• 现行
  • 正在执行有效
  • 2004-04-05 颁布
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【正版授权】 IEC 60444-7:2004 EN-FR Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60444-7:2004 EN-FR
  • 标准名称：石英晶体元件参数测量——第7部分：石英晶体元件的频率和活度降的测量
  • 英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2004-04-05

文档简介

IEC60444-7:2004EN-FR测量石英晶体谐振器参数的第7部分:测量石英晶体谐振器的活性及频率损耗石英晶体谐振器(或称为晶振)是一种频率标准元件，其在许多电子设备中起到至关重要的作用。IEC60444-7标准规定了如何测量和评估石英晶体谐振器的性能参数，包括其频率稳定性和活性。

1.活动度(Activity):活动度是衡量石英晶体谐振器性能的一个重要参数。它表示谐振器在单位时间内振动量的变化程度。高活动度意味着谐振器具有较高的频率稳定性。

2.频率损耗(FrequencyDip):频率损耗是另一个评估石英晶体谐振器性能的重要参数。它描述了谐振器的频率响应曲线在特定频率下的下降程度。频率损耗低的谐振器通常具有更好的频率稳定性和更低的噪声性能。

为了测量石英晶体谐振器的活动度和频率损耗，需要使用专门的测试设备，如频率特性测试仪。这些设备通常包括一个精确的时钟源、一个用于测量谐振器振动量的传感器以及用于记录和分析数据的计算机系统。

测试过程通常包括将石英晶体谐振器放置在测试设备中，并记录其振动响应。通过分析振动响应数据，可以确定谐振器的活动度和频率损耗。

这些参数对于评估石英晶体谐振器的性能和选择适合特定应用的高性能元

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