• 现行
  • 正在执行有效
  • 2012-10-19 颁布
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【正版授权】 IEC 62276:2012 EN-FR Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62276:2012 EN-FR
  • 标准名称：用于表面声波（SAW）器件的单晶片-规格和测量方法
  • 英文名称：Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2012-10-19

文档简介

该标准规定了用于表面声波（SAW）设备应用的一单晶体晶片的规格和测量方法。以下是该标准的主要内容：

1.引言：标准的目的和范围

该标准旨在为用于表面声波设备的一单晶体晶片的制造、采购、使用和测试提供指导和标准。本标准的适用范围涵盖了所有类型的表面声波设备，包括但不限于频率调谐器、解调器和其他相关的电子元件。

2.材料和制造要求：

本标准规定了用于制造一单晶体晶片的材料要求，如化学成分、杂质含量、晶体质量等。此外，还规定了制造过程中的质量控制要求，如晶片尺寸、厚度、表面质量等。

3.外观和尺寸要求：

本标准规定了晶片的外观和尺寸要求，如表面平整度、厚度公差、边缘整齐度等。此外，还规定了晶片上的标记和标识要求，以确保晶片的可追溯性和一致性。

4.电气性能要求：

本标准规定了晶片的电气性能要求，如电气特性、阻抗匹配、频率稳定性等。这些性能指标对于确保表面声波设备的性能和可靠性至关重要。

5.机械性能要求：

本标准规定了晶片的机械性能要求，如抗弯强度、抗冲击强度、耐温性能等。这些性能指标对于确保晶片在制造、运输和使用过程中的安全性和稳定性至关重要。

6.测量方法和测试程序：

本标准详细介绍了用于测量晶片的各种仪器和方法，包括光学显微镜、电子显微镜、电性能测试仪等。此外，还提供了测试程序和步骤，以确保所有性能指标都符合标准要求。

7.合格评定和不符合处理：

本标准规定了如何对晶片进行合格评定，以及如何处理不符合标准要求的晶片。对于不符合要求的晶片，供应商应采取适当的措施，以确保其符合标准要求或与买方协商解决。

以上是IEC62276:2012EN-FRSinglecrystalwafersforsurfaceacousticwave(SAW)deviceapplications-Specificationsandmeasuringmeth

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