PCB维修技巧使用短路QTECH追踪仪

内容一.维修实例二.PCB检修的一般步骤及不同测试的分析处理方法三.使用短路追踪仪查找电路板的四.总线争用问题五.输出负载接电容六.功能学习/比较错误该芯片与一个电阻排和置位元开关联短路故障是由于置位元开关对地接修技巧七.计数器件产生的时序错误八.触发器产生的时序错误之一九.触发器产生的时序错误之二十.器件没有完全测试修实例4、在没有好板做参考比较的情况在电路设计时只使用了其中的一部分管脚出现悬空状态(FLT)般显示为高阻状态(阻值大于1兆欧姆)。器件离线测试时，如果不接TTL空状态(FLT)。本示例的实际故障原因是该单稳谐振器由于功能损坏而不能使电容正常放电。意：任何节点的对地阻抗都不能小于5-10欧姆(除非该节点真正短路到地冲驱动器在逻辑低状态下的阻抗大约当通过测试仪的供电夹具和被测时会发现被测芯片电源脚的实测电压芯片管脚的氧化使得测试仪的供电夹在线测试中如果在管脚状态视窗中某输入脚显示“FLT”，表示该脚为通过与其它输入脚的状态做比不可能为高阻状态，因为如果高阻的ICFT，其第7脚显示“FLT”，另一个相同的输入脚(第15脚)显示的是正常的逻辑电平(对地阻阻状态)，并且没有翻转动作，该阻值小于正常的缓冲驱动器输出脚在逻辑1千欧姆)。这种只在被测板加电状态下才出逻辑低时应能够吸收电流，在逻辑高时，它输出电流到扇出器件的输入脚。如果被测器件在通电状态下内部表分别测量被测器件输出脚对地的电阻和所接扇出器件输入脚对地的电测板的供电地端，另一只探笔先接到阻是90毫欧姆，然后再接到另一个下面的问题是确定真正短路点是之上的部位，读出该脚对地的阻值(大约10毫欧姆)，然后再把探阻值(大约6毫欧姆)。该结果表明真36在线功能测试系统的主要制约因素就是其反向驱动器的吸收/施放电流能力过强，从而遮盖了被测芯片输入脚出现的故障现象。例如，大多数芯片的输入脚阻抗都很高(大于1兆欧姆)，如果输入脚内部功能损坏，则该脚阻抗可能降低到大约QT200能够驱动8欧姆以上的节点(小于8欧姆视为短路)，这是本系统的主要问(一)PCB检修一般步骤下下一个器件测试通过在在线功能测试1检查芯片编号、测试夹测试失败2检查管脚阻抗4调整测试时基和门限值后重新测试检查芯片型号类检查芯片型号类别器件没有完全测试状态试(二)出现不同测试结果的处理方法1)查看测试夹具是否接错了芯时钟,非法连接)状态视窗查看是否有开路管脚(显示HIZ)，是否测出电源管脚。纠正这些题后重新测试。误的管脚阻抗与另外相同功能的管脚电时测量的对地阻抗)。3)如果比较的阻抗大致相等，则调低测试时基或门限值，然后再测一果调整时基或门限值后的测试能够通有损坏，此时即可转到测试下一个芯如果调整时基或门限值后测试仍未通4)如果从夹具状态中看出测试失败的原因是由于输出脚不能达到正常的逻辑电平，则调低测试门限值后再5)比较测出的各输出脚对地阻抗，如果不加电测量的阻抗大致相等，而加电时测量出现测试错误的输出脚某个输出脚的阻抗明显低于其它输出扁口钳钳断被测芯片上出现测试错误2出现“器件没有完全测试”结果时1)当被测芯片的输出脚在测试过程中不发生翻转(即在测试窗口中保持上的波形视窗并不标注任何测试错2)如果使用者有被测板的电路原3)如果用户已学习过好板，那么所学芯片的正常连接状态也将记录下坏板出现非法连接；如果比较结果相同，则可不考虑“器件没有完全测试”电路上设计为“线或”状态，那么该芯片的输出可能会受到与其存在线或片的输入逻辑使其输出固定为低电过比较测试芯片上所有相同功能管脚三、使用短路追踪仪查找电路板的短路故障如果近似为零，可以使用毫欧表，通过如果近似为零，可以使用毫欧表，通过逻辑状态正好是低电平，其阻抗不会很逻辑状态正好是低电平，其阻抗不会很第4脚没有翻转，测试失败，使用者应将管脚状态视窗切换到阻抗显示模式，右面两个图片说明了“两点定位法”的操作步骤：首先把毫欧表的测量探针放在被测一个阻值；然后再把探针放在被测脚焊点之外3-4毫米处的连接被测脚的附铜线上(如下图)，再读出一个阻值。如果前一个阻值小于后一个阻值，则说明短路点在被测芯片的内部驱动电路上。此时无疑应更换该芯片。如果前一个阻值大于后一个阻值，则说明短路点不在被测芯片的内部，而是在芯片外部与其相连的其它芯片上，或者是两者之间的使用毫欧表所测短路阻值的大小视短路程度而定，但是只要使用“两点定位法”测出的前后两个阻值的大小不同，就能够确定真正短路点的部位。第三种情况：路(输入脚内部三极管击穿)，但是对不能翻转而使测试失败。切换夹具视窗输出脚的阻抗，发现第4脚阻抗明显低于其它脚的阻抗(近似为零)。此时使用者并不能确定真正故障原因就是U1，步测量。首先采用“两点定位法”确定可通过被测板的电路图或使用Qtech的的所有芯片。然后用短路追踪仪分别测量这些芯片上与U1第4脚相连管脚的对不过，如果此时为了更加有把握而对脚内部对地短路，但仍有一定阻值，只要该阻值大于测试仪的最小可驱动阻话，那么对该芯片的功能测试就能通输入脚短路到地，其功能测试仍然能够通过。对于这种情况，使用者只能通过与学习好板的结果相比较的办法来确定故障点了。然而对本例来说，只要测出损坏。因为电路设计者不可能将芯片的输出脚短路到地。此时测试U1将会测试失败(因为欧姆左右。为了找出不完全短路的确切部位，普通的毫欧表已无能为力了，因设计了调节测量零位的功能，能够屏蔽四、总线争用问题对总线器件(如74245)进行在线功能测试时，由于其双向输入/输出脚可能受到通过总线与其相连的其它器件的影响而使测试失败。总线器件在被测板加电后可能会处于使能状态，使其输出/输入脚不在三态高阻状11,16和17脚使用者必须能够分辨清楚测试失败是由于总线争用引起，还是因器件功能损坏所致。本例中，测试失败的原因是总线争用。为了对器件进行完整测试，使用者必须隔离有关总线器件，使其输出脚处于高阻状态，对被测器件不产生影响。下图中芯片的第3脚在作为输出脚时受到相连芯片的下拉作用而不能产生翻放放大后的波形题。 (一)如何判断哪个芯片引起总线争用而必须设置隔离呢？a,使能端接其它芯片的输出端;b,两个或两个以上的总线芯片的使二类总线芯片，则只设置一个隔离通片的好坏)，如果是，则不考虑对第三采取措施对第三类总线芯片进行隔离设置的总线芯片就是产生总线争用的芯片。重新接上该芯片的隔离通道，继续按上述方法检验其它未确定的总时将给予很大帮助)。 (二)如何利用系统的数位示波器功能判断总线器件的好坏？在测试总线器件时，如果不能通过隔离方式判断器件的好坏，可利用本系统的最新功能---数位示波器(DSO)方式进行测试，基本操作方法如下：1)将被测板上焊下的晶体重新焊好，使板上有正常的时钟运行。2)连接测试探针到合适的通道上(注意：不同版本的系统软件所选的探针通道4)接通被测板供电电源5)依次将探针接到被测总线器件的不同管脚上，从荧幕上可看到被测管脚的实抗，这样可避免对晶振电路的影响。检测管脚是否处于悬空状态，可选择示波器阻抗为10K。如果管脚确实悬判断管脚的真正状态。用户应掌握的关键一点是，如果管脚在电路在被使用，则应能翻转；如果未被VT五、输出端接电容负载某些电路在设计上如果对工作速度的要求不高，就在驱动芯片的输出端接上电的毛刺干扰。对这种电路中的芯片进行在线功能测试时，右图中的第2,5,6,9,12等管脚出现测试错误，这些脚的输出象是被固定到逻辑高电位上。第6脚波形(存在阶梯形)好象是放电后才到了逻辑低电位；管脚状态出现这种测试结果，是由于被测芯片的输出端接了不同容量的电容器。第2脚为了验证芯片测试失败的原因是测电容在输出发生状态变化时能够有较仪能够自动识别出测试结果中的速度问题，适时提示使用者调整测试时基，以较慢的速度重新测试。在线功能测试中，如果由于某个管脚固定为高电平而使测试失败，可从以间回应电容的充放电过程。但是测试结果报告该脚输出有电平错误，对此可进一步六、功能学习和比较错误放放大波形则表示该脚处于开路状态，这时使用者应检查该脚焊点及对外的连接线是否正常。在夹具状态视窗中靠外边的阴影是当前测试的结果。图中显示出第1,4脚比较结果不对于总线器件，这种情况时常发线器件的使能端常常受到未知且不固定的逻辑电平的触发而使其输出状态也经常发生随机性的改变。出现这种情况时，使用者应对该器件重新测试几次，检查其管脚状态是否还有如果悬空脚在不断变化，这一般也不是问题。如果器件测试通过而有些管脚始相等，那么可以确定该器件没有问题。大，则表示在器件的I/0端存在问题。七、计数器产生的时序问题在检测计数器类器件(如7492)中也时常遇到与时序有关的问题，这是多数在a,异步设计;b,由于反向驱动电流而产生的噪声干扰;c,被测板上有自身的脉冲信号触发了被测器件。在此用户应明白：如果输出脚内部功能损坏，就不会有回应波形输出。因此通。结果并不稳定，再次测试有时又出现测试失败的结果。这是由该芯片的功能特性所于其抗干扰能力的差异而造成的。八、触发器产生的时序问题(示例一)右图示例中，测试失败的真正原因是由于芯片输出脚接了电容负载。电容的充放电作用使得输出波形出现异常。这种问题放电作用使得输出波形出现异常。这种问题可以通过降低测试速度(测试时基)脚输出波形的下降沿出现测试错误。5脚接了电容器件。变化的速度，所以造成测试失败。从右面放大的波形图中可清楚地看出这种时序上的问题。黄色波形是期望波形，浅兰色是实测波形，当实测波形与期望波形不一致时，系统将报告测试失败。九、触发器产生的时序问题(示例二)示例中出现触发器测试失败的原因是噪显示第9脚(时钟脚)噪声毛刺信号在下一个时钟上升沿之前即触发了第4触发波形是芯片在当前电路结构状态下的期消除噪声信号对测试芯片的影响。类器件