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文档简介
半导体场效应晶体管
理想MOS结构的表面空间电荷区4.VG>0,若正偏电压越来越大,半导体表面的能带会越来越弯曲,在表面的电子浓度越来越多,当表面的电子浓度ns=ni时,称为弱反型;继续增加电压VG=VT时,ns=NA,表面形成强反型,称为耗尽-反型的转折点强反型条件;反型条件:
6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
耗尽和反型转折点电荷块图能带图5.VG>VT时,表面少数载流子浓度超过多数载流子浓度,这种情况称为“反型”。6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
反型电荷块图能带图6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
n型MOS电容的不同偏置下的能带图和对应的电荷块图n型MOS电容的不同偏置下的能带图和对应的电荷块图6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
结论
n型衬底VGACC(积累)DEPL(耗尽)INV(反型)0VT0VTACC(积累)DEPL(耗尽)INV(反型)P型6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
结论
n型(
F<0)
sACC(积累)DEPL(耗尽)INV(反型)02
F0ACC(积累)DEPL(耗尽)INV(反型)P型(
F>0)2
F平带耗尽-反型过渡点
s6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
例题:两个理想MOS电容的电荷块图分布如下图所示,对每一种情况:完成以下三个问题:(1)半导体是n型还是p型(2)器件偏置模式是积累、耗尽还是反型?(3)画出该电荷块图对应的MOS电容能带(4)画出该结构的高频C-V特性曲线,并在图中用符号“
”标出与该电荷块图相对应的点(3分)6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
MOS电容的静电特性1半导体静电特性的定量描述
目标:建立在静态偏置条件下,理想MOS电容内部的电荷,电场E和电势金属:M-O界面电荷分布在金属表面几Å范围内
=δ,E=0,
=常数绝缘体:=0,E=Eox
,Δ=Eoxx0半导体体内:体内E=0处
=06.1理想MOS结构的表面空间电荷区
6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
半导体中积累
=(0)
E=0(x>0)=0(x>0)6.1理想MOS结构的表面空间电荷区
半导体中耗尽层宽度耗尽层中的电荷密度泊松方程电场电势x=xd处,E(xd)=0,(
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