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  • 2020-07-22 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60749-41:2020 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-41:2020 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第41部分：非易失性存储器器件的标准可靠性测试方法
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2020-07-22

文档简介

IEC60749-41:2020EN-FR半导体器件-机械和气候测试方法-第41部分：非易失性存储器件的标准可靠性测试方法涉及到以下内容：

一、引言

这部分介绍了本部分的目的、适用范围和涉及的非易失性存储器件的定义和分类。它说明了本部分提供的方法用于评估这些器件在特定条件下的可靠性和稳定性。

二、可靠性测试方法

1.温度循环测试：这种方法用于测试器件在温度变化下的稳定性。它涉及到将器件在低温和高温之间循环，以模拟实际使用中的温度变化。

2.湿度测试：这种方法用于测试器件在湿度环境下的性能和稳定性。它涉及到将器件暴露在湿度环境中，以模拟实际使用中的湿度条件。

3.振动测试：这种方法用于测试器件在振动环境下的性能和稳定性。它涉及到对器件进行振动测试，以模拟实际使用中的振动条件。

4.电气性能测试：这种方法用于测试器件在正常工作电压和电流条件下的电气性能。它涉及到对器件进行电性能测试，以验证其是否符合规格要求。

三、测试周期和结果评估

这部分介绍了测试周期和结果评估的方法，包括测试数据的记录和分析，以及如何根据测试结果评估器件的可靠性水平。

四、特殊情况处理

这部分介绍了在特殊情况下如何处理非易失性存储器件的可靠性测试，例如器件损坏、规格不符等情况的处理方法。

IEC60749-41:2020EN-FR标准为非易失性存储器件提供了详细的可靠性测试方法，包括温度循环、湿度、振动和电气性能测试等方面，以确保其在实际使用中的稳定性和可靠性。这

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