- 废止
- 已被废除、停止使用，并不再更新
- 1988-09-29 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 9220:1988 EN
- 标准名称：金属涂层 涂层厚度测量 扫描电子显微镜法
- 英文名称：Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Scanning electron microscope method
- 标准状态：废止
- 发布日期：1988-09-29
文档简介
ISO9220:1988是关于金属涂层厚度测量的标准，特别是指通过扫描电子显微镜（SEM）的方法来测量涂层的厚度。
首先，这个标准提供了对涂层厚度测量的明确指导，它适用于各种类型的金属涂层，包括但不限于镀层、涂层、渗层等。这个标准旨在提供一个精确、可靠和可重复的方法来测量涂层的厚度。
在具体操作上，这个标准强调了几个关键步骤：
1.准备样品：样品应该清洁、干燥并且没有明显的损伤。
2.扫描电子显微镜的准备：确保SEM设备处于良好状态，并且已经校准和验证。
3.测量过程：通过SEM设备对涂层进行扫描，并记录所有观察到的涂层厚度数据。
4.结果分析：根据收集的数据，对涂层的厚度进行评估和报告。
此外，该标准还对一些特殊情况进行了说明，例如在处理具有复杂形状或薄涂层的样品时，可能需要采用特殊的技术或设备。
ISO9220:1988ENMetalliccoatings—Measurementofcoatingthickness—Scanningelectronmicroscopemethod标准为涂层厚度测量提供了一个系统而全面的方法，具有广泛的应用价值和意义。
由于篇幅限制，我只能简单地解释了ISO9220标准的主要内容。如果你有更具体的问题
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