(高清版)GBT 39560.4-2021 电子电气产品中某些物质的测定 第4部分：CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中的汞

GB/T39560.4—2021/IEC62321-4:2013电子电气产品中某些物质的测定products—Part4:Mercuryinpolymers,metalsand国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 I 1 2 3 4 5 810精密度 811质量保证与控制 9 附录B(资料性附录)国际实验室间研究结果Nos.2(IIS2)和4A(IIS4A) IGB/T39560.4—2021/IEC62321-4:2013 本部分为GB/T39560的第4部分。本部分使用翻译法等同采用IEC62321-4:2013《电工产品中某些物质的测定第4部分：CV-——GB/T39560.1—2020电子电气产品中某些物质的测定第1部分：介绍和概述(IEC62321- GB/T39560.2—2020电子电气产品中某些物质的测定第2部分：拆解、拆分和机械制样(IEC62321-2:2013,ID -GB/T39560.301—2020电子电气产品中某些物质的测定第3-1部分：X射线荧光光谱法——GB/T6682—2008分析实验室用水规格和试验方法(ISO3696:1987,MOD)——为了与我国现有标准系列一致，将标准名称改为“电子电气产品中某些物质的测定第4部1GB/T39560.4—2021/IEC62321-电子电气产品中某些物质的测定高灵敏度(检出限低至μg/kg水平)的特点。本部分描述的测试步骤可以测定4mg/kg～1000mg/kg采用热分解-金汞齐结合CV-AAS(TD(G)-AASIEC62321-2电工产品中某些物质的测定第2部分：拆解、拆分和机械制样(Determinationofcertainsubstancesinelectrotechnicalproducts—Pasamplepreparation)IEC62321-3-1电工产品中某些物质的测定第3-1部分：筛选检测方法X射线荧光光谱法筛Screeningtestmethods—Screeningofelectrotechnicalproductsforlead,mercury,cadmium,totalchromiumandtotalbromineusingX-rayfluorescencespectr2GB/T39560.4—2021/IEC62321-4ISO3696分析实验用水规格和试验方法(Waterforanalyticallaboratoryuse—Specificationand3GB/T39560.4—2021/IEC62321-4CCFL:冷阴极荧光灯(ColdcathodefluorescentCCV:持续校正验证(ContinuingcalibrationverificatioCV-AFS:冷蒸气原子荧光光谱法(ColdvapouratomicfluorescencespectrometrLCS:实验室质控样(Laboratorycontrolsample)LOD:检出限(Limitsofdetection)LOQ:定量限(Limitsofquantification)TD(G)-AAS:热分解-金汞齐-原子吸收光谱法(Thermaldecomposition-Goldamalgamation-b)硝酸(浓硝酸):p(HNO₃)=1.4g/mL,质量分数为65%,痕量金属级。g)硝酸：质量分数为5%,痕量金属级。h)氟硼酸：HBF₄质量分数为50%,痕量金属级(用于微波消解)。i)过氧化氢：H₂O₂质量分数为30%,痕量金属级1)高锰酸钾：KMnO₄,质量分数为5%的溶液，痕量金属级。将5g高锰酸钾溶于100mL水中4GB/T39560.4—2021/IEC62321-4——用于ICP-OES和ICP-MS,不干扰目标元素测定的内标元素。此外，这些内标元素在样 ICP-OES检测时宜使用Sc或Y。推荐质量浓度为1000mg/L。——ICP-MS检测时宜使用Rh。推荐质量浓度为1000μg/L。q)CV-AAS用还原剂：将质量分数为3%的四氢化硼酸钠加到质量分数为1%的氢氧化钠溶液r)CV-AFS用还原剂：将KBH₄质量分数为1%的四氢硼酸钾加到质量分数为0.05%的氢氧化钠s)汞的金贮存液(1mL=100μg):宜采购稀盐酸介质的所有取样、储存和操作装置均应是无汞的。将所有玻璃器皿在室温下用50%硝酸(4.2c)]浸泡5GB/T39560.4—2021/IEC62321-c)0.45μm玻璃纤维过滤器。用于7.2所述的微波消解。d)配有高压聚四氟乙烯/四氟乙烯改性(PTFE/TFM)或全氟烷氧基烷烃树脂/四氟乙烯改性(PFA/TFM)或基于氟碳材料的样品罐或其他容器的微波消解系统[用于含大量硅(Si)、锆i)标液和消解液用塑料容器。(PTFj)冷原子吸收光谱仪(CV-AAS)。1)电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)。m)电感耦合等离子体质谱仪(IC(参见IEC62321-2)。6GB/T39560.4—2021/IE只有已知样品的化学组分时才加过氧化氢。过氧化氢与易氧化材料迅速且剧7GB/T39560.4—2021/IEC62321-e)汞收集管在350℃至600℃的恒温下加热，生成的汞引入吸收池或荧光检测器。然后在所有的分析都需要建立一条适宜浓度范围的校准曲线。用1.5%硝酸[4.2f]]稀释标准储备溶液储存容器内壁的吸附作用会严重影响汞校准溶液的稳定性。因此，宜在汞校准溶液中加入几滴为下列光谱仪应准备定量分析的试剂空白溶液和至少3个不同浓度的校准溶液。测定目标元素汞和内标元素的质荷比(m/z)强度。建立的校准曲线表明汞与内标物的m/z附录A.3给出了分析汞的推荐m/z使用微量移液器在样品舟中直接加入不同量(但确保其在工作测量范围内)的4个或5个校准系建立校准曲线。例如，在样品的汞含量约为10mg/kg的情况下，使用50pL、100μL、88.3样品的测定校准曲线建立后，测定试剂空白溶液和样品溶液。如果样品的浓度超出校准曲线的范围，应用1%的硝酸(4.2e)]稀释溶液至校准曲线范围内，并进行再次测应定期(例如每隔10个样品)或在最后一个样品后，用标准物质、校准溶液等以及空白校准溶液检查其测量准确度和基线漂移。如果将样品溶液稀释到校准曲线范围，则应确保稀释样品溶液中的内标浓度调整至与标准溶液一致。9结果计算在8.3中测得的浓度是样品溶液中汞的浓度。样品中汞的总量可由以下公式(1)计算： (1)mHg——样品中汞的总质量，单位为毫克(mg);A₁——样品溶液中汞的质量浓度，单位为毫克每升(mg/L);A₂——试剂空白溶液中汞的质量浓度，单位为毫克每升(mg/L);D——原始样品溶液稀释之后的稀释因子。样品中汞的含量可由以下公式(2)计算： (2)CHg——样品中汞的含量，单位为微克每克(μg/g);A₃——样品溶液中汞的质量浓度，单位为毫克每升(mg/L);A₄——试剂空白溶液中汞的质量浓度，单位为毫克每升(mg/L);V2Hg——原始样品溶液的总体积，单位为毫升(mL);D——原始样品溶液稀释之后的稀释因子。10精密度独立的单个测定结果值落在表1中所列的平均值范围内时，所获得的两个测定结果之间的绝对差应不超过重复性限r。国际实验室方法研究Nos.2(IIS2)和4A(IIS4A)统计分析判定有超过5%的结果离群(参见附录B)。在不同实验室，由不同的检测人员使用相同的方法、不同的设备测量同一材料，当两次单个测定结果值落在下表1所列的范围内时，两个结果之间的绝对差值应不大于再现性限R。通过国际实验室间研究Nos.2(IIS2)和4A(IIS4A)统计分析有超过5%的结果离群。9GB/T39560.4—2021/IEC62321-rR聚合物222如适用，独立检测方法标准的质量保证和控制章节应包括关于控样的检测频率和验收指标要求。分内容应与11.2中的描述一致。c)每批次均应通过在基质空白中加入汞标准的方式来分析实验室控样(LCS)和实验室重复性样率应在90%和110%之间。如果CCV汞的回收率不在这一范围，则应在12h内重新分析所有CCV测定偏离后的样品都需要进行重新分析。表2质量控制验收要求校准曲线回收率：90%～110%连续校验(CCV)回收率：90%～110%方法空白实验室控样(LCS)回收率：80%～120%实验室控制样品重复性样品11.2检出限(LOD)和定量限(LOQ)以下实验步骤可用来确定汞测定的方法检测限和定量限。a)准确称取适量已知不含汞或根据第7章中的程序可能会干扰汞分析的其他化合物的样品(如有证标准物质)。将样品放入每个容器(5.2b)或5.2d)或5.2o]]。重复这个步骤至少5次。b)使用储备溶液(4.2j)]在每个容器中加入10μg汞。c)根据第7章所列测试程序进行消解和光谱测定。d)计算第9章中所示的汞含量(μg/g),并确定每个样品的加标汞的百分回收率。SR——加标汞的回收率，%;C——测定含量，单位为微克每克(μg/g);M——样品质量，单位为克(g);对于每个样品，汞的百分回收率应在80%和120%之间。如果任一重复样的回收率不在此范围内，则应重复整个提取和分析过程。e)方法检出限通过计算重复分析(至少6次)的标准偏差s来获得。然后，将标准偏差乘以学生t值，重复检测n次时的自由度为n-1。表3给出了重复检测6到10次时的学生t值。例如：重复测定次数为6,则自由度为6—1=5,t值为3.36。注意：用于计算MDL的所有分析应是连续的。表3方法检出限=t×Sn-1(99%置信度)6789GB/T39560.4—2021/IEC62321-4:2013f)通过将方法检出限乘以因子5来计算定量限。(资料性附录)A.1设备装置图A.1是一个使用设备装置的实例。图A.1装有反应容器、回流冷却器和吸收器的热消解器GB/T39560.4—2021/IEC62321-4:2013样品微波消解程序可参考表A.1。表A.1样品微波消解(实例)程序(5个消解罐的功率输出)时间功率输出压力限制152534530A.2热分解-金汞齐体系HHDAEKJMCBLG图A.2AAS设备配置图(实例)GB/T39560.4—2021/IEC62321-4AAB用涂覆有金的热稳定多孔载体(硅藻土)作为汞捕集材料。汞捕集炉应预热至150℃,以防止汞捕对于CCFL样品，汞蒸气产生部分通过加热CCFL灯的碎片来产生汞蒸气。然后将生成的汞蒸气图A.4CCFL热分解/原子吸收光谱仪的配置(实例)A.3仪器参数下列仪器参数都是可用的仪器参数例子，但可能个别不同的仪器可能需要替换一些参数。宜使用所列的波长和质量比，因为这种情况下选用其他参数可能会导致错误的结果。炉温：800℃;载流：质量分数为6%的HNO₃。GB/T39560.4—2021/IEC62321-TD(G)-AAS的统计数据见表B.1。聚合物样品7nrR9聚合物样品0nR3288CV-AFS的统计数据见表B.3。聚合物样品m0nrR33ICP-OES的统计数据见表B.4。聚合物样品/vnrR63997n——接受的[1]BatteryIndustry(EPBA,BAJandNEMA),StandardAnalyticalMethodforthtionofMercury,CadmiumandLeadinAlka