• 现行
  • 正在执行有效
  • 2020-10-05 颁布
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【正版授权-英语版】 ISO 17867:2020 EN Particle size analysis - Small angle X-ray scattering (SAXS)_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 17867:2020 EN
  • 标准名称：粒度分析 小角 X 射线散射 (SAXS)
  • 英文名称：Particle size analysis — Small angle X-ray scattering (SAXS)
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2020-10-05

文档简介

1.定义和术语：该标准详细定义了SAXS技术，包括其基本原理、操作过程、数据收集和分析方法等。同时，还定义了一些相关的术语，如散射强度、散射图谱、平均散射粒径等。

2.数据收集：该标准规定了如何正确地使用SAXS设备进行数据收集，包括设备的选择、参数的设置、样品的制备等。此外，还详细说明了数据的处理方法，如如何去除噪声、如何进行图谱拟合等。

3.数据分析：该标准介绍了如何使用各种统计方法对SAXS数据进行分析，包括如何计算平均散射粒径、颗粒尺寸分布、形状因子等。同时，还介绍了如何使用计算机软件进行数据分析。

4.应用范围：该标准明确了SAXS技术的适用范围，即适用于颗粒材料、纳米材料、生物材料、高分子材料等领域的颗粒大小分析。

ISO17867:2020ENParticlesizeanalysis—SmallangleX-rayscattering(SAXS)标准为颗粒大小分析中的SAXS技术提供了详细的指南和规范，有助于提高该技术的准确性和可靠性，促进其在各个领域的应用和发展。

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