(高清版)GBT 26642-2022 无损检测 基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测 金属材料X射线和伽玛射线检测总则

代替GB/T26642—2011成像板的工业计算机射线照相检测金属材料X射线和伽玛射线检测总则国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布国家市场监督管理总局 I 1 1 2 5 6 6 7 8 附录B(规范性)由信噪比测定值SNRcdura确定归一化信噪比SNR 附录C(规范性)最小灰度值的确定 24 27I本文件代替GB/T26642—2011《无损检测金属材料计算机射线照相检测方法》,与a)更改了范围(见第1章，2011年版的第1章);c)增加了符号和缩略语(见第4章);d)更改了人员资格(见第5章，2011年版的第4章);i)更改了CR系统与金属屏的要求(见8.3,201)删除了计算机射线照相的最小读出强度的要求(见2011年版的7.9);1GB/T21355—2022无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测系统分类ISO5579无损检测金属材料X和伽马射线照相检测基本规则(Non-destructivetesting—RadiographictestingofmetallicmaterialsusingfilmandX-oISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求(Non-destructivetesting—Industrialradio-graphicilluminators—MISO9712无损检测人员资格鉴定和认证(Non-destructivetesting—Qualificationandcertifica-tionofNDTpersonnel)ISO16371-1无损检测基于存储磷光成像板的工业计算机射线照相检测第1部分：系统分类(Non-destructivetesting—IndustrialcomputedraISO19232-1无损检测射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定(Non-de-2ISO19232-2无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part2:DeterminationoftheimagequalityISO19232-3无损检测射线照相检测图像质量第3部分：像质分类(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part3:ImagequaliISO19232-5无损检测射线照相检测图像质量第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part5:Determinationofthenessandbasicspatialresolutionvalueusingduplexwire-typeimagequEN12543(所有部分)无损检测工业X射线系统焦点特性(Non-destructivetesting—Charac-teristicsoffocalspotsinindustrialX-raysystemsforuseinnon-destructiEN12679无损检测射线照相方法工业射线伽玛源尺寸的测定(Non-destructivetesting一Radiographictesting—Determinationofthesizeofindustrialradiographicgammasources)由存储磷光成像板(IP)和相应的信息读出单元(扫描仪或读取器)及系统软3CR系统基本空间分辨率basicspatialresolutionofCRsystem系统在几何放大倍数为1时数字图像中可显示分辨的最小几何细节。数字图像空间分辨率basicspatialresolutionofadigitalimage信噪比signal-to-noiseratio从数字图像中直接测量和/或由测量的信噪比SNRmaswad按数字图像两个区域之间平均信号的差值与信号水平的平均标准4GB/T26642—2022/IS从数字图像中直接测量和/或由测量的对比度噪声比CNR(3.10)按公式(2)经归一化计算得到，即由基本空间分辨率SR。归一化的对比度噪声比。混叠aliasing当输入信号的空间频率高于输出信号的空间频率时，在数字图像上显示的附加图样。公称厚度nominalthicknesst检测区域内的材料名义厚度。透照厚度penetratedthicknessW按材料公称厚度(3.13)确定的射线透照方向上的材料厚度。源尺寸sourcesized射线源尺寸或射线管焦点尺寸。工件-探测器距离object-to-detectordistanceb沿射线束中心线测出的射线源侧被检工件表面至探测器表面的最大距离。射线源-探测器距离source-to-detectordistance沿射线束中心线测出的射线源(或焦点)至探测器表面的距离。 (3)f——射线源-工件距离(3.18);射线源-工件距离source-to-objectdistancef沿射线束中心线测出的射线源(或焦点)至射线源侧被检工件表面的距离。5GB/T26642—2022/ISUb归一化对比度噪声比dD探测器(成像板)fS归一化信噪比基本空间分辨率。根据使用环境可是系统基本空间分辨率或数t公称厚度几何不清晰度探测器系统固有不清晰度。在双丝型像质计直接放置于探测器表面获得图像不清晰度。在双丝型像质计直接放置于源侧工件表面获得的数字图像上测量vw6GB/T26642—2022/IS5人员资格按照本文件进行无损检测的人员，应按照ISO9712或合同各方认可的体系进行资格鉴定与认证，取得相关工业门类的资格等级证书，并由雇主或代理对其进行岗位培训和操作授权。检测人员应提供证明经历过在数字射线照相技术的培训和资格鉴定。6计算机射线照相技术的分类与补偿原则计算机射线照相技术分为两个等级：当A级技术的灵敏度不能满足要求时，采用B级技术。存在比B级更优的技术，当使用更优的技术时，可由合同各方在文件中规定全部适宜的检测参数。射线照相技术的选择应由合同各方商定。计算机射线照相的A级、B级技术与胶片射线照相的A级、B级技术应具有同等的缺陷可识别性。可识别性应采用ISO19232-1、ISO19232-2和ISO19232-5规定的像质计验证。当由于技术原因不能满足B级规定的透照条件时(例如射线源类型、射线源-工件距离f等),经合同各方商定后，可选用A级技术规定的透照条件。灵敏度损失应通过提高最小灰度值和归一化信噪比SNR、补偿(推荐归一化信噪比SNR、提高影响因子大于1.4倍)。由于比A级技术提高了灵敏度，若达到了B级技术规定的像质计灵敏度，可认为工件是按B级技术检测的。6.2补偿原则CPI和CPⅡ6.2.1概述为获得足够的对比度灵敏度，本文件对CR规定了两个补偿原则(见6.2.2和6.2.3)。使用补偿规则的目的在于获得最小归一化对比度噪声比CNRN,归一化到可检材料厚度差△w的探测器基本空间分辨率。当CNRy/△w因下列某个参数值不足而未达到要求时，可通过提高信噪比SNR进行补偿。针对对比度不足(如因管电压增高造成),通过提高信噪比SNR进行补偿(如增加管电流或曝光时间)。针对探测器固有不清晰度大(SR.t值大于规定值),通过提高信噪比SNR进行补偿(通过增加常规丝型像质值或阶梯孔型像质值),补偿双丝型像质计识别损失(不清晰度引起的对比度损失)。6.2.4补偿理论补偿原则基于小尺寸缺陷(△w《w)的近似公式见公式(4): (4)7间分辨率(见表5)。单壁单影透照时的透照厚度对应于工件的工程厚度。双壁双影透照(见89GB/T26642—2022/ISO1伽玛射线和1MeV以上的X射线推荐的透照厚度范围见表2。经合同各方商定，如图像质量满足ISO对于较薄的工件，Ir192和Co60等伽玛射线数字图像的检测灵敏度低于X射线，但由于使用存储磷光成像板系统进行伽玛射线检测时，输送射线源的往返时间不应超过总曝光时间的10%。·对铝和钛，透照厚度：A级时，10≤w≤70;B级时，25≤w≤55。数字射线检测的最小归一化信噪比SNRn值或最小灰度值，应满足表3和表4的规定。附录C为习惯测定非归一化信噪比SNR的用户提供了一个SNR与SNRN的转换表。根据使用IP和扫描仪，按附录C确定表2和表3规定最小归一化信噪比SNRn,可采用等效最小灰度值代替最小归一化信噪比SNRN值。归一化信噪比SNR、值应在被检工件厚度和图像灰度值均匀且靠近丝型像质计或阶梯孔型像质计的区域测定。由于材料表面粗糙产生的噪声影响图像归一化信噪比SNR,表3和表4中的值仅为推荐值。如果图像质量满足ISO19232-3的要求，则SNR、可比表3和表4的规定值下降20%。屏与IP之间的间隙宜导致图像不清晰度增大。对于IP,铅箔增感屏的增感作用明显小于对胶片的增多数IP对低能量背散射线和背散射线防护铅板发出的X射线荧光非常敏感，这将导致影像边界背防护铅板与IP间插入钢或铜防护板，可改善图像质量。在设计制造IP暗盒时可考虑将铜或钢防护不用屏铅屏0～0.1铅屏0～0.1铅屏0～0.1铅屏0～0.1使用多种材料金属增感屏时(如钢十铅),应将钢屏放置在IP与铅增感屏之可以使用铜屏、钨屏代替钢或钢十铅屏，但需通过验证试验确认图像质·可完全或部分采用钢或铜屏替代铅屏，此时钢或铜屏的等效厚度是铅屏的3倍。铅屏≤0.3°·可在IP暗盒外使用一个0.1mm铅屏和一个0.1mm铅滤波板替代一个0.2mm铅屏。GB/T26642—2022/ISO1最大值)及双丝型像质计像质值的下限值(允许的最小值，或最低数值)。CR系统不应大于表5规定的最大不清晰度和基本空间分辨率，或不应小于表5规定CR系统的不清晰度和基本空间分辨率应经过比对验证确定型像质计测定像质值来确定，从而测定探测器基本空间分辨率SR,etetor。如果几何放大倍数大于1.2,如果采用补偿原则Ⅱ,则能选择不清晰度超过表5规定值的CR系统。的对比度灵敏度和双丝型像质计的不清晰度)不能同时达到表5规定值，应通过提高常规丝型像质计像的表3)不能同时满足，则认为D11和W17提供了等价的检测灵敏度。补偿限制在最多提高丝型像质表5A级和B级技术允许的最大不清晰度(规定达到的最小识别情况)双丝型像质计像质值的下限值(允许的最小值，(允许的最大值)(ISO19232-5)允许的图像空间分辨率(允许的最大值)(等效丝径和间距)双丝型像质计像质值的下限值(允许的最小值，(允许的最大值)(ISO19232-5)允许的图像空间分辨率(允许的最大值)(等效丝径和间距)注：D13+是指获得的双丝型像质计图像获得表A.1规定的D14线对所显示的像质值，或D13线对所显示的调·对于双壁单影透照技术，应用公称厚度t替代透照厚度w.采用直接接触透照技术时，双丝型像质计最小线对识别方法见附录B。采用几何放大透照技测试试验确定可识别的双丝型像质计最小线对值。通过调整检测工艺设计和硬件参数，修正SR,detector。如采用几何放大透照技术时，应采用放置在工件上的双丝型像质计测定数字图像空间分辨率GB/T26642—2022/IS每一种新工件进行CR检测时，应在IP暗盒后背贴上铅字“B”(高度大于或等于10mm,厚度大于或等于1.5mm),以验证背散射的的锡板。同时厚度约0.5mm的钢屏或铜屏应放置在铅防护屏与IP暗盒之间，减少X射线荧光对数字射线源-工件距离的最小值fmi与源尺寸d和工件-探测器(IP)距离b有关。源尺寸应按EN比值(即f/d)满足公式(5)和公式(6): (5) (6)当b小于1.2t时，公式(5)和公式(6)及图2中的b应由公称厚度t取代。为了确定射线源-工件距离的最小值fmin,可使用图3的诺模图。使用A级技术检测平面型缺欠时，为使几何不清晰度减小为原来的1/2,射线源-工件距离的最小值fmin应按B级技术的要求确定。8.7.3采用含IP的暗盒检测曲面工件(即f/d)满足公式(7)和公式(8):GB/T26642—2022/IS使用A级技术检测平面型缺欠时，为使几何不清晰度减小为原来的1/2,射线源-工件距离的最小值fmin应按B级技术的要求确定。采用几何放大技术检测时，未经正确校正CR系统的固有不清晰度(U₁=2SRgtetor)和几何不清晰Ur=√U²+Ui宜通过增加射线源-工件距离的最小值fmm降低CR系统获得数字图像的总不清晰度。更多要求使用几何放大技术检测时，几何放大倍数v大于1.2时，则图像不清晰度ULm应按公式(10)计算，代替表5中的Ur:的20%”。采用中心透照IP在管外侧时，如果像质计灵敏度满足要求时，该允许比值可以提高，同时CR系统测定的双丝值可小于表5的规定(见注)。但是，bmin减少值不应超过规定值的50%。如果像质a)用曲面IPb)用平面IPB级；射线经过厚度均匀评定区外端的斜向穿透厚度与中心束的透照厚度之比，A级不应大于1.2,B级由于射线穿透厚度变化而产生的归一化信噪比差值不宜低于表2或表3的规定。CR检测可使用(规范性)数字图像以一定的灰度显示是正确测定基本空间分辨率的前提条件。数字图像的灰度与射线曝光应采用ISO19232-5规定的双丝型像质计测定数字探测器基本空间分辨率SR,detector,应将双丝型当发现第一对不能清晰地识别的丝对时(见ISO19232-5),应采用以调制度值20%为基准的测定在数字检测图像的调制传递函数曲线上，应将第一对双峰调制度值小于20%(见图C.1)的线对记录为基本空间分辨率双丝型像质计测定结果(见图A.1c)的D8所示为不可分辨线对]。在具有调制传递函数曲线识别调制度值小于20%的丝对(见图A.1b)和c)],调制度测算方法见图A.1d)。双丝型像质计影像上截取的轮廓应至少具有21行像素宽度(宜为双丝长度的30%～60%之间),以提高轮廓区1)管电压90kV,2)前置滤波1mm的铝。1)管电压160kV,2)前置滤波1mm的铜。1)管电压220kV,2)前置滤波2mm的铜。d)伽玛射线或高能X射线检测：1)规定的伽玛射线源或大于1MeV的X射线源，前置滤波4mm的铜或8mm的钢。双丝型像质计应直接放置在探测器表面或暗盒表面上。射线源-探测器距离数字图像中的平均灰度值应大于最大灰度值的50%。对于像素尺寸大于或等于80μm的标准系统，数字图像的信噪比SNR应超过100;对于像素值小于80μm的高超过70。基于数字检测系统的参考数字图像测定的基本空间分辨率[见公式(A.1)]和相关系统设置均应记录在测试报告中。CR检测系统的探测器IP基本空间分辨率应在垂直和平行于激光扫描读出的两个方向测定；两个CR检测系统的探测器IP板基本空间分辨率应在垂直和平行于激光扫描读出的两个方向测定；取两个测定值的较高值作为探测器基本空间分辨率值SR。或SR₆detector。YYXCCAB图A.1以调制度20%为基准测定双丝型像质计不可分辨线对(以D8线对为例)线，曲线确定调制度为20%对应的值宜作为系统基本空间分辨率值。图A.2显示了高分辨率CR系统FFF调制(dip)与丝径的依赖关系宜用一个二阶多项式来拟合20%的交点，见图C.2。大于零的调制值应仅用于插值。如果在dip小于20%时没有可用的值，则应使用具有零倾角的下一对丝对值。如果所GB/T26642—2022/ISO1基本空间分辨率SR,士0.005士0.01WW士0.02注：本表数据基于ISO19232-5和ASTME2002-15.·Pt=铂。W=钨。为了将SR。值转换为μm,将毫米单位乘以1000。(规范性)由信噪比测定值SNR定归一化信噪比SNRN信噪比SNR按GB/T21355—2022的6.1测定。测定时，通常将数字图像上一个20×55个像素区(需测定的典型部位)内确定的线性平均灰度值与按GB/T21355—2022的6.1.1的标准差的比值确定不清晰的CR系统比清晰的CR系统获得更高的SNRmaurd,但是其对细小缺欠的检出能力比清晰系统低。因此，通过基本空间分辨率对SNRmcaurd测量进行归一化。具有相同归一化基本空间分辨率归一化是基于制造商提供的CR系统基本空间分辨率(SR,dtctor)的值或由用户按附录A的测表B.1不同基本空间分辨率的CR系统非归一化信噪比测定值与规定的归一化信噪比对应值高清晰度CR系统(见表3和表4) 2——滤光板-铜；图C.1测定表3或表4所需最小归一化信噪比SNRs值对应CR等价灰度值透照图图C.2阶梯楔形试样图像中测定阶梯平均灰度值和归一化信噪比SNR、值结果表C.1最小灰度值规范示例(见图C.3)(SNRn)值增益设置1增益设置2YY21中位单线平均值：中位单线std