微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析 编制说明_第1页
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文档简介

一、工作任务来源和主要工作过程法定量点分析”的国际标准：Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—Quantitativepointanalysisforbulkspecimensusingwavelength-dispersiveX-r22489:2006。2016年该国际标准发布修订版：Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—Quantitativepointanalysisforbulkspecimensus行修订。现已根据国际标准修订版对原国家标准进行了文字和部分内容的修改，已提交了标立项，委员和专家对该标准修订立项进行了讨论，通过标委会委员投票，一致同意向国家标本标准修订由从事电子探针显微分析（EPM研究员和李香庭研究员及高级工程师吴伟完成。两位起草人曾经完成制定、修订国家标准和国际标准采标标准十二项。李香庭负责标准修订文件的翻译及起草，曾毅与吴伟负责文件核二、标准编制原则和主要内容的确定依据电子探针仪（EPMA）及带波谱仪（WDS）的扫描电镜（SEM），是电子束微束分析技术中应用极为广泛的仪器，是微区形貌观察和成分分析非常有用的技术手段，能在形貌观察的同时进行微区原位成分分析，是一种显微结构的分析。对有谱峰重叠的试样、准确度要求高的虽然微束分析的仪器很多,但波谱仪的成分定量分析是材料微区成分分析公认的最准确本标准是电子探针（EPMA）及带波谱仪（WDS）的扫描电镜（SEM）成分定量分析方法标产业、基础工业、材料科学，冶金、地质矿产、半导体工业、环境保护、商检贸易及案件侦主要技术内容包括试样制备、分析条件设置、定量较正方法的选择，这是影响定量准确三、主要试验验证的分析本标准使用翻译法等同采用ISO22489:四、与国际、国外同类标准水平的对比情况波谱法定量点分析”（英文版）第二版。该标准比较全面的规定了分析条件的选择方法，虽然目前有“电子探针定量分析方法通则”（GB/T15074-2008）国家五、与现行法律、法规和强制性标准的关系本标准不包含任何有违现行法律、法规和强制性国家标准的内容。与现行法律、法规和六、重大分歧意见的处理七、作为强制性标准或推荐性标准的建议八、贯彻标准的措施建议建议本标准作为推荐性国家标准使用，标准通过后建议在全国范围内进行该标准的宣贯工作。建议有关专家在国内各种电子显微学九、废止现行有关标准的建议建议本修订标准《微束分析电子探针显微分析块状试样波谱法定量点分析》替代2006年发布的“块状试样波谱法定量点分析”的国家标准GB/T28634-2012-

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