- 现行
- 正在执行有效
- 2014-08-21 颁布
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基本信息：
- 标准号：IEC TS 62132-9:2014 EN-FR
- 标准名称：集成电路—电磁抗扰度测量—第9部分：辐射抗扰度测量—表面扫描方法
- 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method
- 标准状态：现行
- 发布日期：2014-08-21
文档简介
电磁辐射抗扰性的表面扫描方法描述的是集成电路的电磁兼容性标准的一部分，特别是在电磁辐射抗扰性的测量方面。这一部分特别关注了集成电路在暴露于各种电磁辐射情况下可能表现出的行为和性能。以下是该标准的具体内容：
1.**测试环境**：测试必须在具有稳定电磁环境的地方进行，以减少外部电磁干扰对测试结果的影响。
2.**测试设备**：测试设备必须精确且稳定，包括用于产生电磁辐射和测量响应的设备。所有设备都需要经过准确校准。
3.**样品准备**：测试的集成电路必须被正确安装和连接，且周围环境必须保持一致，以便更好地反映真实情况。
4.**测试程序**：测试程序包括对集成电路的电磁辐射暴露，以及随后对其响应的测量。这个过程需要多次重复，以便获取更准确的结果。
5.**结果分析**：测试结果需要经过仔细分析，以确定集成电路对不同频率和强度的电磁辐射的反应。
6.**标准限制**：对于集成电路，有一个特定的电磁辐射抗扰性标准，称为“辐射抗扰性表面扫描方法”，这是对集成电路在电磁环境中可能表现出的性能的最低要求。
7.**误差和不确定性**：测试过程中可能存在误差和不确定性，需要进行适当的评估和处理。
IECTS62132-9:2014EN-FR标准对于评估和保证集成电路的电磁兼容性，特别是电磁辐射抗扰性，具有重要的意义。它提供了一
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