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文档简介

半导体场效应晶体管

理想MOS结构的表面空间电荷区4.VG>0,若正偏电压越来越大,半导体表面的能带会越来越弯曲,在表面的电子浓度越来越多,当表面的电子浓度ns=ni时,称为弱反型;继续增加电压VG=VT时,ns=NA,表面形成强反型,称为耗尽-反型的转折点强反型条件;反型条件:

6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

耗尽和反型转折点电荷块图能带图5.VG>VT时,表面少数载流子浓度超过多数载流子浓度,这种情况称为“反型”。6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

反型电荷块图能带图6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

n型MOS电容的不同偏置下的能带图和对应的电荷块图n型MOS电容的不同偏置下的能带图和对应的电荷块图6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

结论

n型衬底VGACC(积累)DEPL(耗尽)INV(反型)0VT0VTACC(积累)DEPL(耗尽)INV(反型)P型6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

结论

n型(

F<0)

sACC(积累)DEPL(耗尽)INV(反型)02

F0ACC(积累)DEPL(耗尽)INV(反型)P型(

F>0)2

F平带耗尽-反型过渡点

s6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

例题:两个理想MOS电容的电荷块图分布如下图所示,对每一种情况:完成以下三个问题:(1)半导体是n型还是p型(2)器件偏置模式是积累、耗尽还是反型?(3)画出该电荷块图对应的MOS电容能带(4)画出该结构的高频C-V特性曲线,并在图中用符号“

”标出与该电荷块图相对应的点(3分)6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

MOS电容的静电特性1半导体静电特性的定量描述

目标:建立在静态偏置条件下,理想MOS电容内部的电荷,电场E和电势金属:M-O界面电荷分布在金属表面几Å范围内

=δ,E=0,

=常数绝缘体:=0,E=Eox

,Δ=Eoxx0半导体体内:体内E=0处

=06.1理想MOS结构的表面空间电荷区

6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

半导体中积累

=(0)

E=0(x>0)=0(x>0)6.1理想MOS结构的表面空间电荷区

半导体中耗尽层宽度耗尽层中的电荷密度泊松方程电场电势x=xd处,E(xd)=0,(

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