JBT 7402-2024《平行平晶》规范

ICS17.180.30CCSN34JB代替JB/T7402-1994IJB/T7402—XXXX前言 2规范性引用文件 3术语和定义 4材料、尺寸、分组和成套配置 5技术要求 25.1主要技术指标 25.2表面疵病 35.3两工作面的表面粗糙度 35.4材料缺陷 35.5外观 35.6运输、贮存基本环境试验 36试验方法 错误！未定义书签。6.1试验条件 36.2两工作面平行度 46.3尺寸偏差 46.4成套平行平晶尺寸递差 46.5工作面平面度 56.6两平面的表面疵病 56.7两平面的表面粗糙度 56.8材料缺陷 56.9外观 66.10运输、贮存基本环境条件试验 67检验规则 67.1检验分类 67.2出厂检验（即交货检验） 67.3型式检验 68标志、包装、运输及贮存 78.1标志 78.2包装 78.3运输 78.4贮存 7JB/T7402—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件与JB/T7402-1994相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：——更改了标准的适用范围（见第1章）；——增加了“术语和定义”一章（见第3章——增加了各组平行平晶所适用的被检量具测量范围的规定（见4.3）；——增加了对成套平行平晶尺寸递差的技术要求和试验方法（见表3序3、6.4）；——更改了对表面疵病的技术要求，并将1994年版附录A的内容纳入正文（见5.2）；——更改了对材料应力双折射和气泡度的技术要求（见5.4.1、5.4.3，1994年版的4.1——更改了圆柱面与工作面的垂直要求（见5.5.1，1994年版的4.4）。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国机械工业联合会提出。本文件由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103）归口。本文件起草单位：贵阳新天光电科技有限公司、上海理工大学、贵州省光学测量工程技术研究中心、河南省计量科学研究院、苏州慧利仪器有限责任公司、南京东利来光电实业有限责任公司、宁波永新光学股份有限公司、宁波湛京光学仪器有限公司、广州粤显光学仪器有限责任公司、南京江南永新光学有限公司、宁波舜宇仪器有限公司、宁波市教学仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器有限公司、麦克奥迪实业集团公司、宁波华光精密仪器有限公司、重庆奥特光学仪器有限责任公司。本文件主要起草人：胡清、冯琼辉、罗武勇、张卫东、韩森、洪宜萍、毛磊、鲍金权、徐涛、李晞、胡森虎、张琪、张景华、章光伟、徐利明、吴国民。本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：——1985年首次发布为ZBN305-85；——1994年第一次修订，发布为JB/T7402—1994；——本次为第二次修订。JB/T7402—XXXX平行平晶用于检定千分尺类量具测量面平面度和平行度，是量具制造业保证产品质量不可缺少的测量器具。本文件规定了平行平晶的材料、尺寸、分组、成套配置和技术要求，描述了相应的试验方法，规定了检验规则、标志、包装、运输及贮存，为平面平晶的制造提供了依据，其目的是促使平行平晶产品实现标准化、规范化，同时为平行平晶量值准确和产品质量提供可靠保证。JB/T7402-1994《平行平晶》发布实施已近三十年，由于技术的发展、产品市场的变化和相关标准的更新，已不能适应产业现状，有必要修订完善，以不断适应产业发展新需求。本次对JB/T7402的修订，增加了对成套平行平晶尺寸递差的要求和试验方法，同时解决了历年实施中发现的问题，从而对满足市场需求、指导产品生产、提升产品技术性能和质量水平，促进产业高质量发展提供可靠的技术支撑。1JB/T7402—XXXX平行平晶本文件规定了平行平晶的材料、尺寸、分组、成套配置和技术要求，描述了相应的试验方法，规定了检验规则、标志、包装、运输及贮存。本文件适用于以光波干涉法检验外径千分尺、杠杆卡规等量具测量面平面度和平行度的平行平晶的制造。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T191包装储运图示标志GB/T903-2019无色光学玻璃GB/T1185-2006光学零件表面疵病GB/T2828.1计数抽样试验程序第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T6388运输包装收发标志GB/T7661-2009光学零件气泡度GB/T7962.5-2010无色光学玻璃测试方法第5部分：应力双折射GB7962.7-1987无色光学玻璃测试方法条纹度检测方法GB/T9969工业产品使用说明书总则GB/T13323-2009光学制图GB/T14436工业产品保证文件总则GB/T15464仪器仪表包装通用技术条件GB/T25480-2010仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法3术语和定义本文件没有需要界定的术语和定义。4材料、尺寸、分组和成套配置4.1平行平晶的材料可在GB903-1987中选取牌号为K4、QK2、K9的光学玻璃制造，也可选择石英等耐磨玻璃制造。4.2平行平晶为圆柱形几何体（如表2中简图所示）。圆柱两端的平面用于检验，被称为工作面；两工作面之间的距离，称为平行平晶的尺寸。4.3按照平行平晶的尺寸范围，可把平行平晶产品分为四组；各组的名称和所适用的被检量具的测量范围如表1所示。4.4各组平行平晶的结构尺寸如表2所示。4.5平行平晶产品应成套供货，每套产品应由表2各组尺寸中，尺寸相邻的4块平行平晶组成。2JB/T7402—XXXX4.6平行平晶的尺寸、产品序号和商标应标注在圆柱面上，或如表2中简图所示的K平面上。表2单位为毫米HDb—885技术要求5.1主要技术指标平行平晶的主要技术指标应符合表3的规定。12343JB/T7402—XXXX5.2表面疵病5.2.1平行平晶工作面的表面疵病公差如表4所示。5.2.2对于宽度小于表4规定最大宽度的擦痕允许值，和直径小于表4规定麻点最大级数的麻点允许值，可按GB/T1185-2006附录A的规定进行换算。5.2.3表面疵病不允许密集，在任意5%面积内，基本级数的疵病数量应不超过允许值的20%。3455.3两工作面的表面粗糙度平行平晶两工作面的表面粗糙度公差为Rz0.063μm。5.4材料缺陷5.4.1应力双折射平行平晶材料的应力双折射应符合GB/T13323-2009中B.1的规定。材料的应力双折射公差为OPD=20(nm/cm)。5.4.2条纹度平行平晶材料的条纹度应符合GB903-1987中第2类B级的规定。5.4.3气泡度5.4.3.1平行平晶材料的气泡度公差如表5所示。5.4.3.2对于直径小于表5规定气泡最大级数的气泡允许数量，按GB/T7661-2009中的4.4进行换算。5.4.3.3气泡的密集度应符合GB/T7661-2009中的4.5的规定。3455.5外观5.5.1平行平晶圆柱面与工作面应无明显不垂直现象。5.5.2平行平晶圆柱面磨砂应均匀；倒角无破损、宽度应均匀。5.5.3平行平晶圆柱面上标注的尺寸和产品序号应清晰、明显。5.6运输、贮存基本环境试验平行平晶在运输包装条件下的环境模拟试验应符合GB/T25480-2010表1中的所有要求。其中选用高温+55℃,低温-40℃,交变湿热试验相对湿度95%，自由跌落4次，跌落高度250mm。6试验方法6.1试验条件4JB/T7402—XXXX平晶检验应在洁净并远离震动的室内进行,室温应在20±5℃范围内，相对湿度在80%以下；在检验两工作面平面度前，被检平行平晶置于仪器上的等温时间应大于1h。6.2两工作面平行度6.2.1测量器具立式光学计。6.2.2试验程序在立式光学计上安装带筋工作台和球面测帽；如图1所示，将被检平行平晶放在带筋工作台和球面测帽之间，测量工作面中心点及0.9D圆周上均布8个点的厚度差；取9个点厚度的最大差值，作为两工作面的平行度。6.3尺寸偏差6.3.1测量器具5等或3级量块和立式光学计。6.3.2试验程序将尺寸与被检平行平晶厚度相同的量块放在图1所示的检验点位置；在测帽与量块工作面中心接触后，将立式光学计示值调整到零位。换上被检平行平晶，使测帽与被检平行平晶工作面中心接触后，读取立式光学计示值。按公式（1）计算被检平行平晶的尺寸偏差。Δh=L+-H............................................................................(1)式中：Δh——尺寸偏差，单位为毫米(mm)；ΔL——立式光学计示值，单位为微米(μmH——平行平晶的尺寸，单位为毫米(mm)；L——量块检定证书给定的量块中心长度，单位为毫米(mm)。6.4成套平行平晶尺寸递差6.4.1测量器具同6.2.1。6.4.2试验程序将成套的四块平行平晶按其尺寸从小到大顺序排列，将第1块先放在图1所示的检验位置；在测帽与被检平行平晶工作面中心接触后，将立式光学计示值调整到-50μm处。换上第2块，读取第2块相对于第15JB/T7402—XXXX块的示值差。再次将立式光学计示值调整到-50μm处。换上第3块，读取第3块相对于第2块的示值差。按以上程序，检验第4块相对于第3块的示值差。以上三次读取的示值差，即为四块平行平晶尺寸递差。6.5工作面平面度6.5.1测量器具平面等厚干涉仪和2级平面平晶。6.5.2试验程序将被检平行平晶和作为检验工具的平面平晶的工作面贴合后，放置在平面等厚干涉仪（以下简称仪器）的工作台中央，调整两平晶接触状态，使在仪器视场中呈现3~5条干涉条纹。用食指按压平行平晶边缘的不同位置，改变条纹走向，找到干涉条纹弯曲量最大位置。转动仪器测微目镜，使其视场中十字线（见图2中mm和nn）其中一条刻线平行于条纹走向，保持该状态，并按6.1条要求进行等温。如图2a）所示，用仪器的测微目镜测量视场当中两条干涉条纹的间距a和干涉条纹在0.9D直径范围内的弯曲量b，按公式（2）计算被检平晶在该截面内的平面度偏差δh。δh=×..................................................................................(2)式中：δh——被检平晶在选中截面内的平面度偏差，单位为微米(μmb——干涉条纹弯曲量，单位为测微目镜鼓轮格数；a——干涉条纹间距，单位为测微目镜鼓轮格数；λ——仪器照明光源的波长，单位为微米(μm公式（2）中b的正负号，应依据GB/T2381-2009中的7.1.3进行判别。对于(2/3)D直径范围内的平面度偏差，b的取值范围应在(2/3)D直径的界限内，如图2b）所示。在不旋转平晶的前提下，调整两平晶接触状态，使干涉条纹走向平行于视场中的另一条刻线（在图2c中为nn），并使视场中的条纹数与先前相同，按上述程序测量被检平行平晶在另一截面内的平面度偏差。如果两个截面测得平面度偏差的符号相同，则取其中较大值作为测量结果；如果两个截面测得平面度偏差的符号不相同，则取二者绝对值相加作为测量结果。对于两个工作面均应按以上程序进行检验。6.6两平面的表面疵病按GB/T1185-2006的规定，对直角棱镜各透射面和反射面的表面疵病进行检验。6.7两平面的表面粗糙度两平面的表面粗糙度用接触式或非接触式轮廓仪，对两平面的表面粗糙度进行检验。6.8材料缺陷6.8.1材料的应力双折射6JB/T7402—XXXX按GB/T7962.5-2010的规定，对同批材料样品的应力双折射进行测试。6.8.2材料的条纹度按GB7962.7-1987的规定，对同批材料样品的条纹进度行测试。6.8.3材料的气泡度按GB/T7661-2009的规定，对平晶材料的气泡度进行测试。6.9外观通过目测进行检验。6.10运输、贮存基本环境条件试验平晶的运输、贮存基本环境条件试验，按JB/T25480-2010第4章的规定进行。7检验规则7.1检验分类产品的检验分为出厂检验和型式检验。7.2出厂检验（即交货检验）7.2.1出厂检验的样品数根据GB/T2828.1中的一般检查水平Ⅰ、正常检验一次抽样方案，或根据供需双方协商确定。通常从正常检验开始，根据检验结果，随时执行GB/T2828.1规定的转移规则。7.2.2出厂检验不包括5.4.1、5.4.2和5.6。7.3型式检验7.3.1产品的型式检验为可选项目，但产品在下列情况之一时，必须进行型式检验：a)新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定；b)正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改进，可能影响产品性能时；c)正常生产时，定期或积累一定产量后，应周期性进行一次检验；d)产品长期停产