JBT 12727.4-2016 无损检测仪器 试样 第4部分：磁粉检测用试样

N77备案号：56450—2017无损检测仪器试样第4部分：磁粉2017-01-01实施前言 Ⅱ 12规范性引用文件 13术语和定义 14技术要求 15试验器具 66试验方法 67检验规则 8标志、包装、运输和贮存 2 3 4图4E型试样 5 8图6手动剩余漏磁测量结果对比曲线图(示例) 9 图10自动剩余漏磁场测量结果与限值(1500A,10mV/div) 图11自动剩余漏磁场测量结果——合格 2.表2C型试样的尺寸 3表3剩余漏磁测量结果(示例) 9表4磁化电流强度与可观测到的最小通孔号 表6B型试样出厂检验及型式试验项目 表7E型试样出厂检验及型式试验项目 ⅡJB/T12727.4—2016JB/T12727《无损检测仪器试样》分为5个部分： ——第3部分：电磁(涡流)检测试样；本部分为JB/T12727的第4部分。1JB/T12727.4—2016无损检测仪器试样第4部分：磁粉检测用试样1范围JB/T12727的本部分规定了磁粉检测用试样(以下简称试样)的类型、尺寸、技术要求、试验方件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T191包装储运图示标志GB/T699优质碳素结构钢GB/T1299工模具钢GB/T1958产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差检测规定GB/T12604.5无损检测术语磁粉检测4-技术要求4.1.3.1A型和D型试样A型和D型试样的形状如图1所示，尺寸见表1。2JB/T12727.4—2016表1A型和D型试样的尺寸名称A型试样的尺寸D型试样的尺寸试样厚度l。μm人工槽深度l₄μm高灵敏度中灵敏度低灵敏度人工槽宽度l₅μm4.1.3.2C型试样C型试样的形状如图2所示，尺寸见表2。3JB/T12727.4—2016表2C型试样的尺寸名称C型试样的尺寸试样厚度l。μm试样长度l₁mm试样宽度l,mm分割线间隔l₂mm人工槽深度laμm高灵敏度中灵敏度低灵敏度人工槽宽度l₅μm4.1.4外观4.2B型试样4JB/T12727.4—2016单位为毫米通孔123456直径D通孔789直径D图3B型试样工具钢棒原材料应进行正火处理，加热至871℃±56℃,保温2.4min/(mm直径)±0.2min/(mm加工后的B型试样应进行退火处理，加热至760℃~782℃,应保持温度至少3h,以每小时不超过28℃±3℃的速度冷却至649℃,并在炉或空气中冷却至室温。退火形成的表面氧化物，应在172kPa～276kPa条件下用玻璃珠或氧化铝使用干喷砂方法去除，干退火后B型试样的硬度应不大于95HRB。5JB/T12727.4—2016a)手动剩余漏磁场测量中，以B型试样通孔号为横坐标(水平),磁感应强度为纵坐标(垂直)制作曲线图(见图6),并绘制平均值曲线图(见图7),任何所测磁感应强度超出允许极限的B孔1的正负峰值迹线图(见图10),画出峰值中间线及其上下限双线图(见图10),响应不均匀4.3E型试样于4级。il1223图4E型试样6JB/T12727.4—20161)高斯计；a)目测比较测量法，将被测表面与已知其评定参数值的表面粗糙度比较样块相比较，被测表面7JB/T12727.4—20166.4人工缺陷尺寸与公差6.4.1通孔a)采用微型孔检验标准棒与0级直角尺校验其垂直度；如被测量试样孔径有角度，可采用与0级b)亦可使用三坐标测量机测量。b)或采用优于上述测量方法的其他手段进行测量。6.4.2切槽6.5B型试样硬度测试采用洛氏硬度计测量B型试样硬度。6.6B型试样灵敏度试验铜导体棒置于B型试样中心，对B型试样进行周向磁化。而后可以采用高斯计手动测量B型试样的剩余漏磁场，或者采用磁性传感器、放大器和示波器自动测量B型试样的剩余漏磁场。8JB/T12727.4—2016a)磁化之前应清除B型试样表面的油或脂。b)按照6.6.1采用1500A电流对B型试样进行磁化。c)将磁化后的B型试样从中心铜导体棒上取下，放置在如图5所示的装置中的滚轴上。图5手动剩余漏磁场测量装置示意图e)调整高斯计探头面与B型试样环面之间的间隙为0.025mm～0.038mm。g)旋转B型试样，使通孔1位于高斯计探头中心上方，而后缓慢来回旋转B型试样，使通孔1往返经过高斯计探头，记录最佳高斯计示值。对B型试样上的每一个通孔重复上述过程。h)以通孔号为横坐标(水平),磁感应强度为纵坐标(垂直)制作曲线图。连接每个点形成一条平滑曲线(见图6)。对于大量其他的B型试样，重复步骤6.6.2,完成所有测量后，计算这些B型试样对应平滑曲线上每个通孔相应的平均磁感应强度值(见表3,环2-4),并绘制平均值曲线图(见图7)。i)任何所测磁感应强度值超出允许极限的B型试样应被判定为不合格品(见图7)。在通孔1的环2-4的平均均值为21G,这个值的10%是2.1G。平均值曲线上下平移2.1G作为B型试样2~4的上下限值曲线(见图7)。采用曲线板，画出B型试样1的均值曲线图(见图7)。对于通孔1(B型试样1)的值是15G,9JB/T12727.4—2016B——B型试样。图6手动剩余漏磁测量结果对比曲线图(示例)表3剩余漏磁测量结果(示例)单位为高斯通孔B型试样1B型试样2B型试样3平均值2-41234856708090剩余漏磁场磁感应强度剩余漏磁场磁感应强度G通孔号说明：图7手动剩余漏磁测量结果与验收准则6.6.3自动剩余漏磁场测量方法图8所示的自动装置中，使用了带有中心孔的转盘，中心孔中可插入中心导体棒，若B型试样需要就地磁化或在与自动装置分离的内穿导体棒上磁化，则需要将夹具和电缆附加在内穿导体棒和磁化源上。电动传动系统应控制B型试样旋转通过磁性传感器。系统应能够自由旋转，无任何抖动。此外，自动装置中还应有电源、磁性传感器、放大器和示波器(见图9)。锥形销B型试样转盘传动带O图8自动剩余漏磁场测量装置机械结构示意图JB/T12727.4—2016示波器磁性传感器a)磁化之前应清除B型试样表面的油或脂。b)按照6.6.1采用1500A电流对B型试样进行磁化。c)校准磁性传感器。d)将B型试样放置在如图8所示的装置上。e)调整磁性传感器与B型试样环面之间的间隙距离为0.025mm～0.038mm。g)B型试样被磁化后，起动旋转，并设置示波器增益到10mV/cm,调整示波器水平调节，以使每一个通孔的峰值在显示器的迹线上间隔均匀(见图10)。拍照或记录这一组中的每个B型试样的迹线。挑选出所有通孔响应最均匀并且通孔1幅值最高的B型试样。采用曲线板，画出正负峰值中间线(见图10)。测量通孔1的总幅值，并计算其值的5%。用通孔1的5%值，绘制正负峰值中间线的上下限双线图(见图10)。h)图11、图12显示了两个B型试样的自动化剩余漏磁场的测量结果，图11的结果为合格，图12的结果为不合格，响应不均匀及超出合格标准的B型试样判定为不合格品。i)在完成所有测试后，应对B型试样进行退磁，使通孔1的漏磁场不超过2G。上限曲线峰值中间线4.重复步骤1、2、3,画出负信号的峰值中间线与上下限曲线。图10自动剩余漏磁场测量结果与限值(1500A,10mV/div)JB/T12727.4—2016对于在本部分发布前已在使用的B型试样，只有它们按照6.6.3进行测试后符合表4的要求，才可以使用。若B型试样不符合表4的要求，可以按照4.2.5再退火并按照本部分进行测试。新生产的B型磁悬液种类电流数(全波直流或半波直流)可观测到的最小通孔荧光氧化物(湿法)356可见氧化物(湿法)356JB/T12727.4—2016表4磁化电流强度与可观测到的最小通孔号(续)磁悬液种类电流数(全波直流或半波直流)可观测到的最小通孔干粉4677检验规则7.1出厂检验7.1.2A型、C型、D型试样的出厂检验项目见表5,B型试样的出厂检验项目见表6,E型试样的出厂检验项目见表7。序号要求检验方法出厂检验型式试验1原材料化学成分—√2表面粗糙度√√3外形尺寸与公差√√4人工缺陷尺寸与公差√√5外观目视检测√√表6B型试样出厂检验及型式试验项目序号要求检验方法出厂检验型式试验1原材料化学成分—√2表面粗糙度√√3外形尺寸与公差√√4人工缺陷尺寸与公差√√5外观目视检测√√6硬度√√7灵敏度√√表7E型试样出厂检验及型式试验项目序号要求检验方法出厂检验型式试验1原材料化学成分—√2表面粗糙度√√3外形尺寸与公差√√4人工缺陷尺寸与公差√√5外观目视检测√√JB/T12727.4—20167.2型式试验7.2.1A型、C型、D型试样的型式试验项目见表5,B型试样的型式试验项目见表6,E型试样的型式试验项目见表7。d)产品长期停产后，恢复生产；8标志、包装、运输和贮存8.1标志b)规格，型号，编号；8.2包装8.2.1试样在包装前应使用非腐蚀性溶剂清洗，并涂以防腐剂，经有效的防腐及防护处理后，装入专8.2.2包装盒宜采用密封、防水的木盒或ABS工程塑料盒，内部应铺垫EVA材料内衬，用以固定及a)产品名称；e)制造商地址及联系方式。b)产品合格证；c)产品说明书(应标明执行标准编号)。8.2.5B型试样证书对于每个符合规定要求