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【正版授权】 IEC 60147-0A:1969 EN-FR Supplement A - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 0: General and terminology_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60147-0A:1969 EN-FR
  • 标准名称：A-附录-半导体器件的必要性能等级和特性及测量方法的一般原理-第0部分：一般术语和词汇
  • 英文名称：Supplement A - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 0: General and terminology
  • 标准状态：被代替

文档简介

一般和术语

IEC60147-0A是国际电工委员会（IEC）发布的一个标准，专门针对半导体装置的评级和特性进行规定。这个标准规定了半导体装置的基本性能指标、测试方法和一般原则，适用于各种类型的半导体装置，包括但不限于集成电路、二极管、晶体管等。

该标准的主要内容包括：

*半导体装置的分类和定义

*各种性能指标的评级方法和标准

*测试方法和程序

*测量误差和不确定性的评估

*一般原则和方法，如可靠性、可重复性、一致性等

这个标准还涉及到测量的术语和定义，以便于理解和实施该标准。总体来说，IEC60147-0A标准为半导体装置的性能评估和测试提供了重要的指导和规范。

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