- 现行
- 正在执行有效
- 2018-01-23 颁布
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基本信息:
- 标准号:IEC 60191-1:2018 EN-FR
- 标准名称:半导体器件的机械标准化——第1部分:分立器件轮廓图编制的一般规则
- 英文名称:Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
- 标准状态:现行
- 发布日期:2018-01-23
文档简介
离散器件轮廓图的通用绘制规则标准概述:
IEC60191-1:2018EN-FR是关于半导体器件机械标准化的第一部分,其重点是离散器件轮廓图的绘制规则。这项标准是国际电工委员会(IEC)制定的,为半导体制造商提供了在制造和销售过程中所需的规范和要求。标准的目的在于确保半导体器件在生产和销售过程中的一致性和可靠性。
标准的范围和重点:
此标准涵盖了半导体器件轮廓图的准备过程,包括以下主要方面:
*图形尺寸和比例:轮廓图必须准确地反映实际器件的大小和形状,以及它们之间的相对位置。这包括图形的精确尺寸、比例和精度。
*细节和标记:轮廓图必须清晰地显示器件的所有细节,包括连接器、引脚、接口和其他关键特征。此外,还需要在图中清楚地标记出这些细节。
*制造信息:轮廓图必须包含制造过程中所需的所有信息,如材料、工艺和制造步骤等。
*包装和运输:轮廓图还必须考虑到器件的包装和运输过程,以确保在所有情况下器件都能保持完好无损。
实施和应用:
半导体制造商需要遵循这项标准来准备他们的轮廓图,以确保与国际标准的兼容性和一致性。此外,当与其他国家和地区的制造商进行贸易时,遵循这项标准也有助于减少误解和纠纷。
注意事项:
虽然这项标准为半导体制造商提供了重要的指导,但它并不涵盖所有可能的情况。制造商可能需要额外的指南或规格书来应对特定的制造挑战。此外,由于技术不断发展,制造
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