• 现行
  • 正在执行有效
  • 2014-08-12 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-42:2014 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-42:2014 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第42部分：温度和湿度储存
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2014-08-12

文档简介

温度和湿度存储标准规定了半导体器件在温度和湿度存储方面的测试方法。该标准详细说明了测试条件、测试程序、测试结果的评估以及测试报告的要求。具体来说，该标准涵盖了以下内容：

1.测试环境：标准规定了测试环境的温度、湿度、压力、空气质量和光照等条件，以确保测试结果的准确性和可靠性。

2.测试样品：标准规定了测试样品的尺寸、形状、材料、结构等方面的要求，以确保测试样品的代表性和稳定性。

3.测试程序：标准详细说明了测试程序的步骤和操作方法，包括样品放置、环境条件控制、测试时间、测试数据的记录和评估等。

4.测试结果的评估：标准规定了测试结果的评估标准和指标，包括温度和湿度的变化范围、稳定时间、变化趋势等，以确保测试样品符合预期性能要求。

5.测试报告：标准要求测试机构在完成测试后编制测试报告，包括测试目的、样品信息、测试程序、测试结果和结论等内容。测试报告应该清晰明了，易于理解。

IEC60749-42:2014EN-FR标准是半导体器件生产过程中非常重要的一个环节，它确保了半导体器件在存储过程中能够保持稳定性和可靠性，从而保证产品的质量和性能。

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