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文档简介
统计制程控制StatisticalProcessControl统计制程控制的起源1924年修华特博士(DrWAShewhart)在贝而试验室(BellLaboraty)工作期间发明了质量控制图.第二次世界大战前后,英、美两国将质量控制图的方法引进制造业,并应用于生产过程中美国汽车制造厂,例如,福特(FORD)通用(GM)等均对SPC十分重视,SPC因此得以广泛地推广.1939年修华特博士与戴明博士(DrDeming)合作写了一本『质量观点的统计方法』制程人设备材料方法环境我们工作的方式/资源的融合
产品
顾客输入生产过程输出什么是统计制程控制统计方法人设备材料方法环境我们工作的方式/资源的融合
产品
顾客输入生产过程输出使用统计技术来分析制程或其输出,以便采取适当的措施来使制程达到并保持统计管制状态,预防不良产生,从而提高制程能力.常用统计手法层别法直方图柏拉图特性要因图推移图
散布图管制图统计手法查检表管制图定议收集数据,根据制程过去之能力统计出管制界线,用以判断制程是否稳定的图表.管制中线管制上线管制下线(UCL)(CL)(LCL)确定测量系统,减少不必要的变化确定特性,客户需求,现有及潜在的问题,特性之间的相关关系计数值管制图与计量值管制图计数值数一数,点一点.如不良数,合格数等收集此类数据管制图表称为:计数值管制图计量值量一量,称一称.如高度、重量等收集此类数据管制图表称为:计量值管制图P管制图(n相等时)日期项目3/13/23/33/43/53/63/7…3/213/223/233/243/25合计检查数100100100100100100100…1001001001001002500不良数6425354…45473107不良率6%4%2%5%3%5%4%…4%5%4%7%3%/p8.44.30.2UCLCLLCL
计数值管制图结伦:点无超限且无规则性,制程在管制状态内P管制图管制界线统计公式(n相等时)ΣpnCL=P==2500107=0.0428(4.3%)ΣnUCL=p+3p(1-p)n=0.0428+30.0428(1-0.0428)100=0.0838(8.4%)LCL=p-3p(1-p)n=0.0428-30.0428(1-0.0428)100=0.0018(0.2%)Pn管制图
计数值管制图
批号1264567…2122232425合计检查数100100100100100100100…1001001001001002500不良数4345210…31142627.142.480PnUCLCLLCLPn管制图管制界线统计公式CL=Pn==2562=2.48,KUCL=Pn+3Pn(1-p)=7.14UCL=Pn-3Pn(1-p)=0ΣPnC管制图
计数值管制图批数1234567…2122232425合计污点数4116251…72646949.583.760CUCLCLLCL抽样数:20PCSC管制图管制界线统计公式CL=C==2594=3.76KUCL=C+3C=9.58ΣCLCL=C-3C=0U管制图
计数值管制图日期1/22/23/24/25/26/27/2…21/222/223/224/225/2合计样本大小1.01.01.51.51.31.31.3…2.02.01.71.71.737.5缺点数4686742810653144单位缺点数4.06.05.34.05.43.11.5…4.05.03.52.91.7/UCL9.79.78.68.69.09.09.0…8.08.08.38.38.3/LCL0000000…00000/U1040UCLCLLCLU管制图管制界线统计公式CL=U==37.5144=3.84UCL=U+3UΣCiΣniniLCL=U-3UniCi:样本数中的缺点数ni:个别样本数计数值管制图的选择计数值管制图是不良品而不是缺点是不良品而不是缺点不良数管制图不良率管制图缺点数管制图单位缺点数管制图U管制图P管制图C管制图Pn管制图样本数是否为一固定数否是否是否是日期项目12/112/212/312/412/512/612/712/2112/2212/2312/2412/25X17.66.97.07.37.26.08.4…6.85.76.46.46.8X26.76.97.36.56.46.36.0…5.56.37.26.55.2X36.86.96.95.36.56.57.8…6.06.86.46.35.4X46.27.07.06.46.46.27.2…5.95.36.67.55.5X56.15.87.86.06.06.36.8…6.16.85.85.85.6X6.76.47.26.36.56.37.2…6.16.26.56.55.7R1.51.40.92.01.20.52.4…1.31.11.41.71.6
计量值管制图(X-R管制图)7.316.47
5.633.061.45XR0UCLCLLCLUCLCLLCL结伦:点有无超限X稍偏大或偏小制程能力足够否不良达多少变异(标准偏差)太大要缩小X-R管制图管制界线统计公式ΣXKX==25161.7=6.47,ΣRKR==2536.3=1.45CL==6.47XUCL=+ A2R=6.47+0.577×1.45=7.31XLCL=- A2R=6.47-0.577×1.45=5.63XCL==1.45RUCL=D4R=2.115×1.45=3.06D3R=0LCL=X图R图日期项目12/112/212/312/412/512/612/712/2112/2212/2312/2412/25X17.66.97.07.37.26.08.4…6.85.76.46.46.8X26.76.97.36.56.46.36.0…5.56.37.26.55.2X36.86.96.95.36.56.57.8…6.06.86.46.35.4X46.27.07.06.46.46.27.2…5.95.36.67.55.5X56.15.87.86.06.06.36.8…6.16.85.85.85.6X66.46.36.36.56.46.36.36.16.56.36.56.1X76.26.46.26.26.46.26.56.26.36.26.46.0X6.576.606.936.316.476.267.006.096.246.416.495.80S0.530.450.550.600.360.150.860.390.560.430.510.54
计量值管制图(X-S管制图)7.616.43
5.250.920.49XS0.058UCLCLLCLUCLCLLCLX-S管制图管制界线统计公式ΣXKX==ΣSKS==CL==XUCL=+ A3S=XLCL=- A3S=XCL==SUCL=B4S=B3S=LCL=X图S图0.496.436.436.43+1.182=7.6126.43-1.182=5.2480.490.118×0.49=0.057821.882×0.49=0.922
计量值管制图(X-Rs管制图)日期项目12/112/212/312/412/512/612/7…12/2112/2212/2312/2412/25X911798138…111281310RS242157…2145317.710.52.828.802.7XRsUCLCLLCLUCLCLLCLX-Rs管制图管制界线统计公式CL=X=10.5ΣXn=10.5ΣRKRs==2.7X=UCL=X+2.66Rs=10.5+2.66×2.7=17.70UCL=X+2.66Rs=10.5+2.66×2.7=17.70LCL=X-2.66Rs=10.5-2.66×2.7=2.82CL=Rs=2.7UCL=D4Rs=3.27×2.7=8.83LCL=D3Rs=0X图Rs图计量值管制图选择平均值-全距管制图平均值-标准偏差管制图个别值-移动全距X-R管制图X-S管制图X-RS管制图检查抽样数目≦6=1≧7管制图正确判读制程在管制状态且分布无异常.UCLCLLCL连点(RUNS)制程在非管制状态Runof3Runof4Runof7Centralline在中心线的任何一方,有联机的点子就称为连点如果连点的数目等于七或以上,我们便可总结在制程中,有不正常的因素存在制程在非管制状态趋势(TRENDS)如果有连续的点子上升或下降,我们便称之为趋势我考虑如果有连练七个点子的上升或下降趋势时,
制程中会有不正常的因素存在制程在非管制状态周期性(PERIODCITY)如果点子显示相同的转变型)(即升或降)出现在相同的时间差别时,即点子的轨迹有规律地变化,我们便称之为周期性的型态制程在非管制状态紧靠(HUGGING)UCLCLUCL}1/3}1/3}1/3}1/3}1/3}当点子紧靠制界限时,我们便称之为界限紧靠制程在非管制状态水平转变(SUDDENSHIFTINLEVEL)因点子的型态急趋于上升或下降时,而产生一个新的水平实习题区域A区域B区域C区域C区域B区域A上控制界限(UCL)中位线(CL)下控制界限(UCL)制程能力计算10795103100971011049810110210196107103101103981059911092989710010610510810910110494104112105109103102989910310210095999610297103106102标准偏差σ?制程能力指数CP?制程能力偏差度CPK?制程能力准确度Ca?规格:100±102σ=Σxi-(Σxi)/nn-1Σ加起来之意n数据个数Σxi将每个值加起来xi将每个值平方Σxi将每个值平方后再加起来(Σxi)将每个值加起来后平方2222CP=USL(上规格)-LSL(下规格)6σCa=X-TOT(上规格-下规格)/2CPK=CP(1-Ca)To:表示为规格中心×100%制程能力与CP、CPK关系
工序表现CP、CPK
制程状况
坏品率PPM小于1.00能力不足够2700或以上1.00-1.33勉强可生产2700至63.3
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