基于SAT的数字电路测试生成算法研究的开题报告

基于SAT的数字电路测试生成算法研究的开题报告一、选题背景数字电路在现代电子技术中应用十分广泛，包括计算机、通信、控制等领域，由于数字电路中元件数目多、电路复杂度高，在验证和测试过程中会面临很多挑战，因此测试数字电路的正确性是至关重要的。常见的数字电路测试方法有模拟和基于SAT的方法。在模拟方法中，需要使用大量的模拟器进行测试，需要消耗很大的时间和资源成本，而且可能无法涵盖所有的测试场景；基于SAT的测试方法能够获得完整的测试结果，可以有效地消除假测和遗漏测试，具有高效、自动化等优点。二、研究内容本课题主要研究基于SAT的数字电路测试生成算法。具体内容包括：1.研究SAT求解器的基本原理和SAT可满足性检验的相关算法。2.研究数字电路测试的基本原理，包括布尔可满足性问题的描述、测试用例生成、性质规约等内容。3.基于SAT的数字电路测试生成算法的研究，包括基于约束求解的算法、基于模型检测的算法等。4.实验验证，通过实验验证算法的正确性和可行性。三、研究意义数字电路测试是保证数字电路正确性的关键环节。基于SAT的数字电路测试生成算法具有高效、自动化等优点，能够有效地提高数字电路测试的质量和效率，减少测试过程的时间、成本。因此，该算法的研究对于数字电路设计和验证具有十分重要的意义。四、研究方法本课题主要采用文献研究和实验验证的方法。首先，在文献研究的基础上了解SAT求解器和数字电路测试的基本原理和相关算法，以此为基础，进一步探究基于SAT的数字电路测试生成算法。然后，通过实验验证算法的正确性和可行性。五、预期成果本研究的预期成果包括：1.一份详细的论文，阐述了基于SAT的数字电路测试生成算法的设计和实现过程以及实验结果。2.一个基于SAT的数字电路测试生成算法的软件实现，能够对数字电路进行测试用例的生成，提高数字电路测试效率和质量。3.为数字电路测试方法的进一步研究提供参考。六、进度安排第一阶段：2022年9月-2022年11月1.了解SAT求解器和数字电路测试的基本原理；2.学习布尔可满足性问题的描述、测试用例生成和性质规约等内容；3.阅读相关文献。第二阶段：2022年12月-2023年3月1.研究基于SAT的数字电路测试生成算法；2.实现原型算法并进行测试；3.编写论文。第三阶段：2023年4月-2023年6月1.进行实验验证；2.修改完善算法，并进行优化。第四阶段：2023年7月-2023年9月1.撰写最终论文；2.进行答辩和评审。七、参考文献[1]江鹏,王永发,肖志方.数字电路测试的基本方法及几种典型算法分析[J].计算机工程与科学,2013,35(07):1-6.[2]E.Clarke,O.Grumberg,andD.Peled.Modelchecking[M].MITpress,2000.[3]M.A.ThorntonandR.K.Brayton.Salem:Ascalablesatisfiabilitysolverforcombinationallogic[M].Springer,Berlin,Heidelberg,2001.[4]C.Wang,S.Gao,andX.Hu.ASAT-basedalgorithmforfunctionaltestpatterngenerationofcombinationalcircuits[J].JournalofCircuits,SystemsandComputers,2013,22