• 现行
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  • 2005-02-07 颁布
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【正版授权】 IEC TR 61967-4-1:2005 EN Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz - Part 4-1: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct c_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC TR 61967-4-1:2005 EN
  • 标准名称：集成电路——电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz——第4部分-1：传导辐射测量——1 Ω/150 Ω直接耦合方法——应用导则至IEC 61967-4
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4-1: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method - Application guidance to IEC 61967-4
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2005-02-07

文档简介

传导辐射的测量-1Ω/150Ω直接耦合方法-应用IEC61967-4的指导。

IECTR61967-4-1是国际电工委员会（IEC）发布的一份关于集成电路电磁辐射测量的技术报告。该报告详细描述了测量传导辐射的方法，包括测量环境、设备、测试样品的选择和准备、测试步骤、数据处理和分析等。

在150kHz至1GHz的频率范围内，电磁辐射的测量通常采用传导方法进行。其中，1Ω/150Ω直接耦合方法是一种常用的测量方法。这种方法涉及到将测试样品直接连接到电阻器或电感器，以模拟电路中的电阻和电感效应，从而更准确地测量电磁辐射。

在进行电磁辐射测量时，需要选择合适的测试样品，通常为电路板或芯片等集成电路器件。测试样品的选择应考虑到其电路结构和材料特性，以确保测试结果的准确性和可靠性。

在进行测试时，需要确保测试环境的稳定性和均匀性，以减少环境因素对测试结果的影响。此外，还需要确保测试设备的准确性和可靠性，如电源、信号发生器、测量仪器等。

数据处理和分析是电磁辐射测量中的重要环节。通过分析测试数据，可以了解电路的电磁辐射特性，如辐射功率、频谱分布等。这些信息对于电路设计、优化和安全评估具有重要意义。

IECTR61967-4-1:2005EN提供了关于电磁辐射测量的详细指导，包括测试方法、设备选择、样品准备、测试步骤和数据处理等。这

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