分辨率Lp/mm丝号丝径mm2<TIT₈≤3.56.25D110.18D100.105<TIT≤10D90.1310<TIT.≤253.125D80.16D70.2055<T/T≤150D60.25150<T/T,≤250D50.32T/T₂>250D40.40注：对于双壁单影透照方式，应取公称厚度T。表9B级检测技术等级像质应达到的影像分辨率公称厚度T或透照厚度Ta范围mm影像分辨率Lp/mm丝号丝径mm2<T/T.≤4D130.05D120.0636.25D110.08D100.1040<TIT₄≤120D90.13120<TIT≤2003.125D80.16T/T.>200D70.20注：对于双壁单影透照方式，应取公称厚度T。5.3深度对比块小直径管对接接头的未焊透和内凹深度的测定，应采用附录D的I型深度对比块。当管子外径大于89mm时，采用附录D的Ⅱ型深度对比块。对比块应平行于焊缝放置，且距焊缝边缘大于或等于DL/T821—20175.4.1采用双壁单影法透照时，射线源至工件外表面的距离，当小于或等于15mm时，至少分3段透照，即每段对应的中心角应小于或等于120°;当大于15mm时，至少分4段透照，即每段对应的中心5.4.2对外径大于76mm且小于或等于89mm的管子，其焊缝采用双壁双影法透照时，相隔90°透照a)环形对接焊缝的K值不大于1.1。b)纵向对接焊缝的K值不大于1.03。DL/T821—2017母材公称厚度TmmT≤2525<T≤100T>100评定区尺寸mm×mm表11缺陷点数换算表缺陷长径点数1236母材公称厚度Tmm缺陷长径mmT≤25≤0.525<T≤50≤0.7T>50c)应根据表13对对接接头质量进行评级。DL/T821—2017评定区尺寸mm×mm母材公称厚度mm点数质量级别T≤1025<T≤5050<T≤100T>100I123456369Ⅲ6点数大于Ⅲ级者；长径大于T/2者；深孔缺陷焊缝质量的分级应降低1级。1)缺陷的矩形评定区长度由质量级别确定，Ⅱ级时为12T、Ⅲ级时为67。2)缺陷的矩形评定区宽度确定：T≤25mm,宽度为4mm;25mm<T≤100mm,宽度为6mm;T>100mm,宽度为8mm。表14含有条形缺陷的对接接头质量分级质量级别母材厚度Tmm条状缺陷总长连续长度ⅡT≤124在矩形评定区内，相邻两缺陷间距均不超过6L的任何一组缺陷，其累计长度在12T焊缝长度内不超过TT/3T≥60ⅢT≤96在矩形评定区内，相邻两缺陷间距均不超过3L的任何一组缺陷，其累计长度在6T焊缝长度内不超过T9<T<45T≥45大于Ⅲ级者注1:L为该组条形缺陷最长者的长度，T为母材公称厚度。注2:当被检焊缝长度小于12T(Ⅱ级)或6T(Ⅲ级),可按被检焊缝长度小于12T(Ⅱ级)或6T(Ⅲ级)的比例折算出被检焊缝的长度内的允许值。当折算的条形缺陷总长度小于单个条形缺陷长度时，以单个条形缺陷长度为允许值。注3:当两个或两个以上条形缺陷在矩形评定区内且相邻间距小于或等于较小条形缺陷时，应作为单个连续条形缺陷处理，其间距也应计入条形缺陷长度，否则应分别评定。DL/T821—2017表15含有未焊透缺陷的对接接头质量分级质量级别未焊透深度未焊透总长mm占壁厚百分比%极限深度mm连续未焊透长度断续未焊透长度ⅡT≤12时，不大于4;12<T<36时，不大于T/3;T≥36时，不大于12在任意直线上，相邻两缺陷间距均不超过6L的任何一组缺陷，其累计长度在12T焊缝长度内不超过TⅢT≤9时，不大于6;9<T<30时，不大于2T/3;T≥30时，不大于20在任意直线上，相邻两缺陷间距均不超过3L的任何一组缺陷，其累计长度在6T焊缝长度内不超过T大于Ⅲ级者注1:L为断续未焊透中最长者的长度，T为母材公称厚度。间距也应计入条形缺陷长度，否则应分别评定。注3:当被检焊缝长度小于12T(Ⅱ级)或6T(Ⅲ级),可按被检焊缝长度小于12T(Ⅱ级)或6T(Ⅲ级)的比例折个(连续)未焊透缺陷长度为允许值。注4:按DL/T869规定，适用氩弧焊打底的对接接头不允许有根部未焊透缺陷。c)含有未焊透缺陷的小直径管对接接头质量分级应符合表16的规定。质量级别未焊透深度连续或一条直线上断续未焊透占焊缝总长的百分比%占壁厚百分比%极限深度mmⅡ≤1.5Ⅲ大于Ⅲ级者注1:当两个或两个以上未焊透在一条直线上且相邻小于或等于较小条形缺陷时，应作为单个连续条形缺陷处理，其间距也应计入条形缺陷长度，否则应分别评定。注2:按DL/869规定，适用氩弧焊打底的对接接头不允许有根部未焊透缺陷。含有根部内凹缺陷的对接接头质量分级应符合表17的规定。质量级别内凹深度内凹总长占焊缝总长的百分比%占壁厚百分比%极限深度mmIⅡ≤1.5Ⅲ大于Ⅲ级者注：对断续内凹，以其本身长度累加计算总长度。DL/T821—2017在评定区内同时存在几种类型缺陷时，应先按各类缺陷分别对对接接头进行分级，然后将各自评7.3.1.1检测结果评定和质量分级适用于厚度2mm～80mm的}}区尺寸见表18。b)应先按表19将评定区内的圆形缺陷换算成点数并累计计算点数，再按表20的规定评定对接接表18圆形缺陷评定区尺寸母材公称厚度TmmT≤2020<T≤80评定区尺寸mmXmm表19圆形缺陷点数换算表缺陷长径点数1236评定区mm×mm母材公称厚度TmmT≤520<T≤4040<T≤80I级4688Ⅲ级IV级缺陷点数大于Ⅲ级者注1:单个圆形缺陷评定：I级：缺陷尺寸不大于TI5,且不大于4mm的缺陷，在1000mm²区域不超过1个。Ⅱ级：缺陷尺寸不大于T/4,且不大于6mm的缺陷，在1000mm²区域不超过1个。Ⅲ级：缺陷尺寸不大于T/3,且不大于8mm的缺陷，在1000mm²区域不超过1个。注2:当母材公称厚度不同时，取较薄侧的厚度。DL/T821—2017c)当缺陷的尺寸小于表21的规定时，分级评定不计该缺陷点数。但对于1级对接接头和母材公称厚度T≤5mm的2级对接接头，不计点数的缺陷在圆形评定区内不得多于10个，超过时对接接头质量应降一级。母材公称厚度Tmm缺陷长径mmT≤10≤0.320<T≤40≤0.77.3.2.5含有未焊透、根部内凹和咬边缺陷的对接接头质量分级应按表22的规定评定对接接头的质量质量级别未焊透深度占壁厚百分比%连续或一条直线上断续未焊透占焊缝周长%任意500mm长度内ⅡⅢ大于Ⅲ级者注1:当两个或两个以上未焊透在一条直线上且相邻小于或等于较小条形缺陷时，应作为单个连续条形缺陷处理，其间距也应计入条形缺陷长度，否则应分别评定。注2:按DL/T869规定，适用氩弧焊打底的对接接头不允许有根部未焊透缺陷。在评定区内，同时存在几种类型缺陷时，应先按各类缺陷对对接接头质量分级，取质量级别最低的级别作为综合分级的级别；当含有各类缺陷的对接接头质量级别相同时，则降低一级作为综合分级7.4.1.1检测结果评定及质量分级适用于厚度为2mm～50mm钛及钛合金熔化焊对接接头。DL/T821—2017表23圆形缺陷评定区评定区尺寸mm×mmb)在评定区内或与评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。评定圆形缺陷时应按表24换算成点数在评定区域内累计计算，按表25的表24缺陷点数换算表缺陷尺寸mm缺陷点数1248评定区mm×mm母材公称厚度TmmT≤33<T≤520<7≤3030<T≤50I级1234562468Ⅲ级48IV级缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于T/2。注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。c)当缺陷的尺寸小于表26的规定时，分级评定不计该缺陷点数。但对于1级对接接头和母材公称厚度T≤5mm的Ⅱ级对接接头，不计点数的缺陷在圆形评定区内不得多于10个，母材公称厚度T>5min的Ⅱ级对接接头，不计点数的缺陷在圆形评定区内不得多于20个，母材公称厚度T>5mm的Ⅲ级对接接头，不计点数的缺陷在圆形评定区内不得多于30个，超过上述规定表26不计点数的缺陷尺寸母材公称厚度T缺陷长径在评定区内，同时存在几种类型缺陷时，应先按各类缺陷对对接接头质量分级，取质量级别最低DL/T821—2017的级别作为综合分级的级别；当含有各类缺陷的对接接头质量级别相同时，则降低一级作为综合分级8技术资料8.1检测报告主要内容应包括：产品名称、检测标准、检测部位、使用设备、成像条件、缺陷情况、验收标准和质量等级、返修情况、检验人员及其资格等级和照相日期等，射线检测报告格式参见附(规范性附录)系统分辨率的核查及双线型像质计可识别率的测量A.1系统分辨率核查应采用分辨率测试卡(平行排列形式、扇形排列形式)或双线型像质计。分辨率测试卡的最大线对数应大于系统规定的性能指标(见表8、表9)。A.2分辨率测试卡样应符合GB/T23903的规定。A.3双线型像质计式样应符合GB/T23901.5的规定。A.4分辨率测试卡和双线型像质计均应有测试或鉴定证书。A.5核查方法。A.5.1应将分辨率测试卡或双线型像质计紧贴在成像器表面中心区域，金属丝应与成像器的行或列成2°~5°夹角，按如下工艺进行透照，并在计算机上成像：a)射线源焦点至成像器的距离为1000mm±50mm。b)不同材质的曝光参数：1)对于轻合金材料：相当于90kV的射线能量，1mm铝滤波板；2)对于钢、铜、镍及其合金材料：厚度不大于20mm时，相当于160kV的射线能量，1mm铝滤波板；3)对于钢、铜、镍及其合金材料：厚度大于20mm时，相当于220kV的射线能量，1mm铝滤波板。c)灰度值不小于最大灰度值的50%。不小于140;像素值小于80μm时，SNR不小于100。A.5.2在显示屏上观察分辨率测试卡的影像，当观察到栅条刚好分离的一组线对，则该组线对所对应的数值即为系统分辨率。A.6双线型像质计可识别率的测量方法。A.6.1双线型像质计的布置。双线型像质计的放置应与影像(或成像器)的行或列成较小的夹角(20°~50°)。A.6.2双线型像质计的识别的测量应在影像上灰度均匀的区域内进行，应使用不少于21行像素叠加平均。A.6.3按照图A.1所示，在能够清晰地分辨最细线对的影像处，按式(A.1)计算丝的可识别率R。BGV△GV图A.1双线型像质计可识别率图示DL/T821—2017DL/T821—2017灰度直方图是灰度级的函数，描述的是影像中该灰度级的像素个数或该灰度级像素出现的频率，反映了影像灰度分布的情况。横坐标表示灰度级，纵坐标表示影像中该灰度级出现的个数或该灰度级B.2通过A/D转换数值确定影像灰度灰度等级是对数字成像系统获得的黑白影像明暗程度的定量描述，它由系统A/D转换器(模/数转DL/T821—2017JB/T7902的规定。其形式、线编号见图D.1。图D.1中编号由3位字母表示，第1、第2位表示材DL/T-821ADL/T-8212