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文档简介

全膜电容器热稳定试验研究严玉婷1，倪学锋2(1武汉大学99575班，武汉430072；

2武汉高压研究所，武汉430074)

摘

要：全膜电容器由于绝缘性能优良，比特性远优于其它介质电容器。但正因为如此，其散热面积也远小于其它介质电容器。因此，其热的稳定特性并不一定就优于其它电容器。本文通过对电容器比例单元热稳定性能的试验研究，确定了内部最热点与外壳最热点的关系，为更好地做好电容器热稳定性能试验提供了参考依据。

关键词：电容器；温升；介质损耗0前言

由于全膜电容器优良的介电性能和比特性，近年来全膜电容器已获得越来越广泛的使用。大有替代其它介质电容器的势头。虽然全膜电容器的介质损耗小于膜纸电容器，但全膜电容器的体积和表面积也小于膜纸电容器。因此，全膜电容器的热稳定性能不一定就较膜纸电容器好，这一点已从耐久性试验和运行中得到证实。

然而全膜电容器的热稳定试验一直无深入的试验研究，而一直沿用膜纸电容器的经验数据。由于全膜电容器同膜纸电容器相比，不仅介质变了，而且结构方式也变了。因此，其热过程显然是会有差别的，这种差别将直接影响热稳定试验的试验结果。本文通过在电容器内预埋热电偶和控制注入能量，找出了内部最热点、外壳最热点等部分的温升值同介质损耗量间的相互关系。为科学、准确的进行全膜电容器的热稳定试验提供了参考依据。

以介损为0.01%时的电容器为例，外包

式中：d1、d2—外包封厚和油隙厚；

由(2)式分别可计算出介损为0.02%、0.03%下的温差值分别为11.2℃和16.8℃。

同室温条件下试验结果相比，计算结果偏小较多，但同烘箱内试验结果相比较接近。这主要是在室温条件下，外壳散热主要是对流散热，对流散热可用函数式(3)表示：

Q=f(Δtαdβ)(3)

温度随距离变化激剧变化，因此采用有尺寸的铂电阻(Φ3mm圆柱体)测温，所测得值偏小，致使测量所得温升值较计算值大，而烘箱中对流散热作用小于室温条件下，因此，所测温升值与计算值接近。

另一现象是在温度较低时，电容器最热点与外壳最热点的温差值基本上同介损成比例关系。但随着温度的升高，这种比例关系不再存在，而趋于变化变缓，这可能同随温度升高后，其它散热方式的作用增大有关。但从0.01%～0.03%介损条件下的试验结果看，以15℃控制热稳定试验中外壳同内部最热点温差之值，对于介质损耗不大于0.03%的电容器是合理的，这不仅试验是如此，计算结果亦较接近。

4结论

4.1电容器的热稳定试验中，电容器内最热点与外壳最热点之间的温差值，同介损的大小关系密切，介损越大，这个温差值也越大。

4.2电容器的热稳定试验中，以15℃作为内部最热点同外壳最热点的温度之差值，对介损不大于0.03%的电容器是合理的。参考文献［1］秦允豪热学［M］高等教育出版社

［2］GB/T

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