钢结构无损检测-X射线检测之检测技术（钢结构检测）

无损检测

管接头焊缝：典型管接头焊缝的透照方向选择见图。无损检测

射线检测检测技术无损检测

管接头焊缝的透照无损检测

（c）对焊焊缝和V型坡口（d）对焊焊缝和X型坡口

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角形件：角形件包括由角焊、叠焊、十字焊、丁字焊等焊接工艺焊接的工件，以及铸件肋板的根部和凸缘部等。在检验这一类工件时，X射线照射的方向多为其角的二等分线的方向。对于内焊的角形焊、叠焊以及丁字焊的焊缝等，除上述透照法外，还特别需要沿坡口方向进行透照。典型角形工件的透照照见图。无损检测

射线检测检测技术无损检测

（a）凸缘（b）轴角（c）叠焊工件凸缘和轴角处以及叠焊工件的透照方向无损检测

（a）丁字焊（b）内角焊（c）角焊丁字焊、内角焊以及角焊工件的透照方向无损检测

（a）卷边角焊（b）十字角焊卷边角焊和十字角焊工件的透照方向

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平板形工件：工件的平面部分以及曲率半径很大的弧面部分，如扁平铸件、对接焊板、直径很大的圆简形铸件和焊件等都属于平板形工件的范畴。对于平板形工件，射线应从其前方照射，将胶片放在被检查部位的后面。如检测平头对焊的焊缝、单U形对焊焊缝(见图a)和双U形对焊焊缝(见图b)等。在检查V形坡口对焊的焊缝和X形坡口对焊的焊缝时，除了从垂直方向透照外，还要在坡口斜面的垂直方向上进行照射，以便对未熔合等缺陷进行有效的检测(见图c、d)。无损检测

射线检测检测技术无损检测

(a)单U形对焊焊缝的透照方向(b)双U形对焊焊缝的透照方向无损检测

（c）对焊焊缝和V型坡口（d）对焊焊缝和X型坡口

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圆管：圆管是指直径小或大管状件以及曲率半径比较小的弧形工件。透照这类工件应当特别注意，使胶片与被检部位的紧密贴合，并使锥形中心辐射线与被检区域中心的切面相互垂直。根据焊缝(或铸件)的结构、尺寸和可接近性以及X射线机的性能来选择透透照方法。具体地说，主要有以下几种透照方法。外透法：胶片在管内，射线由外向里照射。这种方法适用于比较大的圆筒状工件(见图(a))。如果管子周围都要检查，可以分段转换曝光。所分的段数主要是根据管径的大小、壁厚以及焦距来确定。在分段透照中，相邻胶片应重叠搭接，重叠的长度一般为10mm~20mm，以免漏检。内透法：胶片在外，射线由里向外照射。这种方法特别适用于壁厚大而直径小的管子，一般采用棒阳极的X管较好，如果（b）所示。无损检测

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外透法和内透法检测管状工件双壁双影法：对于直径小而管内不能贴胶片的管状工件，可将胶片放在管件的下面，使射线源在上方透照。为了使上下焊缝的投影不重叠，射线照射的方向应有一个适当的倾斜角。射线方向与焊缝纵断面的夹角应根据不同的情况分别加以控制，当管径50mm以下时，一般采用10°左右的夹角为宜；当管径50mm~100mm时，一般以7°左右为宜；当管径在100mm以上时，一般以5°左右为宜，见图(a)。需要说明的是，该法只适用于直径不超过80mm~100mm的管状件的检测，管壁较大时需用的焦距太大，而且管壁厚度的增加将限制能一次拍摄的焊缝长度。无损检测

射线检测检测技术双壁单影法：在管径较大的情况下，为了不使上层管壁中的缺陷影像影响到下层管壁中要检查的缺陷，可采用双壁单影法。双壁单影法是通过缩小焦距的办法，使X射线管接近上层管壁，从而使上层管壁中的缺陷在底片上的影像变得模糊。如有可能，X射线线管可和被检管相接触，使射线穿过焊缝附近的母材金属。胶片应放在远离射线源一侧被检部位的外表面上，并注意贴紧，见图（b)。该法对于直径大于100mm、内部不能接近的管状件能获得比较好的检测效果。双壁单影法可用于直径大至为900mm的管状件的透照检测，管径超过900mm后，将由于焦距变得过大而会给检测效果带来不利的影响。无损检测

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双壁双影法和双壁单检测管状工件的缺陷

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圆柱体：轴、圆管、试棒、钢索等圆形或椭圆形断面的工件都属属于圆柱体，很厚壁面内径很小的圆管形部件也属于圆柱体的范国時。这一类物体因其断面呈圆形，故在射线方向的厚度差根大。这种情况下，在选择透照方法时，就应设法减小厚度差对影像质量的影响。对于批量大的同一部件进行射线检测时，可以制做专用的托座或夹具。但通常是不具备这种条件的，最简单有效的办法就是使用滤波板。滤波板一般安装在X射线管保护罩的窗口上，它的作用是：①提高辐射束的平均能量，降低主因衬度，增加加宽容度；②由于滤掉了软射线，减弱了散射线的有害影响，从而提高了清晰度。无损检测

射线检测检测技术当射线照相检测厚度变化比较大的物体时，为避免厚度大的部位曝光不足，面薄的部位曝光过度，可采纳以下措施：①将感光度不同的两种或两种以上型号各异的胶片同时放在试件下进行曝光透照，在感光快的底片上观察厚处，在感光慢的底片上观察薄处；②如果只有一种型号的胶片，则按材料厚薄分别单独进行曝光；③对于物体的薄处可用与其密度相近的材料作补偿块，见图3-101(a)，也可将物体埋在与其密度相近材料的介质(液体、膏状物和金属微粒)中，见图3-101(b)。经上述处理后，可一次透照成功。需要注意的是，当使用液体或膏状物介质作相近材料时，要防止它们在被检物体表面形成气