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文档简介

产生条件:3射线管构造:X射线的本质:X布拉格方程:X射线衍射法：3种，注意区别：单晶/多晶，θ变/不变，λ变/洛伦兹因素：衍射的积分强度（半高宽，最高峰圆柱试样（德拜法）5.6X射线Z阳≤Z样Z样<40,Z阳=Z样-Z样>40,Z阳=Z样-管电压：3-5K系临界激发电压特征谱线与连续谱线比值最大XRD测角仪:1:2谱2θsinθsinθ平方sinθ平方比值确定结构（sc，bcc，fcc分:bccsc）sinθd，点阵参数的测定：3种方法：图解外推，最小二乘（最准结构：3其中电子光学系统，3部分（从上到下位置x射线衍射的区别：4选区电子衍射步骤：3Rd+hkla薄膜样品制样过程：3应变场衬度（位错特征XSEM结构：3其中电子光学系统：3

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