- 废止
- 已被废除、停止使用，并不再更新
- 2011-10-28 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 13067:2011 EN
- 标准名称：微束分析 电子反向散射衍射 平均粒度测量
- 英文名称：Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size
- 标准状态：废止
- 发布日期：2011-10-28
文档简介
ISO13067:2011EN标准对于微束分析领域的电子背散射衍射技术有着明确的要求，这些技术通常用于测量平均晶粒尺寸。电子背散射衍射(EBSD)技术利用电子显微镜（通常非常小的光源）收集样本中的电子散射的数据，这可以帮助我们了解材料晶体的结构和晶体在晶界中的取向。
晶粒尺寸是材料的一个重要特性，它反映了材料微观结构中的晶体大小。通过测量晶粒尺寸，我们可以了解材料的微观结构，这对于许多应用，如金属加工、材料科学、生物医学等，都是非常重要的。
ISO13067:2011EN标准提供了测量平均晶粒尺寸的详细指南，包括如何选择合适的EBSD仪器和设置、如何处理和分析数据以及如何选择和验证合适的晶粒尺寸测量方法。这个标准也包括了一些有关数据处理和报告的标准，以确保结果的可比性和准确性。
要测量晶粒尺寸，通常需要从样本中收集足够的EBSD数据，包括晶界分布和晶体取向。然后，可以使用专门的软件来分析和计算晶粒尺寸。这个过程可能涉及到一些复杂的数学和统计学方法，以确保结果的准确性和可靠性。
ISO13067:2011EN标准为微束分析领域的EBSD技术提供了详细的指南，帮助我们更准
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