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文档简介

代替GB/T15972.43—2008测量方法和试验程序数值孔径(IEC60793-1-43:2015,Opticalfibremethodsandtestprocedures—Numericalaperturemeasurement,MOD)国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会IGB/T15972.43—2021 Ⅲ 1 1 14方法概述 1 26样品制备 7 7 7 9附录A(资料性附录)NA测量时所需参数的缺省值 附录B(资料性附录)不同试样长度测量的数值孔径间的映射关系 Ⅲ——第10部分:测量方法和试验程序总则(对应IEC60793-1-1); 年版的第3章);●●●●●——将标准名称修改为《光纤试验方法规范第43部分:传输特性的测量方GB/T12357.1通信用多模光纤第1部分:A1类多模光纤特性(GB/T12357.1—2015,IECGB/T12357.2通信用多模光纤第2部分:A2类多模光纤特性(GB/T12357.2—2004,IECGB/T12357.3通信用多模光纤第3部分:A3类多模光纤特性(GB/T12357.3—2004,IECGB/T12357.4通信用多模光纤第4部分:A4类多模光纤特性(GB/T12GB/T15972.10光纤试验方法规范第10部分:测量方法和试验程序总则(GB/T15972.10-2021,IEC60793-1-1:2017,MONA数值孔径(Numericalaperture)NA远场数值孔径(Far-fieldnumericalaperture)NAh最大理论数值孔径(Maximumtheoreticalnumericalaperture)RTM基准试验方法(Referencetestmethod)数值孔径可通过测量远场分布来定义。在某些情况下也用到NAn,NA.可由光纤芯层和包层的工2GB/T15972.43—2021本试验程序描述了测量光纤远场角度辐射强度分布的方法。多模光纤远场数值孔径(NAn)可使用8.3中公式(10)计算得到。 纤芯包层远场光强分布法时可获得远场辐射图I(0),远场数值孔径NA定义为光强下降到最大值的某一阈值5.1输入系统5.1.1光源应采用非相干光源,它能在试样端面上产生基本恒定的辐射面(光强变化小于10%)。在完成测量3远场数值孔径NA受测试用波长影响。光源的中心波长分别在GB/T12357.1、GB/T12357.2、可采用四种等效方法检测试样出射远场的角辐射强度分布。方法1和方法2是远场辐射图的角扫描;方法3是角辐射强度图空间变换的扫描(可采用小光敏面或大光敏面的扫描检测器);方法4是使用图2方法1——角度扫描45.2.2.2光纤输出端固定和对中应采用试样输出端固定和对中的装置,使得试样输出端面与光检测器的旋转轴重合、试样输出端面中心与光检测器表面中心轴线重合。5.2.2.3探测系统机械装置应采用合适的方式旋转光探测器,使探测器基本上能探测到试样全部输出光辐射的圆弧(例如一个经过校准的测角器)。机械装置旋转轴应与试样端面重合并垂直于试样轴线,机械装置旋转平面应包含试样轴线。应提供一种装置记录试样输出端轴线与检测器和试样端面之间的假想线形成的夹角。应采用在接收光强范围内线性度优于5%的探测器。使用针孔孔径限制探测器有效探测面积的大小可以获得更好的分辨率。探测器或孔径大小可以由角度分辨率决定,而装置的角度分辨率设计依据公式(3)。R——样品输出端面到探测器或孔的距离,单位为毫米(mm)。分辨率典型值为0.5°。R还应满足远场公式(4)要求。R——样品输出端面到探测器或孔的距离,单位为毫米(mm);d——是样品发散的直径,单位为微米(μm);探测角度通过此方法直接记录下来。5.2.3方法2——角度扫描图3方法2——角度扫描5应采用一种固定试样的装置,使试样输出端面与试样转轴重合。该装置(即测角器或精密转动台)应充分转动,使固定的检测器能扫描旋转平面中试样的全部输出光辐射。即转角应大于试样输出辐射探测器的要求与方法1相同,且角度也如方法1一样要求直接记录下来。应提供一种装置以记录试样输出端轴线与检测器和试样端面之间的假想线形成的夹角。5.2.4方法3空间场图扫描5.2.4.1方法示意图ff零点图4方法3——空间场图扫描5.2.4.2光纤输出端固定和对中应提供试样输出端固定并对中的装置,该装置能进行稳定并可重复的定位。5.2.4.3远场变换和投影应采用诸如显微镜物镜或经适当校准透镜的合适方法,获得光纤输出近场图形的傅里叶变换,形成试样远场的空间图。应用带针孔的探测器扫描该图形或该图形的像,并记录远场光强。针孔直径应小于或等于系统衍射极限的一半,满足公式(5)要求。 (5)M——变换透镜后焦面到扫描平面的放大率;f——变换透镜焦距,单位为毫米(mm);6反映空间变换平面(图4中透镜L₁后焦面)上某点至中心轴线的距离y与该点和中心轴线夹角0y=fsinθ (6)I(0)=E(y)cos0 (7)D=2fsin(8) (8)方法4——逆向远场法示意图见图5,此方法适于A4d子类多模光纤。角度输出光功率。光源要求需符合5.1.1和5.1.2中的要求。光斑需足够十分之一。图5中最大入射角0.需大于样品预计的最大耦合角。7θθNA会受被测试样长度影响。试样长度在GB/T12357.1、GB/T18将扫描图中峰值强度归一化。对于方法1,方法2,方法3,从远场光辐射图上找出光强为最大值的中给出。缺省值参见附录A。使用方法1和方法2进行数值孔径测量时,用公式(10)计算远场数值孔径NA。NA=sinθk (10)图6给出了NAm=0.20的Ala.2类多模光纤远场扫描图例。图中数据进行了归一化,所以图例中扫描图中心值最大值为1,KnA=5%水平用短横线显示。08.4用方法3计算远场强度图扫描过程中通过典型对中技术(如50%点平均法,第一力矩分析等)找到y方向中心位置y₀。从记录的y位置中减去y₀,可得到一组校正后的位置y',用公式(11)计算。8.5用方法4计算远场数值孔径(NAm)当我们使用方法4时,远场强度图中最小值决定了数值孔径。图7为使用方法4测得的典型数值9图7使用方法4测得的A4d类光纤示例图角度θ₁、0₂由在图7中通过找局部最小值决定。NA由公式(12)决定。9结果9.1测量结果报告应包括下列内容:——试验名称;—光源波长和谱宽(不是850nm时,需要指明);——测量结果;—被测光纤类型;9.2报告中也可包括下列内容:——试验系统校准和角分辨率; 注入光斑尺寸和数值孔径: ——应用程序中出现的偏差。(资料性附录)NA测量中所需参数的缺省值完善NA测试需要相关产品标准中所规定的数值孔径测试指定的测量波长,强度阈值和试样长度值等参数。A.2多模产品的NA测试中所需参数的缺省值列表表A.1给出了多模光纤远场NA测量中所用到的各参数的缺省值。这些值以最新版的产品标准为准。表A.1多模光纤远场NA测量中所用到的各参数缺省值列表产品阈值KNAla.1b(弯曲不敏感型)Ala.2b(弯曲不敏感型)Ala.3b(弯曲不敏感型)远场数值孔径与测试试样长度相关。附录B给出了用RTM测量的NAn与使用不同试样长度的B.2使用长长度与短长度样品测得远场NA的对应关系对某些产品的测试,在产品详细规范中所规定的试样长度可能是不可实现的。对于给定设计,如果制造商能说明远场NA测量的长度相关性是可重复和可预测的,那么就可以建立短长度样品远场NA测量值与RTM法做测得的NAn的映射函数关系。对于某些给定的设计,对应关系可由公式(B.1)和公式(B.2)表示。使用不同于产品详细规范中给定RTM的试样长度测得的远场数值孔径NA,a可由公式(B.1)得到。NAl与用RTM测试的NA对应关系可由公式(B.2)表示。NAn=NA,alt+f(NAf,alt)…………(B.2)例如

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