- 现行
- 正在执行有效
- 2020-09-24 颁布
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基本信息:
- 标准号:IEC TS 62607-3-3:2020 EN
- 标准名称:纳米制造-关键控制特性-第3部分-3: 发光纳米材料-使用时间相关单光子计数法(TCSPC)测定半导体量子点的荧光寿命
- 英文名称:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)
- 标准状态:现行
- 发布日期:2020-09-24
文档简介
1.简介:
IECTS62607-3-3是关于纳米制造的关键控制特性的部分标准,重点介绍了发光纳米材料中半导体量子点荧光寿命的测定方法,特别是使用时间相关单光子计数法(TCSPC)。
2.TCSPC原理:
TCSPC是一种用于测量荧光寿命的技术,它通过记录单个光子的时间戳来测量荧光发射和吸收之间的时间差。这种方法可以提供关于荧光物质内部能量转移和散射的信息,从而有助于了解材料的性质和功能。
3.样品准备:
在TCSPC测定中,需要将半导体量子点样品制备成适当的浓度和形态,以便于测量。通常需要将样品分散在适当的溶剂中,并使用适当的稀释剂进行稀释。
4.仪器和设备:
TCSPC测定需要专门的仪器和设备,包括单光子计数器、激光光源、样品池、光学滤光片和数据采集系统等。这些设备需要精确控制温度和湿度,以确保测量的准确性和可靠性。
5.标准操作程序:
在进行TCSPC测定时,需要遵循一系列标准操作程序,包括样品制备、激光光源的选择、光学滤光片的设置、数据采集和分析等。这些程序需要经过充分的验证和确认,以确保测量的准确性和可靠性。
6.质量控制:
在进行TCSPC测定时,需要实施严格的质量控制措施,包括测量重复性、仪器精度、数据分析和解释等方面。这些措施可以确保测量的准确性和可靠性,并为纳米制造过程提供关键的质量控制信息。
7.结果解释:
TCSPC测定的结果可以提供有关半导体量子点荧光寿命的宝贵信息,有助于了解材料的性质和功能。通过比较不同批次或不同生产条件
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