超声波测厚仪的应用 测厚仪技术指标

第第页超声波测厚仪的应用测厚仪技术指标超声波测厚仪是依据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精准明确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可接受此原理测量。超声波测厚仪是接受较新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精准明确测量按超声波脉冲反射原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精准明确测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

影响覆层测厚仪测量值的因素及解决方法

使用测厚仪与使用其他仪器一样，既要把握仪器性能，也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的牢靠性，下面珠海天创仪器公司就为大家认真介绍：1.边界间距假如探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必需测量该点的覆层厚度，只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准，才能测量。（注：新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3～10％的精度）2.基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。3.基体金属小厚度基体金属必需有一个给定的小厚度，使探头的电磁场能完全宽容在基体金属中，小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以实行在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以除去。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到精准的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪，如前所述。4.表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必需进行多次测量才行。显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不牢靠。为获得牢靠的数据，基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5％。而对于表面杂质，则应予去除。有的仪表上下限，以剔除那些“飞点"。5.探头测量板的作用力探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降。活产生大的波动，必要时，可在两者之间垫一层硬的，不导电的，具有确定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。6.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁应当避开在有干扰作用的外界磁场相近进行测量。残存的剩磁，依据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般不会显现上述现象。7.覆层材料中的铁磁成份和导电成份覆层中存在某些铁磁成分，如某种颜料时，会对测量值产生影响，在这种情况下，对用作校准的对比试样覆层应具有与被测物覆层相同的电磁特性，经校准后使用。使用的方法可以是将同样的覆层涂在铝或铜板试样上，用电涡流法测试后获得对比标准

涂层测厚仪测量结果不精准紧要是由下面几种原因引起：1、强磁场的干扰。当仪器在强电磁场相近工作时，测量会受到严重的干扰。假如离电磁场特别近时还有可能会发生死机现象。2、人为因素。在使用仪器测量过程中假如用户对测厚仪不谙习就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以初次使用本仪器时，要把握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。3、在系统矫正时没有选择合适的基体。基体最小平面为7mm，最小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不牢靠的。4、附着物质的影响。涂层测厚仪对阻拦探头与覆盖层表