集成电路 收发器的电磁兼容（EMC）评估 第2部分：局域互联网络 （LIN）收发器 征求意见稿

4GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016集成电路收发器的电磁兼容（EMC）评估第2部分：局域互联网络（LIN）收发器本文件规定了网络条件下局域互联网（LIN）收发器集成电路（IC）的电磁兼容(EMC)评估的试验和测量方法。定义了试验配置、试验条件、试验信号、失效判据、试验程序、试验设置和试验板。适用于标准LIN收发器IC和内置LIN收发器IC，并包括·射频骚扰发射；·静电放电（ESD）抗扰度。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。IEC61967-1集成电路电磁发射测量第1部分：通用条件和定义（Integratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions150kHzto1GHz–Part1:Generalconditionsanddefinitions）IEC61967-4集成电路电磁发射测量（150kHz～1GHz）第4部分：传导发射测量－1Ω/150Ω直接耦合法（Integratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions150kHzto1GHz–Part4:Measurementofconductedemissions–1Ω/150Ωdirectcouplingmethod）IEC62132-1集成电路电磁抗扰度测量第1部分：通用条件和定义（Integratedcircuits-Measurementofelectromagneticimmunity–Part1:Generalanddefinitions）注：GB/T42968.1-2023集成电路电磁抗扰IEC62132-4集成电路电磁抗扰度测量（150kHz～1GHz）第4部分：直接射频功率注入法（Integratedcircuits-Measurementofelectromagneticimmunity150kHzto1GHz–Part4:DirectRFPowerInjectionMethod）IEC62215-3集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法（Integratedcircuits–Measurementofimpulseimmunity-Part3:Non-synchronoustransientinjectionmethod）注：GB/T43034.3-2023集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法（IEC62215-ISO7637-2道路车辆由传导和耦合引起的电骚扰第2部分：沿电源线的电瞬态传导（Roadvehicles—Electricaldisturbancesfromconductionandcoupling–Part2:Electricaltransientconductionalongsupplylinesonly）注：GB/T21437.2-2021道路车辆由传导和耦合引起的电骚扰第2部分：沿电源线的电瞬态传导（ISOISO10605道路车辆静电放电产生的电骚扰的试验方法（Roadvehicles-Testmethodsforelectricaldisturbancesfromelectrostaticdischarge）注：GB/T19951-2019道路车辆电5GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016ISO17987-6.2道路车辆局域互连网络（LIN）第6部分：协议一致性测试规范（Roadvehicles–Localinterconnectnetwork(LIN)–Part6:Protocolconformancetestspecification）3术语和定义、缩略语3.1术语和定义IEC61967-1和IEC62132-1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1.1全局引脚globalpin进入或离开所在电路板的信号或电源的引脚，此引脚与电路板之间没有任何有源器件。3.1.2标准LIN收发器ICstandardLINtransceiverIC符合ISO17987的独立LIN收发器或具有集成LIN收发器单元，及RxD和TxD信号连接的IC。3.1.3内置LIN收发器ICICwithembeddedLINtransceiver具有集成LIN收发器单元和LIN协议处理程序，但无对外LINRxD或TxD信号连接的IC。3.2缩略语DUT受试器件（Deviceundertest）DPI射频功率直接注入（DirectRFPowerInjection）INH禁止（Inhibit）LIN局域互连网络（Localinterconnectnetwork）PCB印制电路板（PrintedCircuitBoard）RxD接收数据（ReceiveData）SBC系统基础芯片（SystemBaseChip）TxD发送数据（TransmitData）4一般要求本文件旨在评估在最小网络中应用条件下LIN收发器IC的EMC性能。LIN收发器IC通常有两种类型：标准LIN收发器IC和内置LIN收发器IC。LIN收发器的EMC特性评估应在网络条件下的功能运行模式进行RF发射、RF抗扰度和脉冲抗扰度试验，在不加电模式的单个收发器IC上进行ESD试验。这些试验的目的是确定LIN收发器专用全局引脚的EMC性能，这些引脚认为与实际应用相关。对于一个标准LIN收发器IC，这些引脚是LIN、VBAT和局域WAKE；对于内置LIN收发器IC，这些引脚至少是LIN和VBAT。用于EMC表征的试验方法基于ICEMC试验的国际标准，并在表1中进行了描述。表1所需测量和测试概览6GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016选择150Ω直接耦合、DPI和脉冲抗扰度试验方法来评估功能模式下收发器的EMC特性。这三种试验方法基于使用传导耦合的相同方法。因此，可在功能运行模式下针对所有试验使用相同的试验板，其减少了工作量，增加了试验结果的复现性和可比性。ESD试验在单独试验板的不加电收发器IC上进行。如附录B所述，所有测量和试验均宜在专用试验板上使用焊接的收发器进行，以确保与应用条件相同，并避免插座对布置的影响。通常，试验定义针对的是标准LIN收发器IC。对于内置LIN收发器IC，需要进行一些调整，这些调整大部分在本文件中进行描述。最后，这种调整必须针对专用IC单独进行，但应符合一般定义。为了验证滤波器对LIN收发器EMC性能的影响，本文件定义了LIN引脚上有无总线滤波器的配置，其值基于ISO17987。因此，在解释测试结果时必须考虑这些滤波器元件的频率特性。5试验和运行条件5.1电源和环境条件对于工作条件下进行的所有试验和测量均采用12V电源系统，这是LIN收发器的主要应用。如果收发器的设计针对其他电源电压，则应相应地调整和记录试验条件和试验目标。表2给出了定义的功能运行的电源和环境条件。表2功能运行的电源和环境条件值供电电压V供电电压V对于RF发射测量，环境本底噪声应比目标限值至少低6dB，并记录在试验报告中。不加电ESD测试应在无任何供电电压的情况下进行，应符合ISO10605气候环境条件的要求。5.2试验工作模式LIN收发器IC应在供电功能运行模式下进行测试，并在不加电模式下进行无源测试。功能运行模式为正常模式和休眠模式。5.3试验配置5.3.1功能试验的常规试验配置试验配置通常包括具有强制外部组件的LIN收发器、滤波和去耦组件（LIN节点）的最小试验网络，已滤波的电源、信号、监测探头和耦合网络连接如图1所示。7GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016监测和激励/模式控制监测和激励/模式控制例如：TxD，RxD，INH节点1激励和监测的去耦网络耦合端口和耦合网络节点2激励和监测的去耦网络具有去耦网络的电源例如：V，VLIN总线滤波器（可选）LIN总线滤波器（可选）试验网络收发器收发器图1在功能运行模式下进行测试的常规试验配置为了评估功能运行模式下LIN收发器的RF发射、RF抗扰度和脉冲抗扰度特性，应使用由两个LIN收发器IC组成的最小LIN试验网络。根据收发器的类型，定义以下网络配置：l如果是标准LIN收发器IC（DUT），则为两个相同类型的收发器，或l一个内置LIN收发器IC（DUT）和一个标准LIN收发器IC。附录A中给出了两种更详细的LIN收发器试验网络总原理图。5.3.2不加电ESD试验的通用试验配置LIN收发器不加电ESD试验的通用试验配置由具有强制外部组件的单个LIN收发器和具有放电耦合网络的试验板上的滤波组件组成，如图2所示。不加电收发器不加电收发器耦合端口和耦合网络LIN总线收发器滤波器（可选）图2不加电ESD试验的通用测试配置5.3.3功能测试的耦合端口和耦合网络耦合端口和耦合网络用于将骚扰传输进出具有规定传输特性的试验网络。耦合端口、网络和引脚的示意图如图3所示。组件的值取决于试验方法，在表3中进行定义。组件的允差应为1%或更小。8GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016耦合端口耦合端口耦合网络引脚CRLINRRF连接器CRVRRF连接器CR唤醒RCP3唤醒CP1LINCP2V图3耦合端口和网络为功能测试表3功能测试的耦合端口和耦合网络组件值的定义RCR连接LIN试验网络的耦合端口和耦合网络的试验配置的总原理图，标准LIN收发器IC如图A.1所示，内置LIN收发器IC如图A.2所示。耦合端口和耦合网络的特性按照如下进行测量：应测量端口CP1到CP3与试验板上相应收发器信号焊盘之间的插入损耗幅值（S21测量），并记录在试验报告中。对于该特性，耦合端口应配置用于射频抗扰度，应移除LIN收发器IC。直接连接到耦合端口的所有其他组件（例如电源或负载滤波器）都保留在试验板上。5.3.4不加电ESD试验的耦合端口和耦合网络用于不加电直接ESD试验的耦合端口和耦合网络，将放电点连接到LIN收发器IC试验电路。图4和表4给出了耦合端口、耦合网络和引脚的示意图和定义。9GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016耦合端口耦合端口耦合网络引脚CP1LINR1(可选)放电点CP2VR2(可选)放电点CP3WakeR3(可选)WakeLINV图4不加电ESD试验用耦合端口和网络表4不加电ESD试验耦合端口的定义阻值≥200kΩ的可选电阻器R1至R3用于避免ESD发生器引起的放电点的静电预充电。应避免这些电阻器在高试验电平下发生火花放电。如果静电放电发生器结构防止了静电预充电，则不需要这些电阻器。或者，可使用外部5.4试验信号5.4.1一般要求根据收发器的类型，定义了不同的试验信号，用于LIN收发器IC的正常运行模式和从睡眠或待机模式唤醒的通信。5.4.2正常运行模式的试验信号通信试验信号TX1应用于在正常运行模式下对标准LIN收发器IC进行试验。对于内置LIN收发器IC，TX1用于分析DUT是否影响其他无地址的LIN通信。该周期信号的参数在表5中定义。表5通信试验信号TX1TxD高低4ms9msGB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016该信号定义为LIN帧，其参数在表6中给出，其中内置LIN收发器必须根据其设计或编程功能进行发送和/或响应。表6通信试验信号TX2a如可能，宜将其用于所有测试。可使用其他协议版本进行可选测试。b给定的比特速率定义为默认值。如可能，宜将其用于所有测试。可使用其他比特速率进行可选测试。5.4.3从休眠模式唤醒的试验信号唤醒试验信号TX3应用于标准LIN收发器IC和内置LIN收发器IC休眠模式所需唤醒的试验。这种信号的参数见表7。它应只能作为唤醒请求发送一次。根据受试收发器，可能需要具有数据帧或更长唤醒请求的第二个信号从受试收发器获得数据响应，或者在下一次试验之前将DUT设置回休眠模式。表7唤醒试验信号TX3高高低TxD5.5评估判据5.5.1一般要求GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016对于LIN收发器IC的抗扰度性能评估，在暴露于骚扰下的功能运行模式和暴露于骚扰之后的不加电模式定义了不同的评估判据。具有RxD和TxD连接的LIN收发器IC，应按照标准LIN收发器的定义进行试验，即使它们具有附加功能（例如系统基础芯片）。出于试验目的，若有必要，此类IC的一些其他功能也可用于监测。根据IEC62132-1和5.5.4中的定义，LIN收发器IC的最终功能状态应分为状态类别AIC、CIC或DIC。5.5.2功能运行模式下暴露于骚扰后的评估判据标准LIN收发器IC功能运行模式的评估判据见表8，内置LIN收发器功能运行模式的评估判据见表规定边界值应用于故障监测。如果未另行规定，则故障验证适用于试验网络中的所有收发器。一旦受试收发器超过了特定的边界值，将产生此试验情况的错误事件。监测信号的参考值取决于受试收发器，应在未受干扰的条件下获取监测信号的参考值。这些参考信号结合边界值用于产生故障验证掩码。可商定与规定边界值的偏差，并应在试验报告中注明。在正常运行模式下，将评估通讯和对其他功能的影响。通过与标准LIN收发器的INH串扰以及对内置LIN收发器IC其他通信的反馈，可以评估对其他功能的影响。在休眠模式下，将评估有意和无意的唤醒功能。表8功能运行模式下标准LIN收发器IC的评估判据±0.9V/±7.5无±0.9V/±100s对于特殊情况，可商定不同的边界值，并应在试验报告中注明。a静态信号，与持续时间无关。bRxD或INH评估取决于LIN收发器的功能。c将试验网络的一个收发器（DUT）设置为休眠模式。第二收发器处于正常模式并发送信号TX3以被DUT检测为唤醒。仅监测DUT，应在试验信号TX3的第一个显性到隐性转变之后唤醒。对于内置LIN收发器IC，必须根据以下定义，并根据其功能进行故障验证。具有内置LIN收发器IC（DUT）对其他通信的反馈应通过监测其RxD信号，在试验网络中的其他收发器（节点1）上进行验证。表9功能运行模式下内置LIN收发器IC的评估判据对其他通信的–––––无–––GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016–a监测SyncErr，TXErr，RxErr和CSErrb能够指示唤醒事件的一个功能信号（例如电压输出，电流消耗等）cDUT设置为休眠模式。试验网络中的另一个收发器处于正常模式，并发送信号TX3以被DUT检测为唤醒。仅监测DUT,应在试验信号TX3的第一个显性到隐性转变之后唤醒。d数据响应，如果在TX3之后发送数据帧的第二信号用于唤醒指示。5.5.3不加电条件下暴露于骚扰后的评估判据应使用半导体参数分析仪等测量受试引脚对GND的输入特性（电流与电压之间的关系）。试验电压范围宜覆盖或超过受试管脚的最大额定电压，直至出现击穿、回扫或钳位电平。注：常用的试验电压为±50V~±70V，试验电流限值为±0.5mA~±5mA，以避免在特性曲线测量期间损坏IC。抗扰度试验前后测得的I-V特性的任何显著变化（例如超过最大试验电压或电流的±5%）均视为故障。图5示出了I-V特性最大偏差图。引引脚电流i±5%v引脚电压图5I-V特性最大偏差图除了上述I-V特性试验以外，还可根据DUT数据表使用参数试验验证IC的损坏。5.5.4状态类别表10中定义了基于评估判据LIN收发器IC的功能状态类别。表10功能状态类别的定义A-在骚扰施加期间未出现错误，评估判据5.5.2-在骚扰施加结束之后未出现损坏，评估判据5.5.3，可在所有功能试验结束后进行检查C-在骚扰施加期间未出现错误，评估判据5.5.2-在骚扰施加结束之后未出现错误，评估判据为5.5.2，DUT自动恢复正常运行-在骚扰施加结束之后未出现损坏，评估判据5.5.3D-在骚扰施加期间出现错误，评估判据5.5.2-在骚扰施加结束之后未出现错误，评估判据5.5.2，但当骚扰施加结束之后，通过简单的操作（例如，关闭/打开电源，通过SPI重新初始化），DUT才可自动恢复到正常运行。-在骚扰施加结束之后未出现损坏，评估判据5.5.36试验和测量6.1射频骚扰发射6.1.1试验方法GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016RF发射的测量应按照IEC61967-4的150Ω直接耦合法进行。6.1.2试验布置收发器的RF发射测量应使用根据图6的布置进行。RFRF测量控制PC监测和激励频谱分析仪/EMI接收机示波器TxD（可选）RxD模式控制单元TxD同轴连接器EMI1试验网络RxD或INH滤波器连接器耦合端口：CANEMI1V、V、GND远程控制（可选）码型发生器LIN分析仪EMI2EMI3V唤醒试验板EMI3EMI2图6射频骚扰测量的试验布置试验设备要求如下：.频谱分析仪/EMI接收机.试验板.码型发生器.电源.模式控制单元（如可能，可通过PC远程控制）.控制PC（可选）.数字存储示波器（DSO）.LIN分析仪（可选，仅用于测试内置LIN收发器IC）6.1.3试验程序和参数射频发射试验应使用表11中给出的试验参数进行。表11发射测量参数GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016无C=2×110pF无C=2×110pF表12给出了射频测量设备的设置。表12射频测量设备的设置150kHz~30MHz:30MHz~1000MHz:––––150kHz~30MHz:30MHz~1000MHz:––6.2射频骚扰抗扰度6.2.1试验方法射频抗扰度试验应使用IEC62132-4的DPI试验方法进行。6.2.2试验布置收发器的射频抗扰度试验应使用图7所示的布置进行。GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016RFRF生成控制PCRF发生器RF放大器RF功率计示波器定向耦合器TxD远程控制（可选）RxD模式控制单元TxD同轴连接器RF1RF2RF3耦合端口：CANRF1VRF2WakeRF3试验板监测和激励码型发生器V、V、GNDLIN分析仪RxD或INH测试网络（可选）连接器滤波器图7DPI测试的试验设置试验设备要求如下：.射频发生器（f=1MHz~1000MHz）.射频放大器（P≥10W）.带定向耦合器的功率计（f=1MHz~1000MHz）.试验板.码型发生器.电源.模式控制单元（如可能，可通过PC远程控制）.控制PC（可选）.数字存储示波器（DSO）.LIN分析仪（可选，用于内置LIN收发器IC的测试）6.2.3试验程序和参数为了确定LIN收发器IC的射频抗扰度，应按表13中的参数进行试验。表13DPI测试规范12GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:20164–如在该功率电平产生故障，则将功率电平对每个频率步长施加试验功率，并在每次试验应根据表14和表15对标准LIN收发器IC和内置LIN收发器IC分别进行功能状态等级AIC的评估试验。对于每次试验，应确定以正向功率为参数的抗扰度阈值曲线，并将其用图表的形式记录在试验报告中。表14标准LIN收发器IC的功能状态等级AIC评估所需的DPI测试无XXXXV无XX无XX–无XXV无X无X无XX表15内置LIN收发器IC的功能状态等级AIC评估所需的DPI测试无X––GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016C=2×110pFX––无––C=2×110pF––无–––无––XC=2×110pF––X无––X无––XC=2×110pF––X应根据表16对两种类型的LIN收发器IC进行功能状态等级CIC或DIC的测试。表16标准LIN收发器IC和内置LIN收发器IC进行功能状态等级CIC或DIC评估所需的DPI测试TX1/TX2C=2×110pFTX1/TX2无TX1/TX2无6.3脉冲抗扰度6.3.1试验方法脉冲抗扰度试验应根据IEC62215-3使用非同步瞬态注入法进行。6.3.2试验布置收发器的脉冲抗扰度试验应使用图8的试验布置和表3的耦合网络进行。GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016控制控制PC监测和激励脉冲产生码型发生器试验脉冲发生器示波器TxD远程控制（可选）RxD模式控制单元TxD同轴连接器IMP1IMP2IMP3 CANIMP1VIMP2WakeIMP3试验板V、V、GNDLIN分析仪RxD或INH试验网络（可选）连接器滤波器图8脉冲抗扰度测试的测试设置试验设备要求如下：.试验脉冲发生器（根据ISO7637-2）.试验板.码型发生器.电源.模式控制单元（如可能，可通过PC远程控制）.控制PC（可选）.数字存储示波器（DSO）.LIN分析仪（可选，用于测试具有内置LIN收发器的IC）6.3.3试验程序和参数为确定收发器对ISO7637-2中定义的脉冲的抗扰度，应使用表17和表18中给出的定义和参数进行试验。表17脉冲抗扰度测试规范GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016功能状态等级C或D的测试程序），表18脉冲抗扰度试验参数Vs最大值1-100222–-150––应根据表19和表20分别对标准LIN收发器IC和内置LIN收发器IC进行功能状态等级AIC的评估试验。对于每项测试，必须确定脉冲抗扰度等级，并记录在试验报告中。表19对标准LIN收发器IC的功能状态等级AIC评估所需的脉冲抗扰度测试无XXXX无XX无XX–无XXXX–无XX–无XX无XXXXGB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016表20具有内置LIN收发器的IC的功能状态等级AIC评估所需的脉冲抗扰度测试无––C=2×110pF––无–X–C=2×110pF–X–V无–X––无––C=2×110pF––V无––无––––X应进行测试。应根据表21对两种类型的LIN收发器IC进行功能状态等级CIC或DIC的测试。表21对标准LIN收发器IC和内置LIN收发器IC进行功能状态等级CIC或DIC评估所需的脉冲抗扰度测试TX1/TX2C=2×110pFRxD/LIN数据监控工VTX1/TX2无TX1/TX2无6.4静电放电（ESD）6.4.1试验方法ESD抗扰度试验应使用符合ISO10605的直接ESD放电方法进行。6.4.2试验布置LIN收发器IC的ESD抗扰度测试应根据图9的试验布置进行。GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016DUTDUTESD试验板的地平面将GND引脚和ESD试验板的地平面连接试验夹具表面连接ESD试验板的地平面和试验夹具表面连接试验夹具与接地平面ESD试验板ESD试验板DUT试验夹具接地平面ESD发生器非导电桌ESD发生器接地回线ESD发生器放电点保护地GND图9直接ESD测试的试验布置试验设备要求如下：.ESD试验发生器（根据ISO10605，接触放电模块（C=150pF和R=330Ω),.ESD试验板.接地平面.试验夹具最小尺寸为0.5m×0.5m的接地平面应与实验室电气接地系统的保护地进行连接。ESD发生器的接地回路电缆应直接连接接地平面。金属试验夹具定位ESD试验板并将ESD试验板的接地平面直接连接到参考接地平面。试验夹具的接地连接应通过低阻抗和低电感连接到接地平面。这种表面连接宜具有至少4cm2的接触面积。此外，还可以使用铜带进行这种表面连接。在测试时，ESD试验发生器的尖端应直接与ESD试验板的放电点DP1至DP3之一接触（在附录B中进行描述）。为了评估损坏状况，可以使用特定的测试扩展框架或IC适配器来接触收发器的引脚。6.4.3试验程序和参数为了确定LIN收发器IC免受ESD损坏的鲁棒性，应按照表22中给出的建议进行测试。表22直接ESD测试的建议R=330Ω,C=150pF最终电平V或15kVGB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016不大于V=15V=15kV：1kV1）正常模式（DUT传输）LIN信号和所有受试引脚I-V特性（引脚对地）的b）在每个试验电压电平下的附加功能测试：LIN信号评估。与参考信号的最7试验报告试验报告宜包括以下内容：·试验布置示意图；·对于抗扰度试验的失效判据；·试验电路板的照片或图；·耦合和去耦网络的传输特性；·试验设备描述；·所用协议版本描述；·与先前定义的试验参数任何偏差的描述；·试验结果。GB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016附录ALIN试验电路A.1一般规定LIN试验电路定义了完整测试电路的详细信息，该试验电路用于在网络条件下以功能运行模式测试LIN收发器IC，并在单个LIN收发器IC的不加电模式下测试ESD。它定义了LIN收发器IC功能的必需和可选组件，以及用于DUT的电源、激励、监视和测试的耦合网络、去耦网络组件。LIN试验电路是测试结果及其解释的基础。A.2用于功能测试的标准LIN收发器IC的LIN测试电路电场强度特性试验装置图A.1给出了用于在具有两个LIN节点的最小通信网络中以功能运行模式测试标准LIN收发器IC的LIN测试网络的测试电路图。节点1充当测试信号的发送器，它模拟了要在已配置网络中节点的输出端口处接收和监视的LIN消息。LIN节点包括收发器（A1，A2LIN总线滤波器（C13，C23强制的外部组件（D11，C11，C12，R11，R12，R13，D21，C21，C22，R21，R22，R23）并在受监控的引脚或输入（R13，R14，R15，R16，R23，R24，R25，R26）处对网络去耦。所有强制的外部组件（LIN总线组件除外）都应根据LIN收发器IC的规范使用。如果规范中定义了用于LIN总线的特殊组件，则应另外对该电路进行测试。Wake引脚上的电阻值应设置为R11，R21的最大规定值（默认阻值（R）=3.3kΩ)和R12，R22的最小规定值（默认R=33kΩ)。为了对监视的引脚RxD，INH和输入TxD进行RF去耦，电阻值设置为R=为了避免休眠模式下INH引脚上的浮动电压，应使用下拉电阻（R17，R27），其值应符合IC规范每个将DUT设置为正常或休眠模式的控制输入都应根据IC规范进行连接/配置。与外围控制设备的连接应与试验电路板（A4光耦合器，R41，R42，R43，R44）去耦。对于外部电源的去耦，两级LC滤波器（L41，L42，C41，C42和L43，C43，C44，C45）分别用于VBAT和VCC。在关注的频率范围内，L42的阻抗应大于400Ω。在VBAT的脉冲测试期间，跳线JP41断开以断开电源电压和VBAT处的RF去耦滤波网络。在这种情况下，电源电压VBAT通过IMP2耦合网络直接提供。标引序号说明：A1,A2标准LIN收发器ICGB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016A4光耦合器C11,C21,C45电容C=22μFC12,C22电容C=100nFC13,C23电容C=110pF(位置取决于测试用例)Ccp1,Ccp2,Ccp3电容(值取决于试验)C41,C43电容C=1nFC42,C44电容C=330pFD11,D21,D40通用整流器型二极管JP11,JP21跨接线L41,L43电感L=47μHL42电感或铁氧体，阻抗为100MHz>750ΩR11,R21电阻R=3.3kΩR12,R22电阻R=33kΩR13,R23电阻R=2.7kΩR14,R15,R16,R24,R25,R26电阻R=1kΩR17,R27电阻R=4.7kΩR28电阻R=1kΩ(模拟ECUVBAT网络上的其他负载（如果在应用中可用）)R40,R41,R42,电阻R=1kΩR43,R44,电阻R=470ΩRcp1,Rcp2,Rcp3电阻(值取决于试验)Rcp1t,Rcp2t,Rcp3t电阻(值取决于试验)图A.1–用于功能测试的标准LIN收发器IC的测试网络的电路图A.3用于功能测试内置LIN收发器IC的LIN试验电路图A.2给出了用于在具有两个LIN节点的最小通信网络中以功能运行模式测试内置LIN收发器IC的LIN试验网络的试验电路图。根据DUT，在正常模式下，节点2可以作为LIN主设备或LIN从设备工作。监视DUT的LIN传输以进行故障验证。LIN节点1是标准配置的LIN收发器IC，用于正常模式。LIN节点2是受试内置LIN收发器IC，包括强制的外部组件和去耦网络（D21，C21，C22）。节点节点1节点节点2/DUT标引序号说明：A1标准LIN收发器ICA2内置LIN收发器IC（DUT）C11,C21,C45电容C=22μFC12,C22电容C=100nFC13,C23电容C=110pF(位置取决于测试用例)Ccp1,Ccp2电容(值取决于试验)C41,C43电容C=1nFC42,C44电容C=330pFD11,D21,D40通用整流器型二极管JP41跨接线L41,L43电感L=47μHL42电感或铁氧体，阻抗为100MHz>750ΩL15铁氧体，阻抗为100MHz>1kΩR11电阻R=10kΩR12电阻R=2,7kΩR13电阻R=2,7kΩGB/TXXXX.2-XXXX/IEC62228-2:2016R14,R40电阻R=1kΩR17电阻R=4,7kΩR21电阻R=1kΩ(模拟ECUVBAT网络上的其他负载（如果在应用中可用）)Rcp1,Rcp2电阻(值取决于试验)Rcp1t,Rcp2t电阻(值取决于试验)图A.2–用于功能测试的内置LIN收发器IC的测试网络的电路图A.4用于不加电模式ESD测试的LIN收发器IC的LIN测试电路图A.3给出了用于测试标准LIN收发器IC的不加电模式下LIN收发器IC的直接ESD的测试电路图。对于内置LIN收发器IC，使用相同的原理。标准标准LIN收发器标准标准LIN收发器标引序号说明：A1被测IC(DUT)C1电感C=100nFC2电感C=220pF(位置取决于测试用例)R1电阻R=33kΩR2,R3,R4电阻R≥200kΩ(位置是可选的)图A.3不加电模式下LIN收发器IC的直接ESD测试的电路图LIN收发器ICESD测试的测试电路包括单个LIN收发器IC（A1）和强制外部组件（C1，R1），LIN总线滤波器（C2），带有放电点的耦合端口（DP1，DP2，DP3）和可选的放电电阻（R2，R3，R4，R200kΩ)。应根据IC规范选择引脚Wake（R1）上最小的串联电阻值（默认R=33kΩ)。无源元件的默认参数，对于电容器，允差为±10%，材料为X7R，符合电子工业协会（EIA）或类似要求，额定电压≥50V，封装尺寸为1206或0805。电阻器的默认参数，允差为±1%，封装尺寸为1206或0805。GB/TXXXXX—XXXX/IEC62132-2:2010试验电路板B.1功能测试的试验电路板对于LIN收发器IC的功能试验，试验网络应设计在印刷电路板上。为了确保耦合和去耦网络的良好射频特性，宜使用在具有GND层的最小两层PCB上的节点1和节点2的电路设计相同。试验板上耦合路径的长度宜尽可能短。IC互连（LIN）的走线长度，从互连的星形点到IC引脚和射频注入点（若适用）推荐小于30mm。DUT应焊接在试验板上，以尽量减少寄生效应。布局示例如图B.1所示。为了合适的屏蔽，除滤波电源和GND外，所有与试验板外围试验设备的连接都宜通过同轴印刷电路板插座进行连接。图B.1LIN信号的IC互连示例B.2ESD试验对于ESD试验，应使用印刷电路板。应至少选择带有GND层的两层结构的PCB。放电点DP1至DP3的焊盘应确保与试验发生器的放电尖端适当接触（例如通过ESD试验板布局上的圆形通孔）。放电点应通过走线直接连接到收发器IC的各个受试引脚。试验网络的无源组件应靠近收发器以减少寄生效应。DUT宜焊接在试验板上以确保类似的应用条件，并避免插座的寄生布置影响。无源元件的信号线和焊盘与大面积接地区域之间的绝缘距离宜设计为，当不大于预期的试验电压电平时可防止这些点上的火花放电。布局示例如图B.2所示。图B.2LIN收发器IC的ESD试验板示例表B.1中给出了对ESD试验板的进一步要求。GB/TXXXXX—XXXX/IEC62132-2:2010表B.1ESD试验电路板参数5mm如果将试验适配器用于功能和泄漏电流失效确认，则试验板宜能够使收发器引脚直接接触（例如通过附加试验垫）。等级等级III等级II等级IGB/TXXXXX—XXXX/IEC62132-2:2010（资料性）用于汽车的LIN收发器的试验限值示例C.1一般规定附录C的目的给出用于汽车的LIN收发器IC的试验限值示例。有关具体的限值选择，可参考适用的试验方法文件。C.2射频骚扰发射图C.1给出了根据IEC61967-4使用150Ω直接耦合法，引脚LIN、VBAT和Wake射频发射测量限值示例。频率/MHzVWake等级III不带总线滤波器的LIN