- 废止
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- 2010-07-08 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 18115-2:2010 EN
- 标准名称：表面化学分析 词汇表 第2部分：扫描探针显微镜使用的术语
- 英文名称：Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy
- 标准状态：废止
- 发布日期：2010-07-08
文档简介
一、基础术语
1.扫描探针显微镜（ScanningProbeMicroscopy,SPM）：这是一种用于测量和分析纳米级表面的技术，它使用微小的探针在样品表面进行扫描，以获取表面的微观结构、化学成分和物理性质等信息。
2.原子力显微镜（AtomicForceMicroscopy,AFM）：这是一种常用的扫描探针显微镜，它通过测量探针与样品表面之间的相互作用力来获取表面的纳米级图像和化学信息。
3.原子力曲线（AtomicForceProfilometry,ACP）：这是测量样品表面微观结构和形貌的技术，通过获取探针在样品表面上的移动路径和高度变化数据，可以了解样品的表面结构和形貌特征。
二、表面化学相关术语
1.化学态分析（Chemicalstateanalysis）：通过扫描探针显微镜对样品表面进行扫描，获取表面元素的化学态信息，如电负性、键合状态等。
2.表面吸附（Surfaceadsorption）：当物质与固体表面接触时，表面的原子或分子吸收其他物质的过程。吸附的物质可以改变表面的性质，如电导性、光学性质等。
3.表面反应（Surfacereaction）：当物质与固体表面接触时，表面的原子或分子与物质发生化学反应的过程。反应可以生成新的物质，也可以改变表面的性质。
4.表面电荷（Surfacecharge）：由于表面原子或分子的电负性不同，表面可能带有电荷。电荷可以影响表面的性质，如吸附行为、反应活性等。
5.表面化学反应动力学（Surfacechemicalreactionkinetics）：研究表面与物质相互作用的动力学过程，包括反应速率、反应机理等。
以上是ISO18115-2:2010EN
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