光网络测试培训

光网络测试培训－光时域反射仪篇链路损耗测试光源光功率计链路损耗测试：直接方法-光源、光功率计方法链路损耗测试：间接方法-OTDR法OLP－6键盘开关键波长选择键dBm：绝对功率dB：相对功率，应用于损耗测量保持一段时间可归“0”，作为损耗测试起始点OLP－6测试接口采用2.5mm通用接口，适合FC、SC、ST、DIN等2.5mm插芯接头OLP－6电源开机或关机时，瞬间显示电池容量，如图，容量为30％电池电量低告警电池装入光功率计操作要点选择与光源对应的波长检查被测光纤：是否存在过度弯曲，缠绕等，会影响功率测试微弯会造成光泄露，使光功率偏低甚至无信号连接部位是否紧密注意：长时间不用仪表应取出干电池，以免漏液造成腐蚀仪表。OLS－6键盘开关键波长选择键调制方式OLS－6接口1310nm1550nm采用双端口输出，每个输出口对应唯一的波长。接口标准配置为FC型。OLS－6输出波长选择1310nm输出1310nm输出1550nm1310nm/1550nm双波长轮发OLS-6调制信号输出输出“连续波”（损耗测试必须采用）输出“270Hz”调制信号（主要用于对纤）输出“1kHz”调制信号（主要用于对纤）输出“2kHz”调制信号（主要用于对纤）AutoTest模式（可使OLP－6自动检测到光源输出波长）OLS－6电源开机或关机时，瞬间显示电池容量，如图，容量为30％电池电量低告警电池装入光源操作要点选择需要测试的波长连接部位是否紧密确定应用，选择发送波形式连续波（CW）－用于损耗测试调制波（MOD）－用于对纤注意：长时间不用仪表应取出干电池，以免漏液造成腐蚀仪表。光纤线路测量－损耗链路损耗测量意义：链路的全程损耗，是否符合设计光程预算。单位：dB测试仪器：直接方法：光源、光功率计间接方法：光时域反射仪（OTDR）光损耗测试-直接方法原理性方法－剪断法测量损耗－差值光纤跳线光源光功率计被测光纤光源光功率计12校准P1P2损耗=|P1-P2|光损耗测试-替代方法1测量损耗－差值光纤跳线光源光功率计被测光纤光源光功率计12校准P1P2损耗=|P1-P2|不切断光纤，将光纤跳线直接取下。将被测光纤直接替换校准用光纤跳线。光损耗测试-替代方法2测量损耗－差值光纤跳线光源光功率计被测光纤光源光功率计12校准P1P2损耗=|P1-P2|将中间一段光纤跳线直接取下。将被测光纤直接替换中间一段光纤跳线。光源、光功率计方法测试光纤损耗注意事项光源设置为连续波（CW）。光源与光功率计波长一致。两个步骤。校准和测量缺一不可。两个步骤之间，光源不要关闭。我们现有光源输出相对时间相对稳定。输出精度较差。每次<开>、<关>输出功率不一样。典型错误方法：省略校准步骤。用光功率计读数减去光源额定输出。光损耗测试-间接方法光时域反射仪（OTDR）测试方法dBkm**dB起始反射结束端与测试结束点电平的高度差避让首个反射峰接入光纤辅助OTDR法测试链路损耗测试方法-接入辅助光纤连接点辅助光纤被测光纤dBkmxxdB接入光纤辅助测量全段光纤损耗，无长度损失。光纤线路测量－纤长链路长度（纤长）测试仪器：光时域反射仪（OTDR）获得光纤长度信息，作为最重要的档案信息。辅助配盘。辅助衰减测量。dBkm**km光纤线路测量－衰减系数光纤衰减系数测量（平均损耗）测试仪器：光时域反射仪（OTDR）意义：评价链路质量。衰减＝链路损耗/长度dB/km两种评价方法：两点衰减：即为《两点损耗/长度》；（A－B）两点LSA衰减：为降低曲线波动性影响，而采取的数学分析方法。在两点间取一条近似逼近直线。（A’－B’）A’ABB’逼近线光纤线路测量－插入损耗插入损耗测量测试仪器：光时域反射仪（OTDR）意义：连接点的损耗值，对应熔接点即为熔接损耗。dBkm事件前后轨迹的高度差即为插入损耗光纤线路测量－反射连接器反射测量测试仪器：简单评价：光时域反射仪（OTDR）精确测量：光回损测试仪意义：评价连接器的连接质量。特别在有线网络和PON网络中，至关重要。dBkm反射事件前端与反射峰的高度差光纤线路测量－故障位置故障位置查找测试仪器：光时域反射仪OTDR辅助手段：可见光故障定位仪（红光光源）dBkm故障的位置信息，**km处断裂或其他事件光纤线路测量－光功率光功率测量测试仪器：光功率计单位：dBm、mwdBm＝10lg（P1/1mw）dB=10lg(P1/P2)意义：最为常规的测量，光纤测量的基础内容。应注意调整校准波长，在校准波长上测量才能获得准确的测试结果。光接收机灵敏度测量光接收机灵敏度测量测试仪器：误码率：光功率计、可变光衰减器、2M误码仪光功率低告警：光功率计、可变光衰减器可变光衰减器光发射机光接收机2M光功率计RXTX灵敏度测量点

DWDM测量色度色散(CD)意义：由于波长的不同引起的色散，造成收端脉冲展宽极化模式色散或偏振模色散(PMD)意义：由于光沿不同轴向传输，路径不同（沿快轴的路径短，沿慢轴的路径长），造成收端脉冲展宽。经常会变化的属性。光谱分析意义：分析光谱分布，确定波长中心频率、及偏移等参数光纤线路测量－DWDMJDSUOTDR操作指南通测科技MTS6000测试平台SDH10GOTN10G以太网10GFiberChannel波谱衰减OSACD/PMD主界面SYSTEM：系统设置FILE：文件SETUP：测试设置RESULTS：结果页SCRIPT：宏操作START/STOP：测量键游标确认键开关键的操作与仪表提示对应即可接口电源接口USB接口U盘存储鼠标键盘打印机网络接口（RJ45）FTP下载测试文件远程控制SYSTEM选择OTDR功能模块选择后OTDR选项变成黄色系统设置：仪表参数背景光、对比度、屏保、语言、日期时间、接口、打印机设置等帮助页：仪表信息，型号序列号/选件状态专家工具：升级、远端显示、U盘格式化等脱机结果：视频显微镜桌面应用：文档读取SYSTEM－测量功能选择选择对应的功能模块，按确认键(原点)，变为黄色即可。！告警：功能未选择或未装入所需模块

MTS6000-SYSTEM－帮助页选件信息主机序列号、模块序列号版本退出MTS6000：FILE浏览复制粘贴删除文件浏览文件设置存储MTS6000：FILE设置文件浏览文件设置如自动存储选项选“是”请打开配合选项，“光纤号递增”FILE-文件操作流程文件保存FILE－设置/文件浏览－设置－存储迹线文件浏览FILE－设置/文件浏览－文件浏览文件载入FILE－设置/文件浏览－文件浏览－选择文件－装入文件名命名规则FILE－设置/文件浏览－设置－文件命名迹线方向FILE－设置/文件浏览－设置－方向SETUP-测量设置SETUP－采样操作：上下－项目移动；左右－选项/数值变化采样模式：专家、自动、故障定位专家：手动自动：自动故障定位：以获取长度信息等简单信息为目的。OTDR简化测试。激光器：1310nm、1550nm、全部全部：双波长测试脉宽－脉宽越大，测量距离越远，盲区也越大。3ns最小（近），20us最大（远）范围－超过被测光纤即可，建议1.5~2倍。过大的范围设置影响距离精度。分辨率－设置采样间隔，越小距离精度越高。自动：折中策略高动态：以获得更大的动态范围为目的，采样点少而稀。高分辨率：以获得更好的距离精度为目的，采样点多而密。采样时间－即平均时间，时间越长动态范围越好（距离越远）。建议最小30秒，最大3分钟SETUP－测量测量检测－OTDR对事件的判别门限，建议不自己设定。折射率：常数，影响距离精度（曲线横轴）。散射系数：常数，影响损耗精度（曲线纵轴）。导引光缆：即接入辅助光纤时起点，可设定从事件位置开始或设定距离。将0km点偏移到被测光纤起点。SETUP－结果显示结果显示告警说明SectionLossUnit：段损耗单位（dB/km或dB）迹线上显示结果－不/全部/只显示图形栅格单位Colors－颜色RESULTS-结果页事件表测试曲线标识线数据栏RESULTS-结果页-事件非反射事件：熔接点、弯曲反射事件：物理连接结束点：带反射结束、不带反射结束伪增益：双向测试，相加取平均RESULTS-结果页-鬼影曲线实际链路中不存在的反射分析鬼影，判断真正结束点辅助手动分析，获取链路参数鬼影RESULTS-事件表-关键信息事件标识距离信息连接损耗反射衰减系数段距离累计损耗非反射事件：熔接点、弯曲反射事件：物理连接结束点：带反射结束、不带反射结束关键信息：结束点位置：距离（长度）累计损耗衰减系数RESULTS-标识线应用-手动分析A、B标识线信息：横轴纵轴A到B信息：A-B：距离A-B：衰减系数A-B：累计损耗自动测试可以承担大部分测量任务，但不一定会获得最佳测试结果。手动测试是自动测试缺陷的弥补。在一些极限情况下，建议采用手动分析。如，短光纤、鬼影曲线等。尤其是自动分析未能准确判断出结束点曲线。RESULTS-操作事件/迹线：事件：标识线跳到下一个事件迹线：屏幕跳到下一条迹线缩放/移动：缩放：放大、缩小迹线；上下键纵轴，左右键横轴移动：移动迹线光标：A、B、AB迹线/表格：迹线和事件表的切换缩放自动：画面自动变换到有效迹线（非全范围）设置事件：人为添加事件（事件修正）高级：后续RESULTS－操作-高级多迹线显示手动测量斜率（衰减）回损反射五点法锁定/解除锁定（事件）删除/自动：原点键确认操作删除测量结果自动分析曲线OTDR测试原则测量方法双波长测量：区分熔接点和弯曲。双向测量：双向损耗结果和修正伪增益。接入光纤：辅助链路损耗测量。参数选择原则波长：首选1550nm测试。1550nm测试距离更远1550nm测试时对弯曲更加敏感脉宽：能够看到迹线全貌，尽量选小的脉宽。平均时间（采样时间）：30～180秒分辨率：采样间隔的设置，采样间隔越小距离精度越高。对曲线采样密集后，也会引入更多噪声，影响动态范围。一般选自动即可。双波长测试意义：分辨弯曲和熔接点原理：波长越大对微弯越敏感，也就是波长越大插入损耗值越大。方法：比较在两个波长上的测试结果，如果插入损耗值相差过大，可以判断为弯曲。常用测试方法a)b)d)c)小知识为什么微弯会有较大损耗？答：如果弯曲半径太小，会造成弯曲部位发生光泄露，造成光能量损失。所以会有较大损耗。可以使用“红光光源”验证。双向测试主要意义：修正伪增益带来的测试误差。方法：双向测量损耗值相加取平均（注意：不是绝对值相加，而是带有正负号相加；或者说应该绝对值相减取平均）其他意义：盲区的弥补双向曲线比较帮助修正漏测事件常用测试方法典型操作－选择OTDR选择OTDR模块功能进入SYSTEM，选择对应的功能模块，按