GBT 41654-2022 金属和合金的腐蚀 在高温腐蚀环境下暴露后试样的金相检验方法

金属和合金的腐蚀在高温腐蚀环境下暴露后试样的金相检验方法国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会工1GB/T41654—2022/ISO26146:2012金属和合金的腐蚀在高温腐蚀环境下下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文ISO3611产品几何技术规范(GPS)尺寸测量设备：外部测量用千分尺设计和计量特征[Geo-metricalproductspecifications(GPS)—Dimensionalmeasmeasurements—DesignandmetrologicalISO13385-1产品几何技术规范(GPS)尺寸测量设备第1部分：两脚规的设计和计量特征[Geometricalproductspecmetrologicalcharacteristicsofcallipers]2GB/T41654—2022/ISO26146:20涂层初始表面originalcoati在涂层和基体初始界面附近的区域，在暴露过程中，该区域涂层和基体的化学成分因扩散发生沉积物deposit在暴露前和/或暴露过程中与试样表面接触或沉积在试样表面的化学活性液体或固体物质。垂直于试样表面的法线方向上金属初始表面和涂层表3GB/T41654—2022/ISO0——初始；gb——晶界腐蚀；d——沉积物；5.1测试精度的最低要求是达到95%置信度时，被测材料损失不超过士5μm或5%。而该不确定度4GB/T41654—2022/ISO261试样可具有足以保证暴露试验前后在测试平面内确定特定点位置的基准位置。基准标识作为基准点，用于确保在试样的相同位置进行重复测试，可以通过采用基准标识和基准槽槽根据试样的几何尺寸变化。块状试样的基准标识和基准槽见图2,其他几何尺寸的试样可采用类似测量未腐蚀试样的尺寸。在暴露试验后待测量的区域内宜选择不少于8个等距离的位置进行尺寸测量。应制备横截面金相试样确定暴露试验后试样的尺寸变化。制备横截面金相试样时宜非常小心，确保沿着平行于待测量的横截面进行镶样和抛光，且保留所有腐蚀产物和沉积物。推荐横截面金相试样应采用合适的涂层对试样进行保护，以确保能保留试样上的腐蚀产物和沉积物。根据测试的试样试样在镶样前后切割均可。棒状和管状试样宜沿着垂直于主轴线方向切割成环形横截面；盘状试便为研磨和抛光留有足够的去除量(见图3)。镶样时宜使用一个或多个已知尺寸的人工样品作基准，以证明试样被沿着5荐90°)的金属薄片，将试样放在金属薄片弯曲角处。也可以在镶样时采用在试样周围放置多个球状物的替代方法。使用基准人工样品检查抛光时的对准情况的示意图见图4。图3有基准标识的试样的截面切割步骤图4运用基准人工样品确定抛光过程中试样是否对准的示意图宜选择低收缩率的镶样物质，试样宜稳固地垂直于镶样模具表面。多孔氧化层材料的镶样推荐使用真空注入常温固化树脂的方式。研磨和抛光步骤根据试样有所不同，但是要特别注意宜采用合适的润滑剂，以防止溶解掉腐蚀产物6GB/T41654—2022/ISO7量。两种试样均应测量不少于24次。与数据的标准偏差相关。任何非线性的偏离都意味着测试时由于点蚀、晶界腐蚀或其他原因造成的第端特征的生长速率相关。最可能的极值是每种特征的测量结果的最大值。对于本文件推荐的测量方法，真实的金属损失极值有4%的可能性超过该值。8P/%6.3.1可使用X射线能谱仪(EDX)或X射线波谱仪(WDX)测试物相的局部成分。6.3.2可使用X射线衍射(XRD),采用晶体学测试方法进行相结构分析。6.3.3可使用电子探针显微分析(EPMA,WDX)测试合金贫化层。b)试样形状和尺寸；c)暴露试验后识别出的各层的信息；d)按规定步骤进行测试的情况；e)试样典型区域的横截面微观形貌图。9GB/T41654—2022/ISO[1]ISO13573Corrosionofmetalsandalloys—Testmettingunderhigh-temperaturecorr[2]ISO21608:2012Corrosionofmetalsandalloys—Testmethodforioxidationtestingunderhigh-temper金属和合金