- 废止
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- 2013-11-04 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 18115-2:2013 EN
- 标准名称：表面化学分析 词汇表 第2部分：扫描探针显微镜使用的术语
- 英文名称：Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy
- 标准状态：废止
- 发布日期：2013-11-04
文档简介
扫描探针显微镜中使用的术语是一个国际标准，旨在为扫描探针显微镜（SPM）技术提供一个统一的术语集。以下是该标准中详细解释的各个术语：
1.扫描探针显微镜（SPM）：这是一种用于纳米级和原子级表征的仪器，它使用非常细的探针在样品表面进行扫描。
2.原子力显微镜（AFM）：这是一种常见的SPM，它通过测量探针与样品表面之间的相互作用力来获取表面形貌和化学信息。
3.扫描隧道显微镜（STM）：这是另一种常见的SPM，它利用金属探针在原子级别的隧道效应来观察表面的原子结构。
4.原子力图像：这是AFM在样品表面扫描时生成的图像，显示了表面的形貌和化学成分。
5.原子力谱曲线：这是AFM在样品表面扫描时记录的信号曲线，用于分析样品的化学成分和表面结构。
6.探针：这是SPM中的关键部件，它与样品表面接触以进行扫描。通常，探针是由金属、超导材料或半导体材料制成的细长杆。
7.表面化学：这是研究物质表面与气体、液体或固体之间的相互作用和反应的科学。它包括研究表面吸附、化学反应、催化剂作用等方面的内容。
8.表面形貌：这是物质表面的几何特征，通常通过SPM技术进行测量和分析。它包括表面粗糙度、弯曲度、颗粒大小等方面的内容。
9.原子力谱（APS）：这是AFM分析中常用的术语，它指的是通过AFM对样品表面进行扫描时记录的单个原子键力数据。
以上是ISO18115-2:2013ENSurfacechemicalanalysis—Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning-probemicroscopy的
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