品质可靠性测试标准

品质可靠性测试标准品质可靠性测试标准第第#页共19页侧键测试测试环境：室温（20~25°C）；测试目的：侧键寿命测试测试数量：2台手机测试方法：将手机设置成关机状态固定在测试夹具上以7N的力度对侧键进行6万次按压按键测试。进行到每1万次时各检查手机按键弹性及功能一次。检验标准：手机按键弹性及功能正常，手机按键弹性及功能正常，丝印无掉色按键无破裂，塌陷。按键表面划伤可接受。I/O口插拔测试测试环境：室温（20-25C）；测试目的：充电器插拔寿命测试测试数量：4台手机。试验方法：将充电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机至充电界面显示正常后，拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次。进行到2000次、2500次和3000次时进行中间/结束检查一次。完成后进行1000次人手插拔。检验标准：I/O接口无损坏，焊盘无脱落，充电功能正常。无异常手感。手写笔插拔及拉拔测试测试环境：室温（20-25C）；测试目的：手写笔插拔，拉拔寿命测试测试数量：2台手机。试验方法：1,将手机处于开机状态，笔插在手机笔插孔内，然后拔出，反复20，000次。进行到每5000次时检查手机笔插入拔出结构功能、外壳及笔是否正常。手写笔固定一头，另一头作伸缩20,000次。检验标准：插入拔出结构功能、外壳及笔均正常。手写笔伸缩自如，允许有沙沙的摩擦声，无漏油，镀层无破损。点击试验试验条件：触摸屏测试仪（手机自带的手写笔）测试目的：触摸屏点击寿命测试样品数量：2台试验方法：将手机设置为开机状态，点击LCD的中心位置250，000次，点击力度为150g；点击速度：1次/秒；（点击力度可按规格书要求设定）检验标准：不应出现触屏失灵，书写缺划，漂移，电性能不良现象；表面不应有损伤，凹点（对第一次引进的供应商或更换材质应按其规格书进行测试）。划线试验试验条件：触摸屏测试仪，（手机自带的写笔）测试目的：触摸屏划线疲劳测试样品数量：2台试验方法：将手机设置为开机状态，在同一位置划线至少100,000次，力度为150g；滑行速度：30mm/s滑行长度：25mm检验标准：不应出现触屏失灵，书写缺划，漂移，电性能不良现象；表面允许有划痕,不应

有划伤。(对第一次引进的供应商或更换材质应按其规格书进行测试)。热封强度测试测试环境：室温(20-25°C)测试目的：触屏封胶强度样品数量：2台试验方法：用拉力计对触摸屏的封胶X/Y/Z方向作拉力测试，要求Fx>2Kg,Fy>500g,Fz>150g拉力保持1分钟检验标准：不允许脱胶电池/电池盖拆装测试测试环境：室温(20-25C)；测试目的：电池/电池盖拆装寿命测试测试数量：2台。试验方法：将电池/电池盖反复拆装2000次。进行到500次、800次和1000次时检查手机及电池/电池盖各项功能、及外观是否正常。检验标准：手机及电池卡扣功能正常无变形，电池盖配合手感良好，与壳体有磨痕可接受，不允许与电池表面有磨痕。电池触片、电池连接器应无下陷、变形的现象，电池金手指在拆装10次以内不允许出现磨痕(金属电池盖拆装次数可为1000次)。SIM卡拆装测试测试环境：室温(20~25C)；测试目的：SIM卡拆装寿命测试测试数量：2台手机。试验方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新装上，反复1000次，每插拔100次检查开机是否正常，读卡信息正常。检验标准：SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常无下陷、变形，手机读卡功能使用正常。存储卡插拔测试测试环境：室温(20~25C)；测试目的：存储卡插拔寿命测试测试数量：2台手机。试验方法：插上存储卡，待手机屏幕出现存储卡标志，然后取下存储卡，再重新装上，反复1000次，每插拔100次需进入卡内测试存储的数据能否正常读取。检验标准：存储卡触片、自锁开关正常，手机存储卡检测功能及读卡功能使用正常。耳机插拔测试(HeadsetTest)测试环境：室温(20~25C)；测试目的：耳机插拔寿命测试测试数量：2台手机。试验方法：将手机处于开机状态，耳机插在耳机插孔内，然后拔出，反复3000次。进行到2000、2500次和3000次时各检查一次。完成后人手1000次检验标准：实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无杂音（通话过程中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。铃声老化测试测试环境：室温（20~25°C）；测试目的：扬声器抗大音量连续冲击的能力样机数量：12台试验方法：音量调到最大，选取《superstar》《独家试唱》mp3歌曲声或声音响度最大铃声，使手机一直处于MP3播放或响铃状态，连续工作5天。检验标准：手机SPK声音正常，无破音、杂音、声小及无声。听筒老化测试测试环境：室温（20~25°C）；测试目的：听筒抗大音量连续冲击的能力样机数量：12台试验方法：听筒音量调至最大，对方彩铃选择《superstar》《独家试唱》或声音响度最大的彩铃声，样机一直处于拔号响铃状态，连续工作5天（或采用粉红噪声单体老化）。检验标准：手机听筒声音正常，无破音、杂音、声小及无声。振子寿命测试测试环境：室温（20~25°C）；测试目的：振动马达的寿命测试样机数量：3台试验方法：将手机装入电池并插上旅充，然后开机，进入测试模式，选择振动测试，使其连续振动72H,或振动马达单体老化（振2秒停1秒，共72H）每隔10H检查基本功能一次。试验标准：整机振动功能正常，无停振或振动杂音的问题。摄像头测试（选作）测试环境：室温（20~25°C）；测试目的：摄像头寿命测试样机数量：2台试验方法：将手机装入电池并插上旅充，然后开机进入摄像状态（模式），持续72H，每隔10H检查一次。试验标准：摄像功能正常，无摄像死机及花屏等不良。LED灯老化测试（选作）测试环境：室温（20~25°C）；测试目的：LED寿命测试样机数量：2台试验方法：将手机装入电池并插上旅充，然后开机，并将LED设为常亮，持续72H,每隔10H检查一次。试验标准：LED灯功能正常，无灯暗、不亮等不良胶塞拉力测试环境：室温（20~25°C）测试目的：检验保护I/O端口的胶塞是否易掉.样机数量：2台试验方法：用拉力测试仪拔除胶塞，可通过lkg拉力.试验标准：胶塞无脱落，断。按键拉力测试环境：室温（20~25C）测试目的：验证按键粘贴强度的可靠性样机数量：2台试验方法：用502胶水将棉线均匀覆盖粘贴在待测试按键上，静止一段时间待胶水充分粘合后，将棉线的一头固定在拉力计上，使用1.5kg的拉力持续5秒钟（双面胶粘合的按键可以0.7Kg为准）.试验标准：要求按键帽无脱落，允许硅胶撕裂。数据线摇摆测试环境：室温（20~25C）测试目的：数据线端口可靠性样机数量：2台试验方法：两固定点之间距离60cm（不足60cm时以实际能达到的最长线计算），以一90度与+90度的角度，插头端承受吊重500g，每分钟来回摇摆30次，要求测试数量总计1000次试验标准：测试后要求插头摇晃接头不能有任何接触不良和功能异常。耳机线摇摆测试环境：室温（20~25C）测试目的：耳机线端口可靠性样机数量：2台试验方法：两固定点之间距离60cm（不足60cm时以实际能达到的最长线计算），以一60度与+60度的角度，插头端承受吊重300g，耳壳端承受吊重200g，mic端承受吊重200g。每分钟来回摇摆30次，要求测试数量总计3000次。（单线以200g,双线以300g为摇摆标准）试验标准：测试后要求插头、MIC壳、喇叭处线材不能断裂、明显磨损、通话中用手摇晃3处接头不能有任何接触不良和功能异常。同时符合性能要求。锌合金高温存储测试环境：室温（20~25C）测试目的：镀层高温性能样机数量：2台试验方法：锌合金高温存储150°C,2小时，铜材高温存储250°C，钢材高温存储280（主要针对渡金，PVD）试验标准：镀层胶落，起皮，凸点，变色安全器件测试充电器性能测试测试环境：室温（20~25C）测试目的：漏电及产品安全样机数量：8台试验方法：1•过压：100V、220V、240V满载时，输入一个高于6.8V到低于10V的直流电压，自动保护。过流保护：输入100V、220V、240V,输出负载达到650-900mA之间。自动保护电压小于IV。绝缘强度AC3750V/DC500V,1min.绝缘电阻＞50兆欧。跌落1m,12次。输出曲线恒压模式：0.0A－0.650A;4.75－5.25V恒流模式:0.300-0.900A;0-5.25V6•短路保护输出电流W600mA。7•输入高压保护:分别输入电压264、300V,且满载，应能正常工作。8•输入低压保护：输入电压分别为：60、90V满载（CV模式），正常工作48H。9.效率输入电压94V、264V分别加满载效率值在60%以上（应达到泰尔要求）。其它参见《旅行充电器技术规范》要求。试验标准：符合《旅行充电器技术规范》要求。电池性能测试测试环境：室温（20~25C）测试目的：漏电及产品安全样机数量：8台试验方法：1.常温以0.2C放电，时间大于5h常温以1C放电时间大于51min恒湿40°C,93%.48h后，1C放电大于36分钟高温60°C存储2h后，1C放电大于51min低温-20°C存储16h后，0.2C放电大于3h自由跌落1m,每个面2次，再进行1放电时间大于51min电池容量测试（测试的容量大于电池额定容量）保护板盐雾测试（参照来料盐雾测试标准）其它参见《电池技术规范》试验标准：符合《电池技术规范》要求。电池鼓胀测试测试环境：(35°C,90%RH)测试目的：电池是否有安全隐患样机数量：100台试验方法：取100片电池，充电到4.1V，放置到温度为35C，湿度在90%RH的环境下，放置15天。试验标准：电池无鼓胀现象。最终检验可靠性实验后的检验最终检验不仅要对样机进行