• 现行
  • 正在执行有效
  • 2011-03-30 颁布
©正版授权
注：本标准为国际组织发行的正版标准，下载后为完整内容；本图片为程序生成，仅供参考，介绍内容如有偏差，以实际下载内容为准
【正版授权】 IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life_第1页
全文预览已结束

下载本文档

基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第23部分：高温工作寿命
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2011-03-30

文档简介

高温工作寿命标准规定了以下高温工作寿命测试方法：

1.**预热阶段**：产品被放置在特定的温度环境中，并且其内部的热应力和冷应力趋于平衡，这是产品承受高温度的准备阶段。

2.**温度上升阶段**：测试产品温度上升到预定的温度上限并保持在这个水平，通常在恒定的负载条件下进行，这主要是测试产品在高温度下的稳定性。

3.**稳定保持阶段**：产品在高温度下保持一段时间，这主要是为了观察产品的耐高温性能，并检查产品是否会发生任何物理变化或性能变化。

4.**降温阶段**：当达到预定的时间后，测试环境的温度会逐渐下降，观察产品在温度变化过程中的性能变化。

以上测试过程需要严格按照标准进行，以保证测试结果的准确性和可靠性。同时，对于不同类型的产品，测试方法和要求可能有所不同，因此需要根据具体情况进行适当的调整。

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。
  • 4. 下载后请按顺序安装Reader（点击安装）和FileOpen（点击安装）方可打开。详细可查看标准文档下载声明

最新文档

评论

0/150

提交评论